比较细长织物测试材料的品质的制作方法

比较细长织物测试材料的品质的制作方法
【专利摘要】在用于比较细长织物测试材料(9)的品质的方法中确定第一测试材料的至少一个参数值。从第一测试材料的参数值和它沿着纵向方向的延伸量确定在事件场(4)中的事件的密度。基本上遵循在第一测试材料(9)上确定的事件的恒定密度的第一密度线(51，51＇)表示在事件场(4)中。除了第一密度线，还表示出遵循与第一密度线(51，51＇)相同的事件密度但至少部分涉及不同于第一测试材料的参考测试材料的参考密度线(56，56＇)。这样允许比较第一密度线(51，51＇)和参考密度线(56，56＇)的曲线。从密度线(51，51＇，56，56＇)的曲线的比较可以进行第一测试材料与参考测试材料的品质的比较。
【专利说明】比较细长织物测试材料的品质

【技术领域】
[0001] 本发明涉及织物品质控制领域。它根据独立权利要求的前序涉及用于比较细长织 物测试材料的品质的一种方法及一种装置。

【背景技术】
[0002] 大量各种装置已知用于检查或测试纱线。它们可以根据它们的应用归类为两种类 型，实验室测试（离线）和生产过程期间测试（在线）。如2005年5月Uster Technologies AG 的应用手册 " USTElf CLASSIMAT QUANTUM" 中描述， 申请人:的 USTElf CLASSIMAT QUANTUM系统被用于纱线缺陷例如较厚和较薄位置以及杂质的分类。根据其功能性，它是实 验室设备，因为在织物实验室中，它被用于样品的详细检查。然而组成它的设备主要发生在 生产中。被检查的纱线重新缠绕在手动绕线机的络纱头上并且利用清纱器测量头扫描。在 控制单元中和/或由车间计算机统计学地评价由清纱器测量头测量的纱线参数，例如在二 维分级图表中分级。
[0003] 二维分级图表，其也可以称为事件场，通常由具有横坐标和纵坐标的笛卡尔坐标 系生成。疵点长度沿着横坐标输入并且疵点幅度（每纱线长度的质量、纱线直径、纱线反 射率等与目标值的偏差）沿着纵坐标输入。这些轴的每个可以分成多个段，从而产生纱 线疵点的矩形分级系统。在USTliRuCLASSIMAT QUANTUM系统中，具有23或27等级。在 纱线测试期间确定的纱线缺陷被分类为相应的等级，并且单独为每个等级显示确定的纱 线缺陷的数量。因此完成的分级图表一方面给出纱线品质的印象，并且另一方面提供用 于确定纱线的清纱极限的定量基础。该分级图表的示例可以在提及的应用手册STHWe CLASSIMAT QUANTUM" 中和在专利说明书 US-5, 537, 811A 中找到。说明书 US-6, 374, 152B1 示出分级图表，其附加地示出散绘图，它的点代表确定的纱线缺陷，以及纱线缺陷的清纱极 限。US-6, 244, 030B1给出分级图表的示例，纱线的反射率沿着它的纵坐标输入。
[0004] 清纱器被用在纺纱机或绕线机中用于保证纱线品质。清纱的目的在于检测疵点例 如较厚位置、较薄位置或在纱线中的杂质，以提供根据专用品质标准的评价，以及以可选地 消除所述疵点。为此清纱器测量头包括测量狭缝，纱线沿着它的纵向方向从其穿过。用于 扫描运动纱线的至少一个传感器沿着测量狭缝设置。经常使用的传感器原理是电容性传感 器（例如ΕΡ-(Γ 924 ^ 513A1)或光学传感器（W0-93/13407A1)。清纱器测量头还包括用 于评价传感器信号以及用于将该信号与预定品质标准例如清纱极限进行比较的电子电路。 如果疵点位于清纱极限以下，那么它是可以容忍的。如果它位于清纱极限以上，那么它不可 以被容忍并且将被从纱线中去除，或者至少被记录。
[0005] W0-2010/078665Α1描述了用于表征沿着它的纵向方向运动的织物测试材料的一 种方法和一种装置。在该过程中，沿着它的纵向方向检测测试材料的一个特性的测量值。从 测量值确定测试材料的参数值。从测试材料的参数值和它沿着纵向方向的延伸量确定在事 件场中的事件的密度。在事件场中将测试材料主体图示地表示为一面积。该面积一方面由 横坐标并且另一方面由纵坐标、以及还由在事件场中基本上遵循恒定事件密度的线限定边 界。测试材料主体的图示允许操作者快速地确定测试材料的特征特性以及理性地确定清纱 极限。
