技术总结
本发明公开了一种基于并行施加测试激励的低功耗扫描测试方法及装置，该方法包括如下步骤：S1.将被测电路中的扫描单元划分构建成为若干条等长的扫描链；S2.依次向各扫描链施加测试使能信号和测试时钟脉冲，直到遍历完所有扫描链；S3.同时对所有扫描链施加捕获时钟，同时捕获各扫描链中扫描单元的响应输出，并依次输出所捕获的响应输出。以及实现该方法的低功耗扫描测试装置；该装置包括扫描链构建模块、扫描激励模块和扫描捕获模块。本发明具有实现方法简单、灵活性高、功耗低、测试时间短、能够适用于多条扫描链的扫描测试等优点。
技术研发人员：郭阳;邓丁;宋结兵;李振涛;张臻阳
受保护的技术使用者：中国人民解放军国防科学技术大学
文档号码：201610567940
技术研发日：2016.07.15
技术公布日：2016.12.14