一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置的制作方法

文档序号:12265643阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置,包括光源装置(10)、测试装置(11)、第一光程相关器(12A)、第二光程相关器(12B)、差分探测装置(13)、光电信号转换与信号记录装置(14),其特征是:

测试装置(11)中包括待测器件(110)、与待测器件(110)两端相连接的第1环行器(113A)和第2环行器(113B)、第1起偏器(111A)和第1检偏器(111B)、第2起偏器(112A)和第2检偏器(112B);

第1环行器(113A)和第2环行器(113B)具有相同的物理参数,待测器件(110)的两端分别与第1环行器(113A)和第2环行器(113B)的第2端口连接;第1起偏器(111A)和第2起偏器(112A)具有相同的起偏角度,二者分别与第1环行器(113A)和第2环行器(113B)的第1端口连接;第1检偏器(111B)和第2检偏器(112B)具有相同的检偏角度,二者分别与第1环行器(113A)和第2环行器(113B)的第3端口连接;

宽谱光源(101)经由第1耦合器(103)平均分光到测试装置(11);两束光分别经由待测器件(110)的两端输入,同时产生正向、反向的两组信号;由第一光程相关器(12A)、第二光程相关器(12B)进行扫描;最后输出两幅扫描位置对称的偏振耦合信号,实现对待测器件(110)的正向、反向同时测试。

2.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置,其特征是:

光源装置(10)中的宽谱光源(101),经由第1耦合器(103)平均分光到测试装置(11)中进行偏振耦合测试;光源装置(10)中的校正光源(102)经由第2耦合器(104)平均分光到第一光程相关器(12A)、第二光程相关器(12B)中进行扫描位置校正;

第1光程相关器(12A)由第3耦合器(121A)、第4耦合器(122A)、第3环行器(123A)、第1准直透镜(124A)和扫描台(125)组成;宽谱光源(101)经由待测器件(110)及测试装置(11)中的器件通过第2检偏器(112B)和第3耦合器(121A)输入端连接;校正光源(102)通过第2耦合器(104)和第3耦合器(121A)另一个输入端连接;第4耦合器(122A)的两个输出端分别与第一差分探测器(130A)、第二差分探测器(130B)连接;经过数据采集卡(141)进行数据采集,传输到上位机(142)输出偏振耦合信号;

第2光程相关器(12A)与第1光程相关器(12A)除了共用扫描台(125),其他器件的物理参数对应一致。

3.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置,其特征在于:所述的第1环行器(113A)和第2环行器(113B),是三端口器件,光只沿一个方向传播;信号若从第1端口(71A)输入,则只能从第2端口(71B)输出;而信号从第2端口(71B)输入,则只能第3端口(71C)输出;反之,均不可传输。

4.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置,其特征在于:

测试装置(21)中包括待测器件(110)、与待测器件(110)两端相连接的正向耦合器(214A)和反向耦合器(214B)、第1起偏器(111A)和第1检偏器(111B)、第2起偏器(112A)和第2检偏器(112B)、第1隔离器(213A)和第2隔离器(213B);

待测器件(110)的两端分别与正向耦合器(214A)和反向耦合器(214B)的一端连接;第1隔离器(213A)和第2隔离器(213B)的输出端口(72B)分别与正向耦合器(214A)和反向耦合器(214B)的另一端连接;第1起偏器(111A)和第2起偏器(112A)具有相同的起偏角度,二者分别与第1隔离器(213A)和第2隔离器(213B)的输入端口(72A)连接;第1检偏器(111B)和第2检偏器(112B)具有相同的检偏角度,二者分别与正向耦合器(214A)和反向耦合器(214B)的另一端连接。

5.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺环偏振耦合的对称性评估装置,其特征是:所述的第1隔离器(213A)或第2隔离器(213B)从第1端口输入,从第2端口输出,光只能沿一个方向传播,反之不可传输。

当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1