[0006] US-6, 343, 508B1是基于允许一眼就观察到纱线的参数值并且根据它们的相关性 加权参数的目的的。为此，各种纱线参数显示在段节图表中，其中每个参数与段节相关。借 由单个段节的不同开度角发生加权。可以在段节图表中输入参数的相应参考值用于评价相 应纱线。参考值可以例如从USTER? statistics获得。USTER? statistics是由本保护权 利的 申请人:签发的织物品质数据的编辑物，其从织物原材料、中间产品和终端产品的世界 范围产品确定（参见CD-ROM i'丨/STliR1' CLASSIMAT QUANTUM"，第4.0版，Uster Technologies AG，2011)〇


【发明内容】

[0007] 本发明的目的在于提供允许简单比较细长织物测试材料的品质的一种方法和一 种装置。在这种情况下，术语"品质"表示例如沿着纵向方向的质量的波动，沿着纵向方向 的直径的波动、杂质含量、毛羽程度等的特征。
[0008] 这些和其他目的由独立权利要求中限定的根据本发明的方法和根据本发明的装 置实现。有利实施例提供在从属权利要求中。
[0009] 在根据本发明用于比较细长织物测试材料的方法中，沿着第一测试材料的纵向方 向检测第一测试材料的至少一个特性的测量值。从测量值确定第一测试材料的至少一个参 数值。提供事件场，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部分，它的横坐标指示 参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标指示参数值与目标值的偏差，以便所确定的 参数值和它们沿着纵向方向的延伸量可以被输入作为在事件场中的事件。确定在事件场中 的事件的密度。基本上遵循在第一测试材料上确定的事件的恒定密度的第一密度线表示在 事件场中。除了第一密度线以外，遵循与第一密度线相同的事件密度但至少部分涉及不同 于第一测试材料的参考测试材料的参考密度线图示在事件场中。
[0010]测试材料的参数可以例如是测试材料的每单位长度的质量、横向尺寸或杂质含 量。
[0011] 参考测试材料可以是不同于第一测试材料的第二真实测试材料。在这种情况下， 以与第一密度线相同的方式确定参考密度线。真实参考测试材料被沿着它的纵向方向测 量，从测量值确定至少一个参数值，从参数值确定事件密度，并且参考密度线基本上遵循在 参考测试材料上确定的事件的恒定含量。
[0012] 参考测试材料可以替代地是为了确定参考密度线之目的而形成的虚拟测试材料。 虚拟测试材料可以由一组至少两个真实测试材料形成。所述组可以还包含除了至少一个其 他真实测试材料以外的第一测试材料。测量至少两个真实测试材料，并且参考密度线限定 为所有确定的密度线或其子组的平均值。可以在平均计算中实施加权，例如在相应测试材 料的相应检测长度的基础上。在测量第一测试材料之前，不需要直接确定参考密度线。它 可以从品质参考文件例如本保护权利的 申请人:的USTT:K R'' STATISTICS获得。
[0013] 在优选实施例中至少部分由第一密度线和参考密度线限定边界的差分面积被在 事件场中图示地着重强调。该着重强调可以以这样的方式发生，差分面积与它的周围面积 图示地不同，特别是在于它具有与它的周围面积不同的颜色、不同的灰度阴影和/或不同 的图案。
[0014] 参考测试材料主体可以表示为在事件场中的一面积，该面积一方面由横坐标（41) 或者与其平行延伸的直线、另一方面由纵坐标或者与其平行延伸的直线、并且还由参考密 度线限定边界。表示参考测试材料主体的面积与它的周围面积图示地不同，特别是在于它 具有与它的周围面积不同的颜色、不同的灰度阴影和/或不同的图案。测试材料主体主要 从 TO-2010/078665A1 已知。
[0015] 如果恒定事件密度为在每IOOkm测试材料长度有500至2000个之间的事件，并且 优选地为每IOOkm测试材料长度有1000个事件是有利的。
