技术总结
本发明公开了一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法及装置。将光纤陀螺的光纤环置于温控环境的转台上，将光纤陀螺非光纤环部分置于外部转台，在温控环境温度变化控制的同时控制转台进行特定角速度控制，采集光纤陀螺的耦合器输出的数据利用数据处理算法进行处理，获得光纤环温变特性；所述测量装置连接在对光纤陀螺的光学系统上，包括探测器、信号放大器、模数转换器、数字信号处理芯片和置于温控箱下的转台。本发明方法可对光纤陀螺光纤环结构温度性能进行测试评估，方法简单可靠，测量时间短，为光纤陀螺标度因数高温度稳定性的提高提供基础。
技术研发人员：陈杏藩;毕然;刘承;舒晓武
受保护的技术使用者：浙江大学
文档号码：201610933044
技术研发日：2016.10.25
技术公布日：2017.02.22