射频测试装置、数据处理方法及设备、射频测试系统与流程

本发明涉及测试技术领域，具体地，涉及一种射频测试装置、一种数据处理方法、一种数据处理设备、以及一种射频测试系统。

背景技术：

在现有的射频测试领域中，对于射频发射/接收元件(例如天线)的测试一般采用的测试方法为：在天线处焊接一根信号传输线，再进行常规测试。但是采用这种方法主要存在以下问题：

(1)焊接方法与焊点的不同会影响到信号的稳定性，使每一个待测物的信号损耗都不同，缺乏标准化，测试效率低下。

(2)在测试完成后，需要取下焊接上的信号传输线，使得测试效率低下。

因此，需要在测试中尽量把不稳定的因素确定下来，减少外部因素对测试结果的干扰。即现有技术中缺少一种能够提高对待测物的测试可靠性和测试效率的测试装置以及相关方法。

技术实现要素：

针对现有技术中存在的射频领域中测试可靠性不高和测试效率低下的技术问题，本发明提供了一种射频测试装置，该装置包括：夹具，用于将放置在夹具内部的待测物与信号接收板夹紧固定；信号接收板，所述信号接收板安装在所述夹具内，用于接收所述待测物的测试信号并将该测试信号通过传输线输出；以及屏蔽箱，用于将测试环境与外部环境隔离。

优选地，所述夹具包括：第一固定装置、上顶板、顶针、第一弹性元件、第二弹性元件、第二固定装置、以及下底板，其中：所述第一固定装置固定在所述上顶板上，所述顶针安装在所述上顶板上，所述上顶板的左端部与所述下底板的左端部之间通过所述第一弹性元件连接，所述上顶板的右端部与所述下底板的右端部之间通过所述第二弹性元件连接，以及所述第二固定装置安装在所述下底板上，用于将所述待测物和所述信号接收板固定。

优选地，所述待测物为射频发射/接收元件。

相应地，本发明还提供了一种对本发明提供的射频测试装置获得的测试信号进行数据处理的数据处理方法，该方法包括：接收来自射频测试装置的针对待测物的测试信号；以及根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型，确定所述待测物的测试结果。

优选地，所述校准模型包括：与所述待测物的类型对应的标准测量物在所述射频测试装置中测试获得的标准信号和标准补偿值。

优选地，所述根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型确定所述待测物的测试结果包括：计算所述测试信号与所述标准信号之间的差值；以及将所述差值与所述标准补偿值相加作为所述待测物的测试结果。

此外，本发明还提供了一种对本发明提供的射频测试装置获得的测试信号进行数据处理的数据处理设备，该设备包括：接收器，用于接收来自射频测试装置的针对待测物的测试信号；以及处理器，用于根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型确定所述待测物的测试结果。

优选地，所述校准模型包括：与所述待测物的类型对应的标准测量物在所述射频测试装置中测试获得的标准信号和标准补偿值。

优选地，所述处理器用于：计算所述测试信号与所述标准信号之间的差值；以及将所述差值与所述标准补偿值相加作为所述待测物的测试结果。

另外，本发明还提供了一种射频测试系统，该系统包括：本发明提供的射频测试装置，用于对待测物进行测试并输出测试信号；以及本发明提供的数据处理设备，所述数据处理设备与所述射频测试装置连接，用于对所述测试信号进行数据处理以确定针对所述待测物的测试结果。

通过上述技术方案，使用射频测试装置对待测物(例如射频发射/接收元件)进行测试，减少了人工的干预，提高了测试的可靠性和测试效率，有效地把待测物的信号损耗控制在一个有限的范围内并且减少了其他外部因素的影响。

优选地，采用本发明提供的数据处理方法和设备可以精确地计算测试结果，进一步保证了测量结果的可靠性。

本发明的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。

附图说明

附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是根据本发明的一种实施方式的示例射频测试系统的结构示意图；

图2是根据本发明的一种实施方式的示例数据处理设备的结构示意图；以及

图3是根据本发明的一种实施方式的示例数据处理方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。

为了更加清楚地说明本发明的思想，下面以示例射频测试系统为例进行详细地说明。图1是根据本发明的一种实施方式的示例射频测试系统1000的结构示意图，如图1所示，该系统可以包括：本发明的射频测试装置100，用于对待测物进行测试并输出测试信号；以及数据处理设备200，所述数据处理设备200与所述射频测试装置100连接，用于对所述测试信号进行数据处理以确定针对所述待测物的测试结果。

具体地，如图1所示，该射频测试装置100可以包括：夹具，用于将放置在夹具内部的待测物4与信号接收板6夹紧固定。例如，所述夹具可以包括：第一固定装置1、上顶板2、顶针3、第一弹性元件9、第二弹性元件10、第二固定装置5、以及下底板8，其中：所述第一固定装置1固定在所述上顶板2上，所述顶针3安装在所述上顶板2上，所述上顶板2的左端部与所述下底板8的左端部之间通过第一弹性元件9连接，以及所述上顶板2的右端部与所述下底板8的右端部之间通过第二弹性元件10连接，以及所述第二固定装置5安装在所述下底板2上，用于将所述待测物4和所述信号接收板6固定。优选地，所述第一弹性元件9和第二弹性元件10可以为弹簧。所述信号接收板6安装在所述夹具内，例如安装在所述下底板8上的任意适当的位置，用于接收所述待测物的测试信号并将该测试信号通过传输线7输出，其中所述信号接收板6和所述待测物4之间可以紧密连接，也可以具有一定的间距；以及屏蔽箱11，用于将测试环境与外部环境隔离，以避免信号干扰。其中，所述第一固定装置1、上顶板2、第二固定装置5可以由任何适当的材质制成，例如亚克力板。以及所述顶针3可以由任何适当的材质制成，例如不锈钢。所述信号接收板可以为任意类型的接收板，例如铜耦合板。

