一种主轴跳动测试平台的制作方法
【专利摘要】本实用新型属于数控机床主轴设计与维修领域，具体涉及一种主轴跳动测试平台，所述一种主轴跳动测试平台包括：测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件、数显比较仪；测试主轴跳动时，将所测芯轴平稳架在所述固定支架和所述可调节支架型槽上，按芯轴长度及直径通过调整所述可调支架，使轴线与所述平台保持平行且与所述测试顶板垂直，轴向所述测试顶板与所测芯轴基准孔之间用钢珠消除定位间隙，将轴向定位平面调至与两V形槽主轴基准中心线垂直，将测前归零后的所述数显比较仪的三维测头置于所测芯轴端面上，轻转芯轴一周，所述数显比较仪测出单个测量平面的径向跳动公差。本实用新型可有效满足机床不同部位的跳动测试需求。
【专利说明】一种主轴跳动测试平台
【技术领域】
[0001]本实用新型属于数控机床主轴设计和维修领域，具体涉及一种主轴跳动测试平台O
【背景技术】
[0002]在切削加工过程中，机床主轴的回转精度是主轴的重要质量指标之一，回转精度指标对被加工零件的几何精度和表面光洁度有很大的影响，直接影响机床在理想加工条件下所能达到的最小形状误差和被加工表面的几何形状精度。回转精度检测主要包括径向跳动、端面跳动、周期性轴向窜动的测试，其中径向跳动尤为重要。通过对测量结果的处理与分析，可以找出影响加工质量的原因以及加工系统中的薄弱环节，并提出改进意见，为精密加工旋转机械装备的设计提供相关理论依据，同时在加工过程中可以大大提高刀具的使用寿命和生产效率。
[0003]普通型的机床加工的径向跳动误差约为12.7 μ为可接受范围，但经过实践发现将这一精度用于很小的刀具，其跳动误差应降到2.54 μ或者更低，才能保证刀具的使用寿命和生产效率，在精密机床加工实操中将径向跳动误差降到2.286 μ，从微小钻头上所受的力和磨损程度来看，其分布比较均匀，其加工周期可缩短20%，刀具使用寿命可提高3倍。
[0004]因此一种主轴跳动测试平台是修复主轴和设计主轴必不可少的关键检测装置，是测量和控制各种精密设备及大型、高速、重载设备误差的重要设备。
实用新型内容
[0005]本实用新型是为解决公知技术中存在的技术问题，而提供的一种能检测车床主轴周期性轴向窜动、高速电主轴的端面跳动和径向跳动等回转精度的检测装置。
[0006]本实用新型为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案如下:
[0007]一种主轴跳动测试平台，此装置是用于测量主轴轴向窜动、高速电主轴的端面跳动和径向跳动的测量平台，包括四个组件:测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件、数显比较仪，所述测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件依次安装在具有可调节滑道的测试平台上；所述测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件按照所测芯轴直径和长度的大小来确定安装的位置。
[0008]所述测试顶板组件由测试顶板、测试顶板支撑架和测试板底座组成，测试顶板由测试顶板支撑架和测试板底座固定。
[0009]所述固定支架组件由固定支撑架和固定支撑架底座组成。
[0010]所述可调支架组件由可调支撑架、可调支撑架活动左板、可调支撑架活动右板、支撑轴、旋钮及支撑架底座组成；根据所测芯轴的直径、长短及位置可通过旋钮左右、前后调节支撑架达到测量的目的。
[0011]所述数显比较仪由表座、电子数显量表及三维测头组成。
[0012]所述测试顶板组件和固定支架，在测量芯轴跳动的过程中，测试顶板与所测主轴基准孔之间利用钢珠进行配合来消除定位间隙，加大了定位的准确性，而且装卸方便，对基准孔无任何破坏。
[0013]所述数显比较仪，其特点是精度以μ为单位，属于高精度测量，方法是，用手轻转芯轴，三维测头沿被测轴孔旋转一周，数显量表的最大差值为所测端面的径向跳动公差。
[0014]本实用新型具有的优点和积极效果是:可调支架组件可以根据所测芯轴的直径、长短及位置，通过旋钮左右、前后调节支撑架达到测量的目的；测试顶板与所测主轴基准孔之间利用钢珠进行配合来消除定位间隙，加大了定位的准确性，而且装卸方便，对基准孔无任何破坏。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型结构的正视截面示意图；
[0016]图2为测试顶板组件正视截面图；
[0017]图3为固定支架组件正视截面图；
[0018]图4为可调支架组件正视截面图；
[0019]图中，1、测试顶板组件，2、固定支架组件，3、可调支架组件，4、平台；5、测试顶板支撑架，6、测试顶板，7、测试板底座，8、固定支撑架，9、固定支撑架底座，10、T型槽垫块；11、可调支撑架活动左板，12、可调支撑架活动右板，13、可调支撑架，14、可调支撑架底座，15、支撑轴，16、旋钮。
