1.一种TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于，所述TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法至少包括：
步骤S1：在标定的生物芯片上设定校准线，所述校准线的长度设定为第一数量个像素的长度，其中，所述第一数量为正整数；
步骤S2：对所述校准线进行扫描，获取所述校准线的图像，若所述校准线的图像长度等于所述校准线的长度，则扫描速度匹配，校准完成，可对所述生物芯片上的物质进行扫描成像；若所述校准线的图像长度小于所述校准线的长度，则扫描速度失配，执行步骤S3；若所述校准线的图像长度大于所述校准线的长度，则扫描速度失配，执行步骤S4；
步骤S3：减小扫描速度，并以减小后的扫描速度对所述校准线进行扫描，执行步骤S2；
步骤S4：增大扫描速度，并以增大后的扫描速度对所述校准线进行扫描，执行步骤S2。
2.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：采用微量点样技术在所述生物芯片上绘制荧光剂，以此形成所述校准线。
3.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：通过降低搭载所述TDI-CMOS荧光检测仪器的转动平台的转速来减小扫描速度。
4.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：通过增加搭载所述TDI-CMOS荧光检测仪器的转动平台的转速来增大扫描速度。