在使用该射频测试装置100时，如图1所示，可以先将待测物4(例如射频发射/接收元件，诸如天线等)的一部分固定在第二固定装置5处，待测物4的另一部分可以与所述信号接收板6连接或具有一定间距的固定。之后，通过对第一固定装置1施加力，使得第一弹性元件9和第二弹性元件10向下做功并直到顶针3与所述待测物4和信号接收板6充分接触，信号接收板6接收待测物4的测试信号并将其通过传输线7输出，例如输出到数据处理设备200确定测试结果。

为了确定测试结果，本发明的数据处理设备200需要预先建立校准模型，所述校准模型可以包括：与所述待测物的类型对应的标准测量物在所述射频测试装置中测试获得的标准信号和标准补偿值。

因此，对于标准信号仍需要使用该射频测试装置100测得，如图1所示，可以先将标准测量物，即与所述待测物的类型对应的标准测量物(例如对应不同类型的射频发射/接收元件的标准板)的一部分固定在第二固定装置5处，标准测量物的另一部分可以与所述信号接收板6连接或具有一定间距的固定。之后，通过对第一固定装置1施加力，使得第一弹性元件9和第二弹性元件10向下做功并直到顶针3与标准测量物和信号接收板6充分接触，信号接收板6接收标准测量物的测试信号作为标准信号并将其通过传输线7输出，例如输出到数据处理设备200进行存储。

数据处理设备200可以将不同类型的射频发射/接收元件的标准板的标准信号和对应的标准补偿进行关联并建立校准模型，其中标准补偿为射频测试装置100的组件(即第一固定装置1、上顶板2、顶针3、第一弹性元件9、第二弹性元件10、第二固定装置5、以及下底板8、传输线7、屏蔽箱11)在测试过程中的传输损耗值，其该传输损耗值对测试结果具有影响，因此需要进行补偿。由于该传输损耗值是固定的，所以每次的标准补偿在一个固定数值范围内，可以达到一次统计，多次使用。同时，为了优化校准模型，可以设置每天或每一定数量的测试后(例如每测1000个待测物)就对校准模型一次校准(即执行上述测量过程)，并将校准后的数据更新到校准模型中。

图2是根据本发明的一种实施方式的示例数据处理设备200的结构示意图，该设备可以对上述射频测试装置获得的测试信号进行数据处理该设备可以包括：接收器201，用于接收来自射频测试装置100的针对待测物的测试信号；以及处理器202，用于根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型确定所述待测物的测试结果。

具体地，如上所述，所述校准模型可以包括与所述待测物的类型对应的标准测量物在所述射频测试装置中测试获得的标准信号和标准补偿值。所述处理器202可以计算所述测试信号与所述标准信号之间的差值；以及将所述差值与所述标准补偿值相加作为所述待测物的最终测试结果。即对于不同类型的待测物处理器202可以从校准模型中调用不同的标准信号和标准补偿，执行上述数据处理过程，从而获得对待测物的精确测试结果。其中所述数据处理设备200可以是任何能够实现上述功能的设备，例如其可以是计算机或者上位机等等。

采用本发明提供的射频测试装置通过夹具固定了待测物的位置，保证了射频信号的一致性和可靠性，提高测试的准确度，从而提高产品的质量与可靠性。每一个待测物，都在几乎相同的可量化的测试环境下进行测试，而且排除了一些人为的干扰因素(例如，焊接方法)。本发明通过使用射频测试装置和数据处理设备提高了效率、降低了成本，有效地把待测物的信号损耗控制在一个有限的范围内并且减少了其他外部因素的影响，提高了测试的可靠性、测试效率和测试准确度。

图3是根据本发明的一种实施方式的示例数据处理方法的流程图，如图3所示，该方法可以包括以下步骤：

步骤S11，接收来自射频测试装置的针对待测物的测试信号；以及

步骤S12，根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型，确定所述待测物的测试结果。

优选地，所述校准模型包括：与所述待测物的类型对应的标准测量物在所述射频测试装置中测试获得的标准信号和标准补偿值。

优选地，所述根据所述测试信号和所述待测物的类型对应的校准模型确定所述待测物的测试结果包括：计算所述测试信号与所述标准信号之间的差值；以及将所述差值与所述标准补偿值相加作为所述待测物的测试结果。

应当理解的是，上述数据处理方法的各个具体实施方式，均已在示例射频测试系统、数据处理设备的实施方式中做了详细地说明(如上所述)，在此不再赘述。并且，本领域技术人员可以根据本发明的公开选择上述各种实施方式中的任一者，或者选择上述各种实施方式的组合来配置射频测试系统和数据处理设备，并且其他的替换实施方式也落入本发明的保护范围。

以上结合附图详细描述了本发明的优选实施方式，但是，本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明的技术构思范围内，可以对本发明的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明的保护范围。

另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合，为了避免不必要的重复，本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。

此外，本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明的思想，其同样应当视为本发明所公开的内容。