[0016] 事件场的至少一部分可以由水平分级边界和竖直分级边界分割成事件的矩形等 级。
[0017] 本发明允许在事件场中，除了涉及参考测试材料的参考密度线和涉及第一测试材 料的第一密度线以外，还显示涉及第二测试材料的至少一个第二密度线。第一密度线、参考 密度线以及可选地附加表示的至少一个第二密度线互相图示地不同，特别是在于它们具有 不同的颜色、不同的灰度阴影、不同的厚度和/或不同的虚线符号。
[0018] 根据本发明的方法优选地在计算机上运行。
[0019] 本发明还包括一种计算机程序产品，具有存储在机器可读介质中、用于当计算机 程序产品在计算机上运行时实施根据本发明的方法的程序代码。
[0020] 根据本发明一种用于比较细长织物测试材料的品质的装置包含测量单元，其用于 检测沿着第一测试材料的纵向方向检测第一测试材料的至少一个特性的测量值。它还包含 连接到测量单元的评价单元，其设置用于从测量值确定第一测试材料的至少一个参数值， 用于提供事件场，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部分，它的横坐标指示 参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标指示参数值与目标值的偏差，以便所确定的 参数值和它们沿着纵向方向的延伸量可以被输入作为在事件场中的事件，以及用于确定在 事件场中的事件的密度。所述装置还包含连接到评价单元的输出单元，其用于显示事件场 和在事件场中的第一密度线，第一密度线基本上遵循在第一测试材料上确定的事件的恒定 密度。评价单元设置用于存储参考密度线，参考密度线遵循与第一密度线相同的事件密度 但至少部分涉及不同于第一测试材料的参考测试材料。输出单元设置用于同时表示第一密 度线和参考密度线。可以在该表示的基础上完成第一密度线和参考密度线的曲线的比较。
[0021] 术语"评价单元"在本说明书中表示功能性并且非必须性的物理单元。评价单元 可以包括执行所描述的评价能够的一个、两个或更多个物理设备。在优选实施例中，评价单 元包括用于测量单元的控制单元和连接到控制单元的车间计算机。评价可以至少部分已经 在测量单元中发生。
[0022] 输出单元可以例如是屏幕、触摸屏或打印机。
[0023] 测量单元包含用于检测第一测试材料的质量的电容性传感器和/或用于检测第 一测试材料的横向尺寸和/或杂质含量的光学传感器。
[0024] 本发明允许比较第一密度线和参考密度线的曲线。从密度线的曲线的比较可以完 成第一测试材料与参考测试材料的品质的比较。
[0025] 本发明还包括用于提供使用在如上所描述根据本发明的方法中的至少一个参考 密度线的方法。收集一组代表世界范围产品的相同类型参考测试材料。沿着参考测试材料 的纵向方向检测每个参考测试材料的至少一个特性的测量值。从测量值确定相应参考测试 材料的至少一个参数值。提供事件场，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部 分，它的横坐标指示参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标指示参数值与目标值的 偏差，以便所确定的参数值和它们沿着纵向方向的延伸量可以被输入作为在事件场中的事 件。确定在事件场中的事件的密度。为每个参考测试材料在事件场中确定密度线，其基本 上遵循在第一测试材料上确定的事件的恒定密度，该密度对于相同类型的每个参考测试材 料来说是相同的。关于所述确定密度线的百分比的至少一个百分比密度线表示在事件场中 作为参考密度线。
[0026] 如果恒定事件密度为在每IOOkm测试材料长度有500至2000个之间的事件，并且 优选地为每IOOkm测试材料长度有1000个事件是有利的。
[0027] 对应于5%、25%、50%、75%和95%的5个百分比密度线表示为一种类型参考测 试材料的参考密度线。
