本发明是有关于一种光学检测装置与光学检测方法，且特别是有关于一种用于检测光波导(lightwaveguide)元件的光学检测装置与光学检测方法。
背景技术：
：：近年来，随着科技产业日益发达，电子产品例如笔记本电脑(notebookcomputer，简称：NB)、平板电脑(tabletcomputer)与智能手机(smartphone)已频繁地出现在日常生活中。因此，应用于电子产品中的线路板(circuitboard)也成为相关技术中的重要角色。为了增加线路板的应用，可用以增加内部线路布局空间的多层线路板也因应而生，而许多不同种类的电子元件，例如是连接器、芯片或者是光电元件，也可依据需求配置在多层线路板上，以增加多层线路板的使用功能。以在多层线路板中配置光电元件而构成光电线路板(optical-electrocircuitboard)为例，光电线路板通常是在由核心层与增层结构所构成的多层线路板中埋设光波导元件，并在多层线路板开设凹槽而暴露出光波导元件的相对两端。之后，光电元件进一步配置在凹槽内而面对光波导元件的相对两端，而驱动芯片配置在多层线路板上并电性连接至光电元件，以驱动光电元件将电信号转换成光线并通过光波导元件传递至另一光电元件，或驱动光电元件将通过光波导元件的光线转换成电信号。基于上述，光波导元件将影响光电元件的运作效能。藉此，在光电线路板的制程中或出货前，制造端通常可采用相关光学检测装置与光学检测方法检测光波导元件，例如是检测其光通量。然而，常见的光学检测装置与光学检测方法是以光发送元件直接将光线射入光波导元件后在以光接收元件接收光线，藉此检测光波导元件的光通量，故上述作法需使光波导元件的相对两端完全外露，方能使光学检测装置的光线通过。也即，上述作法需破坏在制程中或出货前的光电线路板的局部而暴露出光波导元件的相对两端(例如是切割基板使其边缘与光波导元件的边缘切齐)，方能以 上述光学检测装置与光学检测方法进行检测。因此，上述作法将破坏光电线路板与光波导元件。技术实现要素：本发明提供一种光学检测装置与光学检测方法，适于以非破坏性的方式检测光波导元件。本发明的光学检测装置适于检测至少一光波导元件。光学检测装置包括光发送元件、第一控制元件、第一反射元件、光接收元件、第二控制元件以及第二反射元件。光发送元件适于对应于光波导元件的第一端，并适于发出光线。第一控制元件配置于光发送元件上。第一反射元件配置于光发送元件上，并连接至第一控制元件，其中第一控制元件控制第一反射元件运动，以将光发送元件发出的光线反射至光波导元件。光接收元件适于对应于光波导元件的第二端，并适于接收光线。第二控制元件配置于光接收元件上。第二反射元件配置于光接收元件上，并连接至第二控制元件，其中第二控制元件控制第二反射元件运动，以将通过光波导元件的光线反射至光接收元件进行光学检测。本发明的光学检测方法适于检测至少一光波导元件。光学检测方法包括下列步骤：通过操作接口检测至少一光波导元件的数量。通过操作接口控制光发送元件发出至少一光线，并通过第一控制元件控制第一反射元件运动，以将光发送元件发出的至少一光线对应反射至至少一光波导元件，其中光发送元件对应于至少一光波导元件的第一端，而第一控制元件与第一反射元件配置于光发送元件上并且彼此连接。通过第二控制元件控制第二反射元件运动，以将通过至少一光波导元件的至少一光线反射至光接收元件，并通过光接收元件接收至少一光线进行光学检测，其中光接收元件对应于至少一光波导元件的第二端，而第二控制元件与第二反射元件配置于光接收元件上并且彼此连接。基于上述，本发明的光学检测装置与光学检测方法采用光发送元件搭配光接收元件来发送与接收光线，其中光线通过受到第一控制元件控制的第一反射元件反射至光波导元件，而通过光波导元件的光线通过受到第二控制元件控制的第二反射元件反射至光接收元件，进而在不破坏光波导元件的情况 下检测其光通量。也即光学检测装置与光学检测方法通过藉由第一控制元件与第二控制元件控制的第一反射元件与第二反射元件来反射光线，以使光线精准地通过光波导元件至光接收元件，故光波导元件不需迁就光发送元件与光接收元件的位置而在检测过程中受到破坏。藉此，本发明的光学检测装置适于以非破坏性的方式检测光波导元件。为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1是本发明一实施例的光学检测装置的示意图；图2是本发明另一实施例的光学检测装置的示意图；图3是本发明一实施例的光学检测方法的流程图；图4是图1的光学检测装置在另一应用的示意图。