一种集成运放的定点检测机构的制作方法

文档序号:12467231阅读:255来源:国知局
一种集成运放的定点检测机构的制作方法与工艺

本发明涉及集成电路检测设备的技术领域,具体是涉及一种集成运放的定点检测机构。



背景技术:

运算放大器集成电路,又称为集成运算放大器,简称为集成运放,是由多级直接耦合放大电路组成的高增益模拟集成电路。现有的运算放大器集成电路的检测一般是人工使用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高),同时用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好,若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。而诸如此类的手工检测,都要依靠手持与检测表相连的探针去接触集成电路检测部位的定位检测点,但如果是运算放大器集成电路的检测,还需要手动给集成电路加入干扰信号,这样单人双手完成检测则较为困难。

有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的集成运放的定点检测机构,使其更具有产业上的利用价值。



技术实现要素:

本发明的目的旨在解决现有技术存在的问题,提供一种能释放双手,方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接的集成运放的定点检测机构。

本发明涉及一种集成运放的定点检测机构,包括夹持机构、插接在所述夹持机构上的花键柱、插套在所述花键柱上的伸缩管、插接在所述伸缩管内的伸缩杆和连接在所述伸缩杆一端的探针;

所述夹持机构包括夹持座、成型在所述夹持座侧壁上的长条形的夹持导轨、固定在所述夹持导轨中部的第一夹持板和活动设置在所述第一夹持板两侧的夹持导轨上的第二夹持板,所述第二夹持板与第一夹持板相垂直,第二夹持板和第一夹持板上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽,一对第二夹持板上的夹持槽相向设置;

所述夹持座的中部上端成型有向上凸出的连接板,所述连接板的上端成型有检测底座,所述检测底座的上端面上成型有一圆形槽,所述花键柱的下端插接在所述圆形槽内,花键柱的下端成型有向检测底座内部延伸的连接柱,所述连接柱的一端成型有向上延伸的转动柱,所述转动柱的上端穿出检测底座的上端面,检测底座的上端面上成型有环形的旋转槽,转动柱插接在所述旋转槽内,圆形槽的侧壁上成型有环形的连接槽,所述连接柱插接在所述连接槽内,圆形槽通过连接槽与旋转槽相连通;

所述伸缩管的一端成型有内花键孔,所述花键柱插套在所述内花键孔内,伸缩管的另一端成型有伸缩槽,所述伸缩杆插接在所述伸缩槽内,伸缩杆的上端成型有沿伸缩杆纵向延伸的齿条部,伸缩槽内铰接有与所述齿条部啮合的调节齿轮,伸缩管的上端成型有避让槽口,所述调节齿轮的上端伸出所述避让槽口并啮合有调节齿条。

借由上述技术方案,本发明在工作时,首先将待检测的集成运放夹持在夹持机构上,具体地,将集成运放夹持在第一夹持板和第二夹持板的夹持槽内,可根据集成运放的宽度来调节第二夹持板之间的距离,通过在夹持导轨上移动第二夹持板,使得集成运放的两侧边位于第二夹持板的夹持槽内,集成运放的另一侧边则被第一夹持板的夹持槽夹持,由此,集成运放被夹持在检测底座的下方待检测。集成运放夹持完成之后,通过调节伸缩杆伸出伸缩管的距离,使得伸缩杆上的探针位于集成运放上的检测定位点的上方,具体地,推动或拉动调节齿条,使得调节齿轮正向或反向转动,调节齿轮带动与之啮合的齿条部移动,齿条部带动伸缩杆在伸缩槽内前后移动,直至探针位于检测定位点的上方。之后,通过转动柱使得其沿旋转槽旋转,使得转动柱带动连接柱在连接槽内转动,连接柱带动花键柱在检测底座的圆形槽内转动,从而使得伸缩杆上的探针位于集成运放的检测点的正上方。之后,可通过伸缩管与花键柱之间的花键连接,使得伸缩管的内花键孔在花键柱上上下移动,从而使得探针与集成运放上的检测定位点接触,探针可以通过导线与检测的表具相电连接,对检测定位点进行检测。