[0028] 本发明还包括一种品质参考文件，包含用于细长织物测试材料的品质数据。品质 参考文件包含根据上面所描述的方法提供的至少一个参考密度线。该品质参考文件的至少 一个参考密度线然后可以使用在根据本发明的方法中以相对于相同类型测试材料的世界 范围产品分类检查的测试材料的品质。

【专利附图】

【附图说明】
[0029] 下面将参考示意附图更详细地解释本发明。
[0030] 图1示意性表示根据本发明的装置。
[0031] 图2表示根据本发明具有两个密度线的事件场。
[0032] 图3表示根据本发明具有三个密度线的事件场以及另外测试材料主体。
[0033] 图4表示具有测试材料相对于世界范围纱线产品的品质分级的百分比的事件场。

【具体实施方式】
[0034] 图1示意性地表示用于实施根据本发明的方法的装置1。它包含用于检测沿着它 的纵向方向X运动的细长织物测试材料9 (例如纱线）的至少一个特性的测量值的测量单 元2。该测量单元2是已知的并且在此不需要更详细地解释。测量单元2基本上被设计为 清纱器测量头并且包含电容性传感器、光学传感器或其他传感器。还可以布置多个相似或 不同的传感器在测量单元2内。在电容性传感器的情况下，测量值是例如传感器或相应测 量电路的输出电压和/或输出电流，该电量是测试材料的相对介电常数的测量值。测量单 元2可以装备有用于初步评价测量数据的评价部件。它在第一数据线21上发出优选电输 出信号，该输出信号是测试材料9的质量、直径或其他特性的测量值。
[0035] 第一数据线21进入评价单元3,其设置用来评价测量单元2的输出信号。它为此 目的包含模拟和/或数字评价部件例如微处理器。它可以还包括另一个部件例如用于存储 数据的存储介质。评价单元3优选地是计算机。
[0036] 装置1还包含用于测量数据和/或评价结果的输出的输出单元33。输出单元33 借由第二数据线31连接到评价单元3。它可以例如设置为屏幕和/或打印机。装置1优选 地还包含用于由用户输入数据的输入单元34。输入单元34借由第三数据线32连接到评价 单元3并且可以例如是键盘或计算机鼠标。输出单元33和输入单元34可以组合在触摸屏 中。
[0037] 控制单元，其为了简化未显示在图1中，可以设置在评价单元3于测量单元2之 间。该控制单元使用来设置和控制测量单元2。它还部分接管由测量单元2检测的测量值 的评价。如下描述的评价可以发生在测量单元2中、在控制单元中和/或在评价单元3中。
[0038] 从检测的测量值确定织物测试材料9的至少一个参数值。该参数可以例如是每单 位长度第一测试材料9的质量，其从电容性传感器的输出信号获得。在第一测试材料9中 的事件91设计为在特定长度上与目标值偏离的参数值。该事件91的示例是较厚或较薄位 置，它每单位长度的质量与每单位长度的目标质量偏离。在纱线的情况下，每单位长度的目 标质量基本上对应于纱线支数。
[0039] 提供了如图2所示的事件场4,其包含二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一 部分。坐标系的横坐标41指示参数值沿着纵向方向的延伸量，例如疵点长度。纵坐标42指 示参数与目标值的偏差，例如疵点幅度。在该示例中参数是每单位长度第一测试材料9的 质量。事件场4的至少一部分由水平分级边界43和竖直分级边界44分割成事件的矩形等 级。
[0040] 测量了足够长度段的第一测试材料9。至少大约Ikm的测量长度称为"足够"。例 如IOkm或IOOkm的更长长度是优选的，因为它们统计学地提供更平均的结果。参数值和相 关疵点长度由测量单元2传输给评价单元3。在评价单元3中从它们确定在事件场4中事 件的密度，例如举例而言在US-6, 374, 152B1中所描述。因此可以以明确的方式给事件场4 的每个点分配事件密度。通过内插、外插、平滑和/或其他数字方法可以避免在以这样方式 确定的事件密度函数中可能由于测量误差或其他加工导致的过度陡峭局部变化。