附图标记说明：20、20a、20b、20c：光波导元件；22：第一端；24：第二端；30、40：基板；42：凹槽；44：增层结构；100、100a：光学检测装置；110、110a：光发送元件；112a、112b、112c：光发送部；120：第一控制元件；130：第一反射元件；132：第一反射面；134：第一底面；140、140a：光接收元件；142a、142b、142c：光接收部；150：第二控制元件；160：第二反射元件；162：第二反射面；164：第二底面；170：分光器；L、L1、L2、L3：光线；X、Y、θ：轴向。具体实施方式图1是本发明一实施例的光学检测装置的示意图。请参考图1，在本实施例中，光学检测装置100适于检测至少一光波导元件20，本实施例现以检测其中一个光波导元件20为例进行说明。其中，光学检测装置100包括光发送元件110、第一控制元件120、第一反射元件130、光接收元件140、第二控制元件150以及第二反射元件160。光发送元件110适于配置在光波导元件20的一侧，例如是邻近并对应于光波导元件20的第一端22，并适于发送光线L。第一控制元件120配置于光发送元件110上。第一反射元件130配置于光发送元件110上，并连接至第一控制元件120，以通过第一控制元件120的控制而运动。另外，光接收元件140适于配置在光波导元件20的另一侧，例如是邻近并对应于光波导元件20的第二端24，并适于接收光线L。第二控制元件150配置于光接收元件140上。第二反射元件160配置于光接收元件140上，并连接至第二控制元件150，以通过第二控制元件150的控制而运动。藉此，当光学检测装置100对光波导元件20进行光通量的检测时，光发送元件110发送光线L，而第一控制元件120控制第一反射元件130运动，以将光发送元件110发出的光线L反射至光波导元件20。光线L从光波导元件20的第一端22进入光波导元件20，并从其第二端24射出。在光线L通过光波导元件20之后，第二控制元件150控制第二反射元件160运动，以将通过光波导元件20的光线L反射至光接收元件140。基于上述，光学检测装置100可依据光线L通过光波导元件20前后的量值差异(即光发送元件110所发出的光线L以及光接收元件140所接收的光线L的量值差异)，而得知光波导元件20的光通量。其中，为清楚展现光学 检测装置100与光波导元件20的相对关系，图1将第一反射元件130与第二反射元件160示出成与光波导元件20相隔一段距离，但在实际应用中，第一反射元件130与第二反射元件160可依据需求接近第一反射元件130与第二反射元件160的第一端22与第二端24，以使上述检测结果更为准确。具体而言，在本实施例中，光波导元件20配置于基板30上。所述基板30例如是光电线路板(optical-electrocircuitboard)的核心板(coreboard)。光电线路板的作法是将光波导元件20配置在作为核心板的基板30上，而后在核心板上依据需求压合由半固化胶片(prepreg，简称：pp)与铜箔(copperfoil)所构成的增层结构。之后，增层结构对应于光波导元件20的周边开设凹槽，并将光电元件配置于凹槽内，以构成所述光电线路板。因此，在本实施例中，基板30与配置于其上的光波导元件20可视为是所述光电线路板的半成品，而光学检测装置100用于在光电线路板的制程中检测光波导元件20的光通量。然而，本实施例的光学检测装置100也可应用于检测配置在其他种类的基板上的光波导元件20，本发明不限制光学检测装置100的应用，也不限制所述光波导元件20与基板30用于形成光电线路板。在本实施例中，光波导元件20配置于基板30上，而光学检测装置100以第一反射元件130面对第一端22并以第二反射元件160面对第二端24。其中，第一反射元件130具有第一反射面132，面向光波导元件20的第一端22，以将光发送元件110发出的光线L反射至光波导元件20。类似地，第二反射元件160具有第二反射面162，面向光波导元件20的第二端24，以将通过光波导元件20的光线L反射至光接收元件140。藉此，第一反射面132与第二反射面162较佳地配置有反射性良好的材质。举例而言，第一反射面132与第二反射面162可采用金属材料(例如是银或其他适用的材质)或为经由抛光处理的亚克力材料，以使第一反射面132与第二反射面162具有全反射的特性，藉此减少光线L通过第一反射面132与第二反射面162反射时的损耗率而提升检测结果的准确性。