一种高频微波印制板的介电常数测量方法
【专利摘要】本发明涉及一种高频微波印制板的介电常数测量方法，包括以下步骤：(1)通过机械臂将高频微波印制板的相对两个角夹住，再将测试装置的两个电缆探头分别固定在高频微波印制板的两面的中央；(2)测量出微波印制板电容上的电压Vc和标准电阻上的电压Vr,计算出所述高频微波印制板的电容c(PF)；(3)通过机械臂将所述高频微波印制板旋转，在旋转的过程中通过光学测量仪测量出高频微波印制板的面积A(CM2)、介质厚度d(CM)和周长L(CM)；(4)所述测试装置根据电容c(PF)、面积A(CM2)、介质厚度d(CM)和周长L(CM)计算出介电常数，本发明所述方法测量的介电常数准确度高，并且成本低，适合广大厂商推广使用。
【专利说明】一种高频微波印制板的介电常数测量方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种高频微波印制板的介电常数测量方法，涉及电变量的测量领域。
【背景技术】
[0002] 确定人的身份现在主要使用身份证，随着微波数字电路的发展，信号的传输速率 越来越高，当信号速率升高至上百兆比特每秒设置上吉比特每秒时，印刷版（PCB)电路上 信号的传输将出现高频效应，对信号线传输线上的色散效应、趋肤效应等高频效应的估计 就变得十分必要，高频性能不好的传输线将导致信号的完整性变差，因此就要精准的知道 介质基片的介电常数，以便设计的电路能够实现预期的性能，因此，需要一种普通厂商能普 遍应用的方法能准确地测出高频微波印制板的介电常数。
【发明内容】
[0003] 本发明要解决的技术问题是：为克服上述问题，提供一种能普遍应用的高频微波 印制板的介电常数测量方法。
[0004] 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005] -种高频微波印制板的介电常数测量方法，包括以下步骤：
[0006] (1)通过机械臂将高频微波印制板的相对两个角夹住，再将测试装置的两个电缆 探头分别固定在高频微波印制板的两面的中央；
[0007] (2)测量出微波印制板电容上的电压V。和标准电阻上的电压L根据测试仪频率 和量程电阻计算出所述高频微波印制板的电容C(PF);
[0008] (3)通过机械臂将所述高频微波印制板旋转，在旋转的过程中通过光学测量仪测 量出高频微波印制板的面积A(CM2)、介质厚度d(CM)和周长L(CM);
[0009] (4)所述测试装置根据所述高频微波印制板的电容c (PF)、面积A (CM2)、介质厚度 d(CM)和周长L(CM)计算出高频微波印制板的介电常数。
[0010] 优选地，所述测试装置内预先输入以下公式：
【权利要求】
1. 一种高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，包括以下步骤： (1) 通过机械臂将高频微波印制板的相对两个角夹住，再将测试装置的两个电缆探头 分别固定在高频微波印制板的两面的中央； (2) 测量出微波印制板电容上的电压V。和标准电阻上的电压^根据测试仪频率和量 程电阻计算出所述高频微波印制板的电容c (PF); (3) 通过机械臂将所述高频微波印制板旋转，在旋转的过程中通过光学测量仪测量出 高频微波印制板的面积A (CM2)、介质厚度d (CM)和周长L(CM); (4) 所述测试装置根据所述高频微波印制板的电容C(PF)、面积A(CM2)、介质厚度 d(CM)和周长L(CM)计算出高频微波印制板的介电常数。
2. 如权利要求1所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，所述测试 装置内预先输入以下公式：
通过该公式计算出高频微波印制板的相对介电常数
3. 如权利要求1或2所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于，测试仪 频率为IOKHz。
4. 如权利要求1-3任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于， 所述两个电缆探头内分别设置有磁铁并且其磁性相反。
5. 如权利要求1-4任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于， 所述两个测试探头的探头接触面积为14_40mm2。
6. 如权利要求1-5任一项所述的高频微波印制板的介电常数测量方法，其特征在于， 所述量程电阻设置 6 个，分别是 1000KQ、800KQ、400KQ、200KQ、100KQ、IOKQ。
【文档编号】G01R27/26GK104360169SQ201410597783
【公开日】2015年2月18日 申请日期:2014年10月30日 优先权日:2014年10月30日
【发明者】程林海, 丁健, 徐亚芬 申请人:昆山金鹏电子有限公司