[0041] 例如选择每IOOkm纱线长度有1000个事件的足够高事件密度。在事件场4中事件 密度与之关联的所有点的连接产生第一密度线51，51 '，其基本上遵循恒定事件密度。第 一密度线51，51 '表征检查的第一测试材料9。在图2上部中的第一密度线51对应于正疵 点幅度，即棉结、厚短位置和厚长位置，而在图2下部中的第一密度线51 '对应于负疵点幅 度，即较薄位置。事件场可以替代地仅包含正疵点幅度或仅包含负疵点幅度。
[0042] 根据本发明的方法，除了第一密度线51，51 '以外，还表示出参考密度线56， 56'。虽然参考密度线56,56'遵循与第一密度线51，51'相同的事件密度，但是它至少 部分涉及不同于第一测试材料9的参考测试材料（未示出）。参考密度线56, 56'和第一 密度线51，51 '优选地用不同方式画出，例如使用不同的虚线符号或使用不同的颜色。
[0043] 作为在事件场4中的同时表征的结果，可以比较第一密度线51，51 '和参考密度 线56,56'的曲线。在第一密度线51，51'和参考密度线56,56'的曲线之间的差值是 特别令人感兴趣的。可以这样着重强调该差值，图示地强调例如画上阴影或上色至少部分 由第一密度线51(或51')和参考密度线56(或56')限定边界的差分面积53、54(或 55)。从来自第一密度线51，5P和参考密度线56,56 ^的曲线的已确定差值得出关于在 第一测试材料9与参考测试材料的品质之间的差值的结论。在图2的示例中，在小疵点长 度即棉结和短疵点的区域中，第一密度线51基本上高于参考密度线56。另一方面在较大疵 点长度的区域中，第一密度线51位于参考密度线56下方。如果在图2的示例中密度线51， 56涉及纱线，那么比较允许得出这样的结论，第一纱线9比参考纱线产生更不稳定、模糊的 图片，但是另一方面导致更少的带条。在图2的下部（负疵点幅度）中，第一纱线9涉及较 薄位置比参考纱线更糟糕。
[0044] 此外，图2的事件场4表示参考测试材料主体，如从W0-2010/078665A1已知。参 考测试材料主体由面积6表示，面积6由横坐标42和参考密度线56, 56'限定边界。表示 参考测试材料主体的面积6的形状表征相应参考测试材料。位于参考测试材料主体6中的 事件属于参考测试材料并且不应该从参考测试材料去除。
[0045] 图3表示与图2的事件场4相似的事件场4。事件场4表示参考密度线56, 56 '。 在该实施例中代表参考测试材料的面积6用灰色阴影着重强调。替代的，可以设置由不同 于它的周围面积的颜色或图案。第一密度线51，51'表征检查的第一测试材料9。除了第 一密度线51，51 '以外，图3表示第二密度线52, 52'，其涉及不同于第一测试材料9的第 二测试材料。为了更好地差异化和识别，第二密度线52,52'优选地设置有与第一密度线 51，51<和参考密度线56,56<不同的虚线符号或不同的颜色。在第二密度线52,52<和 参考密度线56,56'之间的比较指示，第二测试材料的品质低于参考测试材料的品质。相 似地，涉及其他测试材料的其他测试材料线（第三、第四等）可以表示在事件场4中并且可 以与参考密度线56, 56'比较。
[0046] 可以以不同方式确定参考密度线56,56 '。下面将参考示例解释其中的三种类 型：
[0047] ?可以以与第一密度线51，51 '相同的方式确定参考密度线56,56 ^。真实参考 测试材料被沿着它的纵向方向测量，从测量值确定至少一个参数值，从参数值确定事件密 度，并且参考密度线56, 56 '基本上遵循在参考测试材料中确定的事件的恒定密度。在这 种情况下参考测试材料可以例如是多种测试材料9的其中一种。这样允许操作者经由输入 单元34(图1)输入多种已确定密度线51，5P或52,52 ^的哪种准备使用作为参考密度 线 56,56 '。
[0048] ?如图3的示例所示，如果测量多种测试材料，那么参考密度线56,56 '可以限定 为所有已确定密度线51，51/和52,52/的平均值或限定为其中的子集。在平均计算期间 可以执行加权，例如在相应测试材料的相应已检测长度的基础上。在这种情况下，参考密度 线56,56 '涉及由一组至少两个真实测试材料形成的虚拟测试材料。