然而，本发明并不限制第一反射面132与第二反射面162的材质，其可依据需求调整。另外，在本实施例中，第一反射元件130具有连接第一反射面132的第一底面134，而第一底面134与第一反射面132之间较佳地夹45度角。藉此，第一反射元件130以对应的第一底面134抵靠基板30，以使第一反射面132 对应面向光波导元件20的第一端22并与光波导元件20夹45角，而有利于光线L的全反射。类似地，第二反射元件160具有连接第二反射面162的第二底面164，而第二底面164与第二反射面162之间较佳地夹45度角。藉此，第二反射元件160以对应的第二底面164抵靠基板30，以使第二反射面162对应面向光波导元件20的第二端24并与光波导元件20夹45角，而有利于光线L的全反射。基于上述，在本实施例中，第一反射元件130与第二反射元件160可采用截面形状为三角形的反射元件(如图1所示)，但在其他未示出的实施例中，第一反射元件与第二反射元件的截面形状也可为梯形或多边形。然而，本发明不限制第一底面134与第一反射面132之间夹45度角，不限制第二底面164与第二反射面162之间夹45度角，且也不限制第一反射元件130与第二反射元件160需通过对应的第一底面134与第二底面164抵靠基板30来进行上述检测动作。第一反射元件130与第二反射元件160的形状、操作位置与操作角度可依据需求调整。另一方面，在本实施例中，上述的光波导元件20平行于水平基准面。所述水平基准面例如是图1所示出的轴向X与轴向Y所构成的平面，且基板30位于水平基准面上，以使光波导元件20平行于水平基准面。藉此，通过光发送元件110发出的光线L垂直于水平基准面，并在经由第一反射元件130反射后平行于水平基准面，且在通过光波导元件20后经由第二反射元件160反射而垂直于水平基准面。更进一步地说，光发送元件110从第一反射元件130上方发出垂直于基板30(位于水平基准面上)的光线L，而光线L经由第一反射元件130的反射而改变传送方向为平行于基板30，并进一步通过平行于水平基准面的光波导元件20。在光线L通过光波导元件20之后，平行于基板30的光线L经由第二反射元件160的反射而改变传送方向为垂直于基板30，进而传送至位于第二反射元件160上方的光接收元件140。在上述过程中，第一控制元件120与第二控制元件150可用于控制第一反射元件130与第二反射元件160运动，进而使其对准于光波导元件20的第一端22与第二端24。具体而言，在本实施例中，第一控制元件120例如是线性马达与机械手臂的组合，其可控制第一反射元件130沿水平基准面(即图1所标示的轴向 X与轴向Y所构成的平面)移动或沿旋转轴向(即图1所标示的轴向θ)转动，以调整第一反射元件130的位置以及第一反射面132的角度。类似地，第二控制元件150例如是线性马达与机械手臂的组合，其控制第二反射元件160沿水平基准面移动或沿旋转轴向转动，以调整第二反射元件160的位置以及第二反射面162的角度。然而，本发明并不限制第一控制元件120与第二控制元件150的组成，其可依据需求调整。由此可知，在本实施例中，第一控制元件120除了可以控制第一反射元件130沿水平基准面移动而调整其位置至对应于第一端22之外，还可以控制第一反射元件130沿旋转轴向转动而调整第一反射面132的角度，使第一反射面132可准确地将光发送元件110发出的光线L反射至于第一端22，而不受限于光波导元件20与基板30的相对位置。类似地，第二控制元件150除了可以控制第二反射元件160沿水平基准面移动而调整其位置至对应于第二端24之外，还可以控制第二反射元件160沿旋转轴向转动而调整第二反射面162的角度，使第二反射面162准确地将从第二端24射出的光线L反射至光接收元件140，而不受限于光波导元件20与基板30的相对位置。另外，在本实施例中，第一控制元件120与第二控制元件150可经由外部电脑进行控制，例如是连接至未示出的操作接口，使其控制第一反射元件130与第二反射元件160的单位位移量可精准至1微米(micrometer，简称：μm)，藉此提高第一反射元件130与第二反射元件160的对位精准度。由此可知，通过第一控制元件120与第二控制元件150的设计，可使光学检测装置100检测光波导元件20的动作不受限于光波导元件20与基板30的相对位置(例如光波导元件20在基板30上的相对高度)，只要依据需求通过第一控制元件120与第二控制元件150调整第一反射元件130与第二反射元件160的位置以及第一反射面132与第二反射面162的角度即可。