一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法及装置与流程

技术特征：

1.一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法，其特征在于该方法如下：将光纤陀螺的光纤环置于温控环境的转台上，将光纤陀螺非光纤环部分置于外部，在温控环境温度变化控制的同时控制转台进行特定角速度控制，采集光纤陀螺的耦合器输出的数据利用数据处理算法进行处理，获得光纤环温变特性。

2.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法，其特征在于：所述采集光纤陀螺的耦合器输出的数据的时刻是温控环境内温度稳定的时刻。

3.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法，其特征在于：所述的特定角速度控制是将转台从静止(角速度为0)开始，以恒定加速度a加速直至角速度为ω₀，随后再以恒定加速度a减速直到角速度为-ω₀，接着以加速度a加速直到角速度为0，以此重复循环50次以上；

上述角速度ω₀满足：ω₀>λc/LD，式中λ为光源平均波长，c为真空中光速，D为光纤环的线圈平均直径，L为光纤环的光纤长度。

4.根据权利要求1所述的一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法，其特征在于：所述的数据处理算法具体是：针对采集获得的耦合器输出数据，通过时域平均获得角速度从-ω₀到ω₀的时域平均数据，用时域平均数据进行拟合获得数据时域周期T_t，再采用以下公式计算获得光纤长度L和平均直径D乘积随温度变化的光纤环特征参数：

${\[LD\]}_T=\frac{\mathrm{\λ}c}{{\mathrm{aT}}_t}$

式中，a为转台角加速度，T_t为探测光强的时域周期，λ为光源平均波长，波动忽略不计，c为真空中光速，D为光纤环的线圈平均直径，L为光纤环的光纤长度，T为测试温度，[LD]_T为测试温度T下L与D的乘积，即光纤环特征参数。

5.用于实施权利要求1-4任一所述的一种光纤陀螺光纤环温变特性测量装置，其特征在于：所述测量装置连接在对光纤陀螺的光学系统上，包括探测器、信号放大器、模数转换器、数字信号处理芯片和置于温控箱(1)下的转台(2)，光纤陀螺光学系统中的耦合器的输出端依次经探测器、信号放大器、模数转换器后与数字信号处理芯片连接，将光纤陀螺光学系统的光纤环(3)置于温控环境的转台(2)上，转台(2)连接电机(4)，将光纤陀螺光学系统的非光纤环部分(5)置于温控环境外部的转台(6)。

6.根据权利要求5所述的一种光纤陀螺光纤环温变特性测量装置，其特征在于：所述的探测器探测光纤陀螺光学系统中耦合器的输出端光强，探测器信号经信号放大器后输入到模数转换器转换，数字信号处理芯片采集模数转换器信号，并连接传输到上位机。