[0049] ?最后，参考密度线56, 56 '可以被输入到评价单元3,之前没有被直接确定。它 可以从品质参考文件例如USTliRw statistics获得。替代地，可以自由地或至少改变地输 入参考密度线56,56'。在这种情况下，参考密度线56,56'也涉及由一组至少两个真实 测试材料形成或者不来源于真实测试材料的虚拟测试材料。
[0050] 参考密度线56, 56 '可以包括在品质参考文件例如USTHR* STATISTICS 中。为此，首先收集一组相同类型的、表示世界范围测试材料产品的测试材料样本，并 且计算它们的密度线。在相同类型的测试材料中，密度线将取决于相应测试材料的品 质以不同高度延伸，但将几乎不互相交叉。结果，如图4所示，可以确定百分比密度线 57. 1-57. 5,57. P -57. 5'。百分比密度线 57. 1-57. 5,57. P -57. 5'指示涉及世界范 围测试材料产品的百分比5%、25%、50%、7% 5、95%。这表示：世界范围的相应类型生产 的所有测试材料的5%具有5%以下（对于较薄位置为以上）的密度线57. 1，世界范围的相 应类型生产的所有测试材料的25%具有25%以下（对于较薄位置为以上）的密度线57. 2， 等等。50%线57. 3,57. 3'表示世界中间值。
[0051] 示意图例如图4的事件场4允许相对于相同类型的测试材料的世界范 围产品分类测试材料9的品质。为此，在根据本发明的方法中，百分比密度线 57. 1-57. 5,57. I ^ -57. 5 ^的一个或多个使用作为参考密度线56,56 ^ (参见图2和图 3)。第一密度线51，51 '也可以表示在事件场4中，其对应于真实已检查的测试材料9。所 述第一密度线51，5P与百分比密度线57. 1-57. 5, 57. I' -57. 5 ^比较，其中在离散百分 比密度线57. 1-57. 5之间执行内插。在图4的实施例中，该比较导致例如下列的表述：
[0052] 鲁在棉结（非常厚短位置）的区域中，第一密度线51的位置对应于60%。
[0053] ?在厚短位置的区域中，第一密度线51的位置对应于50%，即中间值。
[0054] ?在厚长位置的区域中，第一密度线51的位置对应于40%。
[0055] ?在事件场的下部中，对于较薄位置的第一密度线51 '靠近50%。
[0056] ?总而言之，涉及平均品质的测试材料9,并且与世界范围产品比较。
[0057] 换句话说，图4的百分比密度线57. 1-57. 5, 57. I' -57. 5 ^的一个或多个可以表 示为在图2或图3中的事件场4中的参考密度线56, 56 ^并且可以与第一密度线51，5P (并且可选地还与第二密度线52, 52 ^ )比较。
[0058] 可以理解本发明不限于如上所描述的实施例。通过具有本发明的知识，本领域的 技术人员将能够推导出其他变形，其也属于如在独立权利要求中限定的本发明的主题。
[0059] 1 装置
[0060] 2 测量单元
[0061] 21 数据线
[0062] 3 评价单元
[0063] 31,32 数据线
[0064] 33 输出单元
[0065] 34 输入单元
[0066] 4 事件场
[0067] 41 横坐标
[0068] 42 纵坐标
[0069] 43 水平分级边界
[0070] 44 竖直分级边界
[0071] 51,51 ;第一密度线
[0072] 52, 52 '第二密度线
[0073] 53-55 差分面积
[0074] 56, 56 '参考密度线
[0075] 57. 1-57. 5, 57. 1 ; -57. 5 ;百分比密度线
[0076] 6 测试材料主体，面积
[0077] 9 测试材料
[0078] 91 事件
[0079] χ 测试材料的纵向方向和运动方向
【权利要求】