请再次参考图1，在本实施例中，虽然上述说明是以单一光波导元件20为例，但实际上基板30上可依据需求配置有多个光波导元件20。多个光波导元件20配置于基板30上而位于同一水平基准面，且光波导元件20彼此平行配置。藉此，上述的光学检测装置100可通过第一控制元件120与第二控制元件150控制第一反射元件130与第二反射元件160沿水平基准面移动(即图1中由轴向X与轴向Y所构成的平面)并沿旋转轴向(即图1中的轴向θ) 转动，而对准其中一个光波导元件20。在光学检测装置100完成其中一个光波导元件20的检测之后，其可再次通过第一控制元件120与第二控制元件150控制第一反射元件130与第二反射元件160沿水平基准面移动并沿旋转轴向转动，而对准另一个光波导元件20，藉此逐一检测多个光波导元件20的光通量。然而，在上述采用多个光波导元件20的情况下，其也可同时进行检测。图2是本发明另一实施例的光学检测装置的示意图。请参考图2，在本实施例中，光波导元件的数量为多个，例如是三个光波导元件20a、20b、20c，其配置于基板30上而位于同一水平基准面(即图2中由轴向X与轴向Y所构成的平面)，且光波导元件20a、20b、20c彼此平行配置。上述的光波导元件20a、20b、20c可通过图1的光学检测装置100逐一进行检测，也可通过本实施例的光学检测装置100a同时进行检测。具体而言，在本实施例中，光学检测装置100a包括光发送元件110a、第一控制元件120、第一反射元件130、光接收元件140a、第二控制元件150、第二反射元件160以及分光器170。换言之，光学检测装置100a与前述的光学检测装置100的主要差异在于光发送元件110a与光接收元件140a结构以及分光器170的使用。因此，有关第一控制元件120、第一反射元件130、第二控制元件150与第二反射元件160的说明可参考前述内容，在此不多加赘述。以下将说明光发送元件110a与光接收元件140a结构以及分光器170的使用。在本实施例中，光学检测装置100a还包括分光器170，配置于光发送元件110a上，以将光发送元件110a发出的光线分成多道光线L1、L2、L3。其中，由于光学检测装置100a欲同时检测三个光波导元件20a、20b、20c，故分光器170将光发送元件110a发出的光线分成三道光线L1、L2、L3，而当光学检测装置100a欲同时检测更多光波导元件时，分光器也可将光发送元件110a发出的光线分成更多道光线，本发明不限于上述实施方式，其可依据需求调整。另外，在本实施例中，光发送元件110a包括多个光发送部112a、112b、112c。虽然本实施例是以三个光发送部112a、112b、112c为例，但其数量可依据光波导元件20a、20b、20c的数量或者其他需求调整。藉此，经由分光 器170区分出的光线L1、L2、L3通过对应的光发送部112a、112b、112c发出，并经由第一反射元件130对应反射至多个光波导元件20a、20b、20c。具体来说，光学检测装置100a以第一反射元件130同时面对光波导元件20a、20b、20c的第一端22。第一反射元件130的位置以及第一反射面132的角度可通过第一控制元件120的控制而调整。也即，第一控制元件12可对应控制第一反射元件130沿水平基准面(即图2的轴向X与轴向Y所构成的平面)移动或沿旋转轴向(即图2所标示的轴向θ)转动，以调整第一反射元件130的位置以及第一反射面132的角度，使第一反射面132可准确地将光发送部112a、112b、112c发出的光线L1、L2、L3同时反射至于光波导元件20a、20b、20c的第一端22。类似地，在本实施例中，光接收元件140a包括多个光接收部142a、142b、142c。虽然本实施例是以三个光接收部142a、142b、142c为例，但其数量可依据光波导元件20a、20b、20c的数量或者其他需求调整。光线L1、L2、L3各自通过对应的光波导元件20a、20b、20c，并经由第二反射元件160同时反射至对应的光接收部142a、142b、142c。具体来说，光学检测装置100a以第二反射元件160同时面对光波导元件20a、20b、20c的第二端24。第二反射元件160的位置以及第二反射面162的角度可通过第二控制元件150的控制而调整。也即，第二控制元件150可对应控制第二反射元件160沿水平基准面移动或沿旋转轴向转动，以调整第二反射元件160的位置以及第二反射面162的角度，使第二反射面162可准确地将从第二端24射出的光线L1、L2、L3同时反射至光接收部142a、142b、142c。