阻抗测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种阻抗测试装置，包括检测电路，所述检测电路中串接有交流电源、表头、测试电阻，以及测试时供绕组串入该检测电路的绕组接口；所述测试电阻与一个短路开关相并联；所述表头将测量到的电流值输出给寄存器，所述寄存器耦合于运算器，所述运算器运算出被测绕组的电阻值与电感值，并输送给显示屏。该阻抗测试装置不仅结构简单，并且可以方便而准确地测量出绕组的电阻值和电感值。
【专利说明】阻抗测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电机配件制造领域，特别地，是涉及一种电机绕组的阻抗测试装置。
【背景技术】
[0002]在电机生产领域，对于电机绕组的参数特性，通常需要进行检测，一般地，只是将绕组接入检测电路，然后测试出绕组的综合阻抗特性，即电阻和电感的合值，而这种综合参数却不能细致地掌握绕组的各方面性能，因此，不利于绕组的后续改进。最为理想的，当然是获得绕组的电阻和感抗的独立值，对于该种独立值的测试，目前只能先进行直流电测试，再进行交流电测试，然后再进行计算，其测试设备复杂，操作步骤繁琐，不利于快速化工业生产。
实用新型内容
[0003]针对上述问题，本实用新型的目的在于提供一种阻抗测试装置，该阻抗测试装置不仅结构简单，并且可以方便而准确地测量出绕组的电阻值和电感值。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:该阻抗测试装置包括检测电路，所述检测电路中串接有交流电源、表头、测试电阻，以及测试时供绕组串入该检测电路的绕组接口 ；所述测试电阻与一个短路开关相并联；所述表头将测量到的电流值输出给寄存器，所述寄存器耦合于运算器，所述运算器运算出被测绕组的电阻值与电感值，并输送给显示屏。
[0005]作为优选，所述运算器还运算出被测绕组的综合阻抗值，输送给所述显示屏。
[0006]作为优选，所述运算器每输出一次数据给所述显示屏后，所述寄存器中的数据重置，以便为下一次测量做好准备。
[0007]作为优选，所述短路开关为一个电子开关，受控于所述寄存器，当寄存器接收到第一个电流值时，接通该电子开关；而在所述运算器每次读完寄存器中的数据后，又断开该电子开关，从而省去了人工操作的步骤。
[0008]本实用新型的有益效果在于:该阻抗测试装置在工作过程中，首先，断开所述短路开关，设所述交流电源的电压为U，角频率为W，测试电阻的阻值为R0，绕组的阻值为R1，电感为LI，则表头测量到的电流值Il=U/(R0+Rl+jwLl)①，其中，j为虚数单位；然后，断开所述短路开关，则表头测量到的电流值I2=U/(Rl+jwLl)②，联立方程①、②，由于I1、12、U、RO、w现在均是已知值，故仅联立后的方程组可以求出未知量Rl与LI，即绕组的电阻和电感；该阻抗测试装置不仅结构简单，并且可以方便而准确地测量出绕组的电阻值和电感值。
【专利附图】
【附图说明】
[0009]图1是本阻抗测试装置的电气结构示意图。【具体实施方式】
[0010]下面结合附图对本实用新型进行进一步说明:
[0011]如图1所示，该阻抗测试装置包括检测电路，所述检测电路中串接有交流电源1、表头2、测试电阻3，以及测试时供绕组串入该检测电路的绕组接口，图1中已串入绕组8 ;所述测试电阻3与一个短路开关7相并联；所述表头2将测量到的电流值输出给寄存器4，所述寄存器4耦合于运算器5，所述运算器5运算出被测绕组的电阻值与电感值，并输送给显示屏6 ;所述运算器5还运算出被测绕组8的综合阻抗值，输送给所述显示屏6 ;所述显示屏可以由七段数码管构成。
[0012]另外，所述运算器5每输出一次数据给所述显示屏6后，所述寄存器4中的数据重置，以便为下一次测量做好准备。
[0013]上述阻抗测试装置在工作过程中，首先，断开所述短路开关，设所述交流电源I的电压为U，角频率为W，测试电阻3的阻值为R0，绕组8的阻值为Rl，电感为LI，则表头2测量到的电流值Il=U/(RO+Rl+jwLl)①，其中，j为虚数单位；然后，断开所述短路开关7，则表头2测量到的电流值I2=U/(Rl+jwLl)②，联立方程①、②，由于Il、I2、U、R0、w现在均是已知值，故仅联立后的方程组可以求出未知量Rl与LI，即绕组的电阻和电感；
[0014]运算器5将Rl与LI输送给显示屏6的同时，输送|Rl+jwLl|的值，即为绕组8的综合阻抗值.[0015]该阻抗测试装置不仅结构简单，并且可以方便而准确地测量出绕组的电阻值和电感值。
[0016]以上所述仅为本实用新型的较佳方式，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种阻抗测试装置，该阻抗测试装置包括检测电路，其特征在于:所述检测电路中串接有交流电源(I)、表头(2)、测试电阻(3)，以及测试时供绕组串入该检测电路的绕组接口 ；所述测试电阻(3)与一个短路开关(7)相并联；所述表头(2)将测量到的电流值输出给寄存器(4)，所述寄存器耦合于运算器(5)，所述运算器(5)运算出被测绕组(8)的电阻值与电感值，并输送给显示屏(6)。
2.根据权利要求1所述的阻抗测试装置，其特征在于:所述运算器(5)还运算出被测绕组(8)的综合阻抗值，输送给所述显示屏(6)。
3.根据权利要求1或2所述的阻抗测试装置，其特征在于:所述运算器(5)每输出一次数据给所述显示屏(6)后，所述寄存器(4)中的数据重置。
4.根据权利要求1所述的阻抗测试装置，其特征在于:所述短路开关(7)为一个电子开关，受控于所述寄存器(4)，当寄存器接收到第一个电流值时，接通该电子开关(7);而在所述运算器(5)每次读完寄存器(4)中的数据后，又断开该电子开关(7)。
【文档编号】G01R27/14GK203595757SQ201320693884
【公开日】2014年5月14日 申请日期:2013年11月6日 优先权日:2013年11月6日
【发明者】马根昌 申请人:马根昌