1. 一种用于比较细长织物测试材料巧）的品质的方法，其中沿着第一测试材料巧）的 纵向方向（X)检测所述第一测试材料巧）的至少一个特性的测量值， 从所述测量值确定所述第一测试材料巧）的至少一个参数值， 提供事件场（4)，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部分，它的横坐标 (41)指示参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标（42)指示所述参数值与目标值的 偏差，W便所确定的参数值和它们沿着所述纵向方向（X)的延伸量可W被输入作为在所述 事件场（4)中的事件， 确定在所述事件场（4)中的事件的密度，W及 基本上遵循在所述第一测试材料（9)上确定的所述事件的恒定密度的第一密度线 巧1，51 ^ )表示在所述事件场（4)中，其特征在于， 除了所述第一密度线巧1，51 ^ ) W外，遵循与所述第一密度线巧1，51 ^ )相同的事 件密度但至少部分设及不同于所述第一测试材料巧）的参考测试材料的参考密度线巧6， 56 ^ )表示在所述事件场（4)中。
2. 根据权利要求1所述的方法，其中所述参考测试材料是不同于第一测试材料巧）的 第二真实测试材料。
3. 根据权利要求1所述的方法，其中所述参考测试材料是为了确定所述参考密度线 巧6, 56 ^ )而形成的虚拟测试材料。
4. 根据权利要求3所述的方法，其中所述虚拟测试材料由一组至少两个真实测试材料 形成。
5. 根据权利要求4所述的方法，其中所述组还包含除了至少一个其他真实测试材料W 外的所述第一测试材料巧）。
6. 根据权利要求1至4其中一项所述的方法，其中所述参考密度线从品质参考文件获 得。
7. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中至少部分由所述第一密度线巧1， 51 ^ )和所述参考密度线巧6, 56 ^ )限定边界的差分面积巧3-55)被在所述事件场（4) 中图示地着重强调。
8. 根据权利要求7所述的方法，其中所述差分面积巧3-55)与它的周围面积图示地不 同，特别是在于它具有与它的周围面积不同的颜色、不同的灰度阴影和/或不同的图案。
9. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中参考测试材料主体表示为在所述事件 场（4)中的一面积化），该面积化） 一方面由横坐标（41)或者与其平行延伸的直线、 另一方面由纵坐标（42)或者与其平行延伸的直线、并且 还由所述参考密度线巧6, 56 ^ ) 限定边界。
10. 根据权利要求9所述的方法，其中表示所述参考测试材料主体的所述面积（6)与它 的周围面积图示地不同，特别是在于它具有与它的周围面积不同的颜色、不同的灰度阴影 和/或不同的图案。
11. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中所述恒定事件密度为在每100km测 试材料长度有500至2000个之间的事件，并且优选地为每100km测试材料长度有1000个 事件。
12. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中所述事件场（4)的至少一部分由水 平分级边界（43)和竖直分级边界（44)分割成事件的矩形等级。
13. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中除了设及所述参考测试材料的所述 参考密度线巧6,56^ )和设及所述第一测试材料（9)的所述第一密度线巧1，51^ )W外， 设及第二测试材料的至少一个第二密度线巧2, 52 ^ )表示在所述事件场（4)中。
14. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中所述第一密度线巧1，51 ^ )、所述参 考密度线巧6, 56 ^ ) W及可选地附加表示的至少一个第二密度线巧2, 52 ^ )互相图示地 不同，特别是在于它们具有不同的颜色、不同的灰度阴影、不同的厚度和/或不同的虚线符 号。
15. 根据前述权利要求其中一项所述的方法，其中所述方法由计算机（3)实施。
