1.一种闪烁体探测系统，其特征在于，所述系统包括：
闪烁体，其入射面接受X射线的照射，其出射面上设置有光子晶体；
光学成像装置，其接收从所述闪烁体转化输出的可见光信号，并输出样品透射成像图；以及
与所述光学成像装置连接的GPU工作站，其接收所述样品透射成像图，并确定点扩散函数，再结合该点扩散函数利用图像恢复算法对该样品透射成像图并行化进行图像反卷积运算，以实时恢复所述样品透射成像图的成像分辨率。
2.根据权利要求1所述的闪烁体探测系统，其特征在于，所述X射线由X射线管或同步辐射光源提供。
3.根据权利要求1所述的闪烁体探测系统，其特征在于，所述光学成像装置包括光收集部件、光电转换器件以及电子学仪器，其中，所述光收集部件邻近所述闪烁体的出射面设置，所述电子学仪器连接在所述光电转换器件与所述GPU工作站之间。
4.根据权利要求3所述的闪烁体探测系统，其特征在于，所述光收集部件包括多个具有不同放大倍数的透镜。
5.根据权利要求3所述的闪烁体探测系统，其特征在于，所述光电转换器件为CCD相机或CMOS相机。