一种陀螺仪电路板老化测试系统的制作方法

文档序号:12593367

本发明涉及测试设备,尤其涉及一种陀螺仪电路板老化测试系统。



背景技术:

MEMS陀螺仪又称微机电陀螺仪,在如今的航模、手机和相机中广泛应用。陀螺仪中设置两个方向上的可移动电容板,由电容的变化计算出角速度,再将角运动信号转化为电信号。因此,陀螺仪电路板也经常面临老化导致失灵的问题。



技术实现要素:

本发明的目的在于针对已有的技术现状,提供一种陀螺仪电路板老化测试系统。

为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种陀螺仪电路板老化测试系统,主要包括:主控部分、测试部分和被测部分,所述的测试部分设置电源模块和万用表模块,测试部分设有输出模块,输出模块中设有信号源和功放模块。

进一步的,所述的主控部分包括PC端和集线器,集线器通过LAN与电源模块和万用表模块连接,集线器通过GPIB与输出模块连接。

进一步的,所述的电源模块集成了2台电源,万用表模块集成了3台万用表。

进一步的,所述的被测部分包括接口板和被测件,被测件通过接口板接入测试部分。

进一步的,所述的接口板集成了10块接口。

进一步的,所述的电源、万用表和信号源均是可程控电子设备。

本发明的有益效果为:

1、相比于现有测试设备,其陀螺仪电路板老化测试系统通过集线器将测试部分设备集成,经接口板将被测件接入测试部分进行测试,由PC端编程控制测试过程,自动化程度高;

2、多个电源、万用表和接口的集成,可同时对多个被测件进行测试,测试速度块,效率高,测试精度高。

附图说明:

附图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式:

为了使审查委员能对本发明之目的、特征及功能有更进一步了解,兹举较佳实施例并配合图式详细说明如下:

请参阅图1所示,系为本发明之较佳实施例的结构示意图,一种陀螺仪电路板老化测试系统,主要包括:主控部分1、测试部分2和被测部分3,所述的测试部分2设置电源模块21和万用表模块22,测试部分2设有输出模块23,输出模块23中设有信号源231和功放模块232,所述的主控部分1包括PC端11和集线器12,集线器12通过LAN4与电源模块21和万用表模块22连接,集线器12通过GPIB5与输出模块23连接,所述的电源模块21集成了2台电源211,万用表模块22集成了3台万用表221,所述的被测部分3包括接口板31和被测件32,被测件32通过接口板31接入测试部分2,所述的接口板31集成了10块接口311,所述的电源211、万用表221和信号源231均是可程控电子设备。

陀螺仪电路板老化测试系统利用集线器12通过LAN4缆线和GPIB5缆线将电源211、信号源231和万用表221集成到一起,接口板31内集成了10块接口311,可同时接入多达10个被测件32,再由PC端11通过测控软件控制测试部分2对被测件32进行测试。

当然,以上图示仅为本发明较佳实施方式,并非以此限定本发明的使用范围,故,凡是在本发明原理上做等效改变均应包含在本发明的保护范围内。

再多了解一些
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