通过上述方案,本发明的定点检测机构通过夹持机构将待测的集成运放夹持,并通过伸缩管和伸缩杆以及花键柱来调节定位,从而能释放双手,且方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。

作为上述方案的一种优选,所述避让槽口一侧的伸缩管上端面上成型有与所述调节齿条纵向平行的导向槽,调节齿条的底面一端成型有导向块,所述导向块插接在所述导向槽内。按上述方案,调节齿条在通过调节齿轮带动伸缩杆在伸缩管内前后移动的过程中,导向块在导向槽内移动,从而对调节齿条的调节位置进行导向。

作为上述方案的一种优选,所述调节齿条罩设在一罩壳内,所述罩壳铰接在伸缩管的上端面上,罩壳将避让槽口和调节齿轮均罩设在内,调节齿条的一端伸出罩壳,所述导向块和导向槽位于罩壳外。按上述方案,罩壳可对调节齿条、调节齿轮进行保护,还可以打开罩壳对调节齿条、调节齿轮进行维护或拆卸。

作为上述方案的一种优选,所述伸缩杆的一端成型有圆形的连接头,所述探针插接在所述连接头上,探针的上端穿过伸缩杆并成型有提手,所述提手抵靠在连接头上,探针的下端插套有第二压簧并成型有环形的轴台,所述第二压簧的一端抵靠在所述轴台上、另一端抵靠在连接头上。按上述方案,通过第二压簧的弹力作用,探针与集成电路板上的检测定位点的接触为弹性接触,从而能避免接触不良。

作为上述方案的一种优选,所述夹持导轨上成型有导轨槽,所述导轨槽与第二夹持板的纵向方向垂直,所述第一夹持板固定在导轨槽内,第二夹持板的一端成型有移动块,所述移动块插接在导轨槽内并可沿导轨槽移动。

作为上述方案的一种优选,所述花键柱的上部成型有外花键,所述伸缩管的一端成型有圆形的插接头,所述插接头上成型有所述内花键孔,插接头通过内花键孔插套在花键柱的外花键上。

作为上述方案的一种优选,所述避让槽口的长度不小于调节齿轮的最大直径。

作为上述方案的一种优选,所述转动柱的上端穿出检测底座的上端面并成型有转动手柄。

上述说明仅是本发明技术方案的概述,为了能够更清楚了解本发明的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明:

以下附图仅旨在于对本发明做示意性说明和解释,并不限定本发明的范围。其中:

图1为本发明的结构示意图;

图2为图1的剖视图的局部结构示意图;

图3为图1的俯视图的局部结构示意图;

图4为图2的局部结构示意图;

图5为本发明中夹持机构的局部结构示意图。

具体实施方式:

下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不用来限制本发明的范围。

参见图1,本发明所述的一种集成运放的定点检测机构,包括夹持机构10、插接在所述夹持机构上的花键柱20、插套在所述花键柱上的伸缩管30、插接在所述伸缩管内的伸缩杆40和连接在所述伸缩杆一端的探针50,所述伸缩杆40的一端成型有圆形的连接头41,所述探针50插接在所述连接头41上,探针50的上端穿过伸缩杆40并成型有提手51,所述提手抵靠在连接头41上,探针50的下端插套有第二压簧52并成型有环形的轴台53,所述第二压簧52的一端抵靠在所述轴台53上、另一端抵靠在连接头41上。

参见图1、图5,所述夹持机构10包括夹持座11、成型在所述夹持座侧壁上的长条形的夹持导轨12、固定在所述夹持导轨中部的第一夹持板13和活动设置在所述第一夹持板两侧的夹持导轨12上的第二夹持板14,所述夹持导轨12上成型有导轨槽121,所述导轨槽与第二夹持板14的纵向方向垂直,所述第一夹持板13固定在导轨槽121内,第二夹持板14的一端成型有移动块141,所述移动块插接在导轨槽121内并可沿导轨槽121移动,所述第二夹持板14与第一夹持板13相垂直,第二夹持板14和第一夹持板13上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽15,一对第二夹持板14上的夹持槽15相向设置。

