技术总结
本发明公开了一种研磨钢化玻璃绝缘子进行X射线衍射分析的方法，包括下列步骤：S1、对待测钢化玻璃绝缘子样品分组编号；S2、对各组钢化玻璃绝缘子样品进行碎片化处理；S3、对各组碎片化的钢化玻璃绝缘子样品进行初步研碎处理；S4、对各组初步研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行深度研碎处理；S5、对各组深度研碎的钢化玻璃绝缘子样品进行初步密度分层操作，筛选微粒；S6、在玛瑙研钵中研磨钢化玻璃绝缘子样品微粒；S7、对钢化玻璃绝缘子研磨产品进行精度检测。该方法采用初步研碎和二次研磨，有效提升了研磨后产品的精度，利于后续的X射线衍射分析仪分析其中的成分，更好地研究钢化玻璃绝缘子自爆的原因，同时，便于掌握和推广。
技术研发人员：刘刚;李炀;杨宇航
受保护的技术使用者：华南理工大学
文档号码：201610667908
技术研发日：2016.08.15
技术公布日：2016.11.23