依据上述内容，通过光发送元件110a的光发送部112a、112b、112c发出的光线L1、L2、L3垂直于水平基准面，并在经由第一反射元件130反射后平行于水平基准面，且在通过光波导元件20a、20b、20c后经由第二反射元件160反射而垂直于水平基准面。更进一步地说，光发送部112a、112b、112c从第一反射元件130上方发出垂直于基板30(位于水平基准面上)的光线L1、L2、L3，而光线L1、L2、L3经由第一反射元件130的反射而改变传送方向为平行于基板30，并进一步通过平行于水平基准面的光波导元件20a、20b、20c。在光线L1、L2、L3通过光波导元件20a、20b、20c之后，平行于基板30的光线L1、L2、L3经由第二反射元件160的反射而改变传送方向为 垂直于基板30，进而传送至位于第二反射元件160上方的光接收部142a、142b、142c。由此可知，在本实施例中，通过分光器170的设计，可使光学检测装置100a产生多道光线L1、L2、L3来同时检测多个光波导元件20a、20b、20c。另外，通过第一反射元件130与第二反射元件160的设计，可使光线L1、L2、L3改变传递方向而各自通过对应的光波导元件20a、20b、20c。光线L1、L2、L3在上述的传递过程中彼此平行，且光线L1、L2、L3平行于基板30与光波导元件20a、20b、20c，以使光学检测装置100a可同时检测位于同一水平基准面上的光波导元件20a、20b、20c。此外，通过第一控制元件120与第二控制元件150的设计，可使光学检测装置100a检测光波导元件20a、20b、20c的动作不受限于光波导元件20a、20b、20c与基板30的相对位置(例如光波导元件20a、20b、20c在基板30上的相对高度)，只要依据需求通过第一控制元件120与第二控制元件150调整第一反射元件130与第二反射元件160的位置以及第一反射面132与第二反射面162的角度即可。图3是本发明一实施例的光学检测方法的流程图。请参考图2与图3，在本实施例中，光学检测方法适于检测至少一光波导元件。换言之，当光波导元件的数量为多个，例如是图2所示出的三个光波导元件20a、20b、20c时，光学检测方法可依据需求同时检测三个光波导元件20a、20b、20c，也可一次仅检查一个。或者，光学检测方法也可用于检测一个光波导元件(例如基板30上仅配置有光波导元件20a)。有关光发送元件110a、第一控制元件120a、第一反射元件130a、光接收元件140a、第二控制元件150a以及第二反射元件160a如前述内容，在此不多加赘述。光学检测方法包括下列步骤。首先，在步骤S110中，通过操作接口检测至少一光波导元件的数量。本实施例是以三个光波导元件20a、20b、20c为例。接着，在步骤S120中，选择同时检测多个光波导元件，或者检测单个光波导元件。由于图2的光学检测装置所采用的光发送元件110a所发出的光线可通过分光器170分成多道光线L1、L2、L3，即光发送元件110a可通过光发送部112a、112b、112c对应发送光线至光波导元件20a、20b、20c，故在此步骤中，操作接口可依据需求而选用单轴检测(例如是在一次检测过程中仅通过光发送部112a检测光波导元件20a)或者多轴检测(例如是在一次检 测过程中通过光发送部112a、112b、112c同时检测光波导元件20a、20b、20c)。以多轴检测为例，接着，在步骤S130中，判断第一反射元件130a在水平基准面上的位置与角度是否将光发送元件110a发出的光线对准于光波导元件20a、20b、20c的第一端22，并判断第二反射元件160a在水平基准面上的位置与角度是否将通过光波导元件20a、20b、20c的第二端24的光线对准于光接收元件140a。所述水平基准面即图2所标示的轴向X与轴向Y所构成的平面。若否，则在步骤S140中，通过第一控制元件120a与第二控制元件150a分别控制第一反射元件130a与第二反射元件160a运动，并重新判断。若是，则在步骤S150中，通过操作接口控制光发送元件110a发出光线，并通过第一控制元件120a控制第一反射元件130a运动，以将光发送元件110a发出的光线通过第一反射元件130a对应反射至光波导元件20a、20b、20c。同时，通过第二控制元件150a控制第二反射元件160a运动，以将通过光波导元件20a、20b、20c的光线通过第二反射元件160a对应反射至光接收元件140a，并通过操作接口控制光接收元件140a接收通过光波导元件20a、20b、20c并通过第二反射元件160a反射的光线，以进行光学检测。