参见图1、图4,所述夹持座11的中部上端成型有向上凸出的连接板16,所述连接板的上端成型有检测底座17,所述检测底座的上端面上成型有一圆形槽171,所述花键柱20的下端插接在所述圆形槽171内,花键柱20的下端成型有向检测底座17内部延伸的连接柱21,所述连接柱的一端成型有向上延伸的转动柱22,所述转动柱的上端穿出检测底座17的上端面并成型有转动手柄23,检测底座17的上端面上成型有环形的旋转槽172,转动柱22插接在所述旋转槽172内,圆形槽171的侧壁上成型有环形的连接槽173,所述连接柱21插接在所述连接槽173内,圆形槽171通过连接槽173与旋转槽172相连通。

参见图2、图3,所述花键柱20的上部成型有外花键24,所述伸缩管30的一端成型有圆形的插接头31,所述插接头上成型有所述内花键孔311,插接头31通过内花键孔311插套在花键柱20的外花键24上,伸缩管30的另一端成型有伸缩槽32,所述伸缩杆40插接在所述伸缩槽32内,伸缩杆40的上端成型有沿伸缩杆40纵向延伸的齿条部42,伸缩槽32内铰接有与所述齿条部42啮合的调节齿轮60,伸缩管30的上端成型有避让槽口33,所述调节齿轮60的上端伸出所述避让槽口33并啮合有调节齿条70,避让槽口33的长度不小于调节齿轮60的最大直径。

参见图2,所述避让槽口33一侧的伸缩管30上端面上成型有与所述调节齿条70纵向平行的导向槽34,调节齿条70的底面一端成型有导向块71,所述导向块插接在所述导向槽34内,调节齿条70罩设在一罩壳80内,所述罩壳铰接在伸缩管30的上端面上,罩壳80将避让槽口33和调节齿轮60均罩设在内,调节齿条70的一端伸出罩壳80,所述导向块71和导向槽34位于罩壳80外。

本发明在具体实施时,首先将待检测的集成运放夹持在夹持机构10上,具体地,将集成运放夹持在第一夹持板13和第二夹持板14的夹持槽15内,可根据集成运放的宽度来调节第二夹持板14之间的距离,通过在夹持导轨12上移动第二夹持板14,使得集成运放的两侧边位于第二夹持板14的夹持槽15内,集成运放的另一侧边则被第一夹持板14的夹持槽15夹持,由此,集成运放被夹持在检测底座17的下方待检测。集成运放夹持完成之后,通过调节伸缩杆40伸出伸缩管30的距离,使得伸缩杆40上的探针50位于集成运放上的检测定位点的上方,具体地,推动或拉动调节齿条70,使得调节齿轮60正向或反向转动,调节齿轮60带动与之啮合的齿条部42移动,齿条部42带动伸缩杆40在伸缩槽32内前后移动,直至探针50位于检测定位点的上方。之后,通过转动柱22使得其沿旋转槽172旋转,使得转动柱22带动连接柱21在连接槽173内转动,连接柱21带动花键柱20在检测底座17的圆形槽171内转动,从而使得伸缩杆40上的探针50位于集成运放的检测点的正上方。之后,可通过伸缩管30与花键柱20之间的花键连接,使得伸缩管30的内花键孔311在花键柱20上上下移动,从而使得探针50与集成运放上的检测定位点接触,探针50可以通过导线与检测的表具相电连接,对检测定位点进行检测。

综上所述,本发明的定点检测机构通过夹持机构10将待测的集成运放夹持,并通过伸缩管30和伸缩杆40以及花键柱20来调节定位,从而能释放双手,且方便与集成电路检测部位的定位检测点相接触连接。

本发明所提供的集成运放的定点检测机构,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

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