技术总结
本发明公开了一种基于新型量子弱测量的高精密磁场计，其包括：LED白光源，用于产生与磁场相互作用的宽谱光子；初态制备系统，用于将LED光源产生的宽谱光子准直，并将宽谱光子的偏振态制备到所需量子态上；磁光耦合系统，用于将宽谱光子所制备的量子态和磁场耦合后输出；探测系统，用于将宽谱光子圆偏振态转化为线偏振态，并在线偏振态中的水平和竖直偏振之间引入一个稳定的偏置相位差，从而将系统的工作点设置于最敏感区域；再进行偏振态投影从而对宽谱光子进行后选择，测量后选择出宽谱光子的光谱分布；通过比照光谱分布的变化，从而测算出磁光耦合系统所处位置磁场强度的变化。该方案利用特定的偏置相位差改变了传统弱测量的工作点，极大提高了测量精度。相比较超导量子干涉磁场计，可以达到相近分辨率且无需低温装置和干涉装置，成本低廉且工作状态稳定。
技术研发人员：陈耕;李传锋
受保护的技术使用者：中国科学技术大学
文档号码：201610885851
技术研发日：2016.10.10
技术公布日：2017.03.08