具体而言，在此步骤中，先通过操作接口控制光发送元件110a以至少一光发送部(例如是图2的光发送部112a、112b、112c)发出至少一光线(例如是图2的光线L1、L2、L3)，并通过第一反射元件130a对应反射至光波导元件20a、20b、20c，其中光线L1、L2、L3通过光发送部112a、112b、112c对应发出，并经由第一反射元件130a反射至光波导元件20a、20b、20c。接着，通过操作接口控制光接收元件140a以至少一光接收部(例如是图2的光接收部142a、142b、142c)接收至少一光线(例如是图2的光线L1、L2、L3)，其中光线L1、L2、L3分别对应通过光波导元件20a、20b、20c，并经由第二反射元件160a对应反射至光接收部142a、142b、142c。藉此，通过光接收元件140a的各光接收部142a、142b、142c所接收的光线量，可判断第一反射元件130a与第二反射元件160a是否对准于光波导元件20a、20b、20c。当在步骤S130中的判断为否时，则在步骤S140中，通过第一控制元件120a控制第一反射元件130a运动，并通过第二控制元件150a控制第二反射元件160a运动。具体而言，在通过第一控制元件120a控制第一反射元件130a运动的步骤中，第一控制元件120a控制第一反射元件130a沿水平基准面(即 图2所标示的轴向X与轴向Y所构成的平面)移动或沿旋转轴向(即图2所标示的轴向θ)转动，且第一控制元件120a控制第一反射元件130a以第一反射面132a面向光波导元件20a、20b、20c的第一端22，以使光发送元件110a发出的光线适于反射至光波导元件20a、20b、20c。类似地，在通过第二控制元件150a控制第二反射元件160a运动的步骤中，第二控制元件150a控制第二反射元件160a沿水平基准面移动或沿旋转轴向转动，且第二控制元件150a控制第二反射元件160a以第二反射面162a面向光波导元件20a、20b、20c的第二端24，以使通过光波导元件20a、20b、20c的光线适于对应反射至光接收元件140a的光接收部142a、142b、142c。之后重新进行上述判断，直至上述判断为是。当步骤S130的判断为是时，则在步骤S150中，通过操作接口控制光发送元件110a发出光线，并通过第一控制元件120a控制第一反射元件130a运动，以将光发送元件110a发出的光线通过校正后并对准于第一端22的第一反射元件130a对应反射至光波导元件20a、20b、20c。同时，通过第二控制元件150a控制第二反射元件160a运动，以将通过光波导元件20a、20b、20c的光线通过校正后并对准于第二端24的第二反射元件160a对应反射至光接收元件140a，并通过操作接口控制光接收元件140a接收通过光波导元件20a、20b、20c并通过第二反射元件160a反射的光线。通过操作接口控制光发送元件110a发出光线并通过第一反射元件130a反射至光波导元件20a、20b、20c，并通过操作接口控制光接收元件140a接收通过光波导元件20a、20b、20c并通过第二反射元件160a反射的光线，使光波导元件20a、20b、20c可通过上述光学检测方法进行光学检测，例如是检测其光通量。类似地，图2的光学检测装置100a也可以上述流程进行单轴检测，例如是仅使用其中一个光发送部112a发出光线至光波导元件20a，并通过其中一个光接收部142a接收通过光波导元件20a的光线，也可应用在基板30上仅配置有一个光波导元件的实施方式中。此外，图1的光学检测装置100也可以上述方法进行单轴检测，在此不多加赘述。然而，在图1的实施例中，由于光学检测装置100仅能发出一道光线，故在其所对应的光学检测方法中，可对应省略选择同时检测多个光波导元件或者检测单个光波导元件的步骤(即步骤S120)。图4是图1的光学检测装置在另一应用的示意图。请参考图1与图4，在本实施例中，光学检测装置100的相关说明可参考前述内容，在此不多加赘述。其中，光学检测装置100除了可用于检测前述配置在基板30上的光波导元件20之外，也可用于检测配置在基板40内的光波导元件20。具体而言，光波导元件20配置于基板40内，且基板40具有两凹槽42，以分别暴露出光波导元件20的第一端22与第二端24。更进一步地说，基板40例如是前述的光电线路板。