16. -种计算机程序产品，具有存储在机器可读介质中、用于当计算机程序产品在计算 机（3)上运行时实施根据权利要求1至14其中一项所述的方法的程序代码。
17. -种用于比较细长织物测试材料巧）的品质的装置（1)，包含： 测量单元（2)，其用于检测沿着第一测试材料（9)的纵向方向（X)检测所述第一测试材 料（9)的至少一个特性的测量值，W及连接到所述测量单元（2)的评价单元（3)，其设置 用于从所述测量值确定所述第一测试材料巧）的至少一个参数值 用于提供事件场（4)，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部分，它的横坐 标（41)指示参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标（42)指示所述参数值与目标值 的偏差，W便所确定的参数值和它们沿着所述纵向方向（X)的延伸量可W被输入作为在所 述事件场（4)中的事件，W及 用于确定在所述事件场（4)中的事件的密度，W及 连接到所述评价单元的输出单元（33)，其用于显示所述事件场（4)和在所述事件场 (4)中的第一密度线巧1，51 ^ )，所述第一密度线巧1，51 ^ )基本上遵循在所述第一测试 材料（9)上确定的事件的恒定密度， 其特征在于 所述评价单元（3)设置用于存储参考密度线巧6, 56 ^ )，所述参考密度线巧6, 56 ^ ) 遵循与所述第一密度线巧1，51 ^ )相同的事件密度但至少部分设及不同于所述第一测试 材料巧）的参考测试材料，W及 所述输出单元（33)设置用于同时表示所述第一密度线巧1，51 ^ )和所述参考密度线 巧6,56')。
18. 根据权利要求17所述的装置（1)，其中所述输出单元（33)是屏幕、触摸屏或打印 机。
19. 根据权利要求17或18所述的装置（1)，其中所述测量单元（2)包含用于检测所述 第一测试材料巧）的质量的电容性传感器和/或用于检测所述第一测试材料（9)的横向尺 寸和/或杂质含量的光学传感器。
20. -种用于提供使用在根据权利要求1 - 15其中一项所述的方法中的至少一个参考 密度线巧6, 56 ^ )的方法，其中 收集一组代表世界范围产品的相同类型参考测试材料， 沿着参考测试材料的纵向方向检测每个参考测试材料的至少一个特性的测量值， 从所述测量值确定所述相应参考测试材料的至少一个参数值， 提供事件场（4)，其包括二维笛卡尔坐标系的一象限或一象限的一部分，它的横坐标 (41)指示参数值沿着纵向方向的延伸量并且它的纵坐标（42)指示所述参数值与目标值的 偏差，W便所确定的参数值和它们沿着所述纵向方向的延伸量可W被输入作为在所述事件 场（4)中的事件， 确定在所述事件场（4)中的事件的密度， 为每个参考测试材料在所述事件场（4)中确定密度线，其基本上遵循在所述第一测试 材料（9)上确定的事件的恒定密度，该密度对于相同类型的每个参考测试材料来说是相同 的，W及 关于所述确定密度线的百分比的至少一个百分比密度线 巧7. 1-57. 5, 57. 1 ^ -57. 5 ^ )表示在所述事件场（4)中作为参考密度线巧6, 56 ^ )。
21. 根据权利要求20所述的方法，其中所述恒定事件密度为在每100km测试材料长度 有500至2000个之间的事件，并且优选地为每100km测试材料长度有1000个事件。
22. 根据权利要求20和21所述的方法，其中对应于5%、25%、50%、75%和95%的5 个百分比密度线巧7. 1-57. 5, 57. 1 ^ -57. 5 ^ )表示为一种类型参考测试材料的参考密度 线巧6,56 ')。
23. -种品质参考文件，包含用于细长织物测试材料的品质数据，其特征在于 所述品质参考文件包含根据权利要求20至22所述的方法提供的至少一个参考密度线 巧6,56')。
【文档编号】G01N33/36GK104471388SQ201380030948
【公开日】2015年3月25日 申请日期:2013年6月7日 优先权日:2012年6月11日
【发明者】斯瓦古玛·纳拉扬那, P·施密特 申请人:乌斯特技术股份公司