1.一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计，其特征在于，包括：LED白光源、光子初态制备系统、磁光耦合系统以及探测系统；其中：
所述LED白光源，用于产生与磁场相互作用的宽谱光子；
所述初态制备系统，用于将LED光源产生的宽谱光子准直，并将宽谱光子的偏振态制备到所需量子态上；
所述磁光耦合系统，用于将宽谱光子的量子态和磁场耦合后输出；
所述探测系统，用于将宽谱光子圆偏振态转化为线偏振态，并在线偏振态中的水平和竖直偏振之间引入一个稳定的偏置相位差，从而将系统的工作点设置于最敏感区域；再进行偏振态投影从而对宽谱光子进行后选择，测量后选择出宽谱光子的光谱分布；通过比照光谱分布的变化，从而测算出磁光耦合系统所处位置磁场强度的变化。
2.根据权利要求1所述的一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计，其特征在于，所述初态制备系统包括：准直透镜组与第一Wollaston棱镜；
所述准直透镜组，用于将LED光源产生的宽谱光子准直；
所述第一Wollaston棱镜，用于将准直后的宽谱光子态制备到左旋偏振L与右旋偏振R的量子叠加态。
3.根据权利要求1所述的一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计，其特征在于，所述磁光耦合系统为磁光晶体，磁光晶体放置为平行于磁场方向。
4.根据权利要求1或2所述的一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计，其特征在于，所述探测系统包括：1/4-1/2波片组、1/2波片组、第二Wollaston棱镜以及光谱仪；其中：
所述1/4-1/2波片组，用于将宽谱光子从左旋偏振L与右旋偏振R的量子叠加态转换成水平和竖直偏振的线偏振态；
所述1/2波片组，用于在光子水平和竖直偏振态之间引入一个稳定的偏置相位差，从而将系统的工作点设置于最敏感区域；
所述第二Wollaston棱镜，用于进行偏振态投影从而对宽谱光子进行后选择；
所述光谱仪，用于测量后选择出宽谱光子的光谱分布，通过比照光谱分布的变化，从而测算出磁光耦合系统所处位置磁场强度的变化。