光电线路板的作法为将光波导元件20配置核心板(即前述的基板30)上，而后在核心板上依据需求压合由半固化胶片与铜箔所构成的增层结构44，以使光波导元件20埋设于基板40内。光波导元件20可配置在作为核心板的基板30上或者位于增层结构44上，本发明不以此为限制。之后，增层结构44对应于光波导元件20的周边开设凹槽42，使光波导元件20的第一端22与第二端24通过凹槽42外露。藉此，基板40可在后续将光电元件(未示出)配置于凹槽42内，以构成所述光电线路板，而光电元件可在后续应用中将电信号转换成光线而通过光波导元件20传递，或将通过光波导元件20传递的光线转换成电信号。换言之，埋设有光波导元件20的基板40可视为是所述光电线路板的成品，而光学检测装置100可在光电线路板制作完成后(或出货前)检测光波导元件20的光通量，但本发明不限制光学检测装置100的应用，也不限制所述光波导元件20与基板40用于形成光电线路板。更进一步地说，在本实施例中，依据前述对于光学检测装置100的描述，光学检测装置100的光发送元件110所发出的光线L可经由第一反射元件130的第一反射面132反射至光波导元件20，而通过光波导元件20的光线L可经由第二反射元件160的第二反射面162反射至光接收元件140。藉此，由于光波导元件20的第一端22与第二端24通过凹槽42外露，故第一控制元件120与第二控制元件150可先控制第一反射元件130与第二反射元件160运动对应伸入两凹槽42而分别面对光波导元件20的第一端22与第二端24，而后进一步控制第一反射元件130与第二反射元件160在凹槽42内沿水平基准面(例如是图1与图4所示出的轴向X与轴向Y所构成的平面)或沿旋转轴向(例如是图1与图4所示出的轴向θ)运动，以调整第一反射元件130与第二反射元件的位置以及第一反射面132与第二反射面162的角度，进而 使光线L通过光波导元件20。由此可知，光学检测装置100检测光波导元件20的动作不受限于光波导元件20与基板40的相对位置，只要依据需求调整第一反射元件130与第二反射元件160的位置以及第一反射面132与第二反射面162的角度即可。藉此，即使本实施例的光波导元件20配置在基板40内，但基板40开设有凹槽42，使光波导元件20的第一端22与第二端24分别经由对应的凹槽42暴露出来。上述凹槽42用于在基板40内配置光电元件而作为光电线路板，并非是为了进行检测所额外开设的凹槽，故基板40与光波导元件20不需因采用光学检测装置100进行检测而受到破坏。此外，由于本实施例将光波导元件20内埋于基板40内而未限定为配置在特定基板(例如基板30)的表面上，故光学检测装置100不限于在检测过程中使第一反射元件130与第二反射元件160以其第一底面134与第二底面164(示出于图1)抵靠基板30(即凹槽42的底部)。第一反射元件130与第二反射元件160深入凹槽42的深度可依据需求通过第一控制元件120与第二控制元件150调整，以更精准地对位至配置在基板40内的光波导元件20。类似地，在另一未示出的实施例中，图4的基板40内可依据需求埋设有多个光波导元件，而所述光波导元件位于同一水平基准面上(例如将图2所示的光波导元件20a、20b、20c埋设于图4的基板40内，而图4所示出的光波导元件20可视为是多个光波导元件20a、20b、20c的其中一个)。所述光波导元件可配置在作为核心板的基板30上或者位于增层结构44上，本发明不以此为限制。藉此，位于同一水平基准面的光波导元件可通过光学检测装置100逐一检测，也可采用光学检装置100a同时检测。具体而言，当图4的基板40内埋设有多个光波导元件(例如采用如图1所示的多个光波导元件20或采用如图2所示的多个光波导元件20a、20b、20c)时，各个光波导元件可通过凹槽42对应暴露出其第一端22与第二端24。此时，多个位于同一水平基准面的光波导元件可通过图1的光学检测装置100逐一进行检测，其作法为通过第一控制元件120与第二控制元件150控制第一反射元件130与第二反射元件160对应于其中一个光波导元件，以引导光线L通过所述光波导元件，而后依据上述作法逐一检测各光波导元件(请参照图1与图4及其相关说明)。或者，多个位于同一水平基准面的光波导元 件可通过图2的光学检测装置100a同时进行检测，其作法为通过第一控制元件120与第二控制元件150控制第一反射元件130与第二反射元件160同时对应于位于同一水平基准面上的光波导元件，以引导通过分光器170区分出的光线L1、L2、L3同时通过所述光波导元件，以同时检测光波导元件(请参照图2与图4及其相关说明)。