【具体实施方式】
[0020]为能进一步了解本实用新型的内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下:
[0021]请参阅说明书附图1，一种针对车床主轴周期性轴向窜动、高速电主轴的端面跳动和径向跳动等回转精度检测的一种主轴跳动测试平台，包括测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件、数显比较仪，所述测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件按照所测芯轴直径和长度的大小来确定安装的位置依次安装在具有可调节滑道的平台上。
[0022]如图2所示，所述测试顶板组件由测试顶板、测试顶板支撑架和测试板底座组成，测试顶板由顶板支撑架和测试板底座固定。
[0023]如图3所示，所述固定支架组件由固定支撑架和固定支撑架底座组成。
[0024]如图4所示，所述可调支架组件由可调支撑架、可调支撑架活动左右板、支撑轴、旋钮及支撑架底座组成；根据所测芯轴的直径、长短及位置可通过旋钮左右、前后调节支撑架达到测量的目的。
[0025]所述数显比较仪由表座、电子数显量表及三维测头组成(未示出)。
[0026]在测试主轴跳动过程中，首先根据芯轴的长短调整可调支架组件3，通过前后移动找到适合主轴测量的位置，然后根据芯轴的直径来调整旋钮16，移动可调支撑架活动左板11和可调支撑架活动右板12，使轴线与平台保持平行且与测试顶板6垂直。在测量芯轴跳动的过程中，轴向所述测试顶板6与所测芯轴基准孔之间利用钢珠进行配合来消除定位间隙。所述钢球，需通过所测零件孔径的大小选择直径适合的钢球来尽量消除几何形状误差对定位误差精度的影响。
[0027]在测量过程中，将所测芯轴平稳的架在检测平台的固定支架2和可调节支架组件的V型槽上，轴向定位用的平面应调整至与两V形槽的主轴基准中心线垂直，防止钢球顶住轴向定位平面的芯轴产生轴向窜动导致回转误差。将数显比较仪的三维测头放在所测芯轴端面上测量，所述数显比较仪在测量前应该进行归零处理，便于测量过程中直观记录数据，用手轻转芯轴，在数显比较仪沿被测芯轴孔旋转一周的过程中，数显比较仪读出的最大差值即为单个测量平面上的径向跳动公差。
[0028]本实用新型为实现测量回转误差可包括以下步骤:
[0029]1.将所测芯轴平稳的架在检测平台的V型槽上。
[0030]2.测试顶板与所测芯轴基准孔之间利用钢珠进行过盈配合。
[0031 ] 3.用手轻转芯轴，在数显比较仪沿被测芯轴孔旋转一周。
[0032]4.根据数显比较仪读出的最大差值即为单个测量平面上的径向跳动公差来判定所测零件是否符合要求。
[0033]尽管上面结合附图对本实用新型的优选实施例进行了描述，但是本实用新型并不局限于上述的【具体实施方式】，上述的【具体实施方式】仅仅是示意性的，并不是限制性的，本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下，在不脱离本实用新型宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可以做出很多形式，这些均属于本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种主轴跳动测试平台，其特征在于:包括测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件、数显比较仪，所述测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件依次安装在具有可调节滑道的平台上，所述测试顶板组件、固定支架组件、可调支架组件按照所测芯轴直径和长度的大小来确定安装的位置。
2.根据权利要求1所述的一种主轴跳动测试平台，其特征在于，所述测试顶板组件由测试顶板、测试顶板支撑架和测试板底座组成，测试顶板由测试顶板支撑架和测试板底座固定。
3.根据权利要求1所述的一种主轴跳动测试平台，其特征在于，所述固定支架组件由固定支撑架和固定支撑架底座组成。
4.根据权利要求1所述的一种主轴跳动测试平台，其特征在于，所述可调支架组件由可调支撑架、可调支撑架活动左板、可调支撑架活动右板、支撑轴、旋钮及支撑架底座组成；根据所测芯轴的直径、长短及位置可通过旋钮左右、前后调节支撑架达到测量的目的。
5.根据权利要求1所述的一种主轴跳动测试平台，其特征在于，所述数显比较仪由表座、电子数显量表及三维测头组成。
6.根据权利要求2所述的一种主轴跳动测试平台，其特征在于，在测量芯轴跳动的过程中，所述测试顶板与所测主轴基准孔之间利用钢珠进行配合来消除定位间隙。
【文档编号】G01B21/00GK204188144SQ201420132255
【公开日】2015年3月4日 申请日期:2014年3月24日 优先权日:2014年3月24日
【发明者】高卫国, 张大卫, 吕术亮, 张莹, 胡高峰 申请人:鼎奇(天津)主轴科技有限公司