1.一种光源相位噪声的测试方法，其特征在于，首先，在光纤干涉仪的一路延迟光纤上设置相位调制器，并对相位调制器加载调制信号；其次，将光源信号沿光纤传输至光纤干涉仪，通过调制信号调制光纤干涉仪生成的干涉信号；最后，利用相位生成载波解调方法或者工作点控制的方法对被调制的干涉信号进行解调，获得光源的相位噪声信号，实现光源相位噪声的测量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用光纤耦合器将光源信号分成两路，一路沿光纤通过光电探测器传输至中央处理单元进行光源信号强度测试，另一路沿光纤传输至光纤干涉仪。
3.一种光源相位噪声的测试装置，其特征在于，基于权利要求1所述的方法，包括尾纤(2)、光纤干涉仪(20)、第一光电探测器(10)以及中央处理单元(11)；
其中，所述光纤干涉仪中的一路延迟光纤上设置有相位调制器(8)；
所述尾纤(2)与所述光纤干涉仪的信号输入端相连；
所述光纤干涉仪的信号输出端经第一光纤探测器(10)与中央处理单元的AD采集模块相连；
所述中央处理单元的DA输出模块与光纤干涉仪中的相位调制器相连。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述光纤干涉仪包括第一1×2光纤耦合器(5)、延迟光纤、第二1×2光纤耦合器(7)以及相位调制器(8)；
所述第一1×2光纤耦合器的两个输出端分别经两路延迟光纤与第二1×2光纤耦合器(7)的输入端相连，其中一路延迟光纤上设置有相位调制器(8)；
所述第二1×2光纤耦合器(7)的输出端经第一光电探测器与中央处理单元的AD采集模块相连。
5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述光纤干涉仪包括2×2光纤耦合器(17)、延迟光纤、第一光纤法拉第旋光镜(18)、第二光纤法拉第旋光镜(19)以及相位调制器(8)；
所述2×2光纤耦合器(17)信号传入输出端分别经两路延迟光纤与第一光纤法拉第旋光镜(18)、第二光纤法拉第旋光镜(19)相连，其中一路延迟光纤上设置有相位调制器(8)；
所述2×2光纤耦合器(17)的信号反射输出端经第二光电探测器与中央处理单元相连。
6.根据权利要求3-5任一项所述的装置，其特征在于，还包括第三光纤耦合器(4)和第二光电探测器(9)；
光源信号经光纤耦合器分为两路，一路与光纤干涉仪相连，另一路经第二光电探测器(9)与中央处理单元(11)的AD采集模块相连。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，与光源相连的尾纤(2)与第三光纤耦合器之间还设置有光纤连接器(3)。
8.根据权利要求3-5任一项所述的装置，其特征在于，所述光纤干涉仪外部设置有屏蔽盒。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述中央处理单元与上位机相连。