另外，在本实施例中，前述埋设于基板40内的光波导元件(例如是图1与图4所示的光波导件20)也可通过图3的流程进行光学检测。然而，由于本实施例的光波导元件20内埋于基板40内，故在本实施例中，光学检测方法还包括下列步骤：通过第一控制元件120与第二控制元件150对应控制第一反射元件130与第二反射元件160对应伸入基板40的两凹槽42，以面对光波导元件20的第一端22与第二端24，其中光波导元件20配置于基板40内，而两凹槽42分别暴露出光波导元件20的第一端22与第二端24。类似地，当内埋于基板40内的光波导元件的数量为多个时(例如是图2所示的光波导件20a、20b、20c)，其也可通过图3的流程进行光学检测，且在执行上述流程之间先通过第一控制元件120与第二控制元件150对应控制第一反射元件130与第二反射元件160对应伸入基板40的两凹槽42，以面对光波导元件20的第一端22与第二端24。请再次参考图3与图4，在通过第一反射元件130与第二反射元件160对应伸入基板40的两凹槽42之后，埋设于基板40内的光波导元件20可通过前述流程进行光学检测，包括：在步骤S110中，通过操作接口检测光波导元件20的数量。由于本实施例仅以单轴检测单一光波导元件20，故可省略步骤S120。若进行光学检测的光波导元件的数量为多个时，可在步骤S120中，选择同时检测多个光波导元件，或者检测单个光波导元件。接着，在步骤S130中，判断第一反射元件130在水平基准面上的位置与角度是否将光发送元件110发出的光线对准于光波导元件20的第一端22，并判断第二反射元件160在水平基准面上的位置与角度是否将通过光波导元件20的第二端24的光线对准于光接收元件140。若否，则在步骤S140中，通过第一控制元件120与第二控制元件150分别控制第一反射元件130与第二反射元件160运动，并重新判断。若是，则在步骤S150中，通过操作接口控制光发送元件110发出光线，并通过第一控制元件120控制第一反射元件130运动，以将 光发送元件110发出的光线通过第一反射元件130对应反射至光波导元件20，同时通过第二控制元件150控制第二反射元件160运动，以将通过光波导元件20的光线通过第二反射元件160对应反射至光接收元件140，并通过操作接口控制光接收元件140接收通过光波导元件20并通过第二反射元件160反射的光线，以进行光学检测，例如是检测其光通量。由此可知，本发明的光学检测装置100与100a与对应的光学检测方法可用于检测单一光波导元件，而光学检测装置100a与对应的光学检测方法还可用于同时检测多个光波导元件(如图1所示出的多个光波导元件20或者如图2所示出的多个光波导元件20a、20b、20c)，且光学检测装置100与100a与光学检测方法检测光波导元件的动作不受限于光波导元件的数量以及其与基板30或基板40的相对位置。也即，无论光波导元件的数量多少，以及无论光波导元件配置于基板30上或配置于基板40内，光学检测装置100与100a与光学检测方法都可依据上述方式检测光波导元件，且上述检测动作不需破坏光波导元件或基板。其中，相较于光学检测装置100，光学检测装置100a可同时检测位于同一水平面上的多个光波导元件，故其可节省多个光波导元件的检测时间而提升检测效率。然而，本发明不限制以光学检测装置100或100a的何者检测多个光波导元件，其可依据需求选择。综上所述，本发明的光学检测装置与光学检测方法采用光发送元件搭配光接收元件来发送与接收光线，其中光线通过受到第一控制元件控制的第一反射元件反射至光波导元件，而通过光波导元件的光线通过受到第二控制元件控制的第二反射元件反射至光接收元件。换言之，本发明的光学检测装置与光学检测方法通过第一反射元件与第二反射元件反射光线，并通过第一控制元件与第二控制元件分别控制第一反射元件与第二反射元件的位置与角度，以使光线精准地通过光波导元件，而光学检测装置检测光波导元件的动作不受限于光波导元件与基板的相对位置，也即光波导元件不需迁就光发送元件与光接收元件的位置而在检测过程中受到破坏。此外，通过分光器的设计，也可使光学检测装置同时检测多个光波导元件。藉此，本发明的光学检测装置适于以非破坏性的方式检测光波导元件。最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通 技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。当前第1页1 2 3 当前第1页1 2 3