磁瓦在线检测装置的制作方法

本发明涉及磁瓦检测技术领域，特别涉及一种磁瓦在线检测装置。

背景技术：

磁瓦是永磁体中的一种用在永磁电机上的瓦状磁体，目前国内磁瓦生产量巨大，而磁瓦检测则依靠人工检测的方式，传统的人工检测主要是基于人的眼睛，由于一些生理上的限制在一些细微的裂纹上很难检测出来，同时这种方法极易受到外部环境和身体状况的影响，通常会出现漏检和误检，很难保证磁瓦的品质；这种方法工作量大、重复性高，检测的效率低下，已不适应磁瓦自动化生产的需要，影响磁瓦生产效率。

技术实现要素：

基于此，有必要提供一种结构简单且可实现自动检测的磁瓦在线检测装置。

一种磁瓦在线检测装置，用于对磁瓦进行缺陷检测，其包括机架、上料机构、传输组件、检测机构以及下料机构，所述传输组件设置于所述机架上且位于所述上料机构和所述下料机构之间，所述上料机构、所述检测机构以及所述下料机构沿所述传输组件的传输方向依次设置于所述机架上；所述上料机构用于将所述磁瓦顺次输入所述传输组件上，所述检测机构用于对放置于所述传输组件上的所述磁瓦进行取像并处理，所述下料机构用于对分析完成的所述磁瓦的良品和不良品进行分类输出。

在其中一个实施例中，所述上料机构包括支撑架及设置于所述支撑架上的分离组件，所述支撑架设置于所述机架上且包括支撑台面；所述支撑台面与所述传输组件的一侧对接，并与所述传输组件的传输面位于同一平面；所述分离组件用于将所述磁瓦由所述支撑台面分别推入所述传输组件。

在其中一个实施例中，所述分离组件包括分离驱动件和与所述分离驱动件连接的分离推块，所述分离推块位于所述分离驱动件和所述传输组件之间并可在所述分离驱动件的驱动下向靠近所述传输组件的方向移动。

在其中一个实施例中，所述上料机构包括设置于所述分离组件和所述检测机构之间的吹干组件。

在其中一个实施例中，所述传输组件连接于所述上料机构和所述下料机构之间，且包括第一输送件及第二输送件，所述第一输送件与所述第二输送件沿所述磁瓦的移动方向依次设置并对接形成有高度差。

在其中一个实施例中，所述第一输送件包括第一安装架、第一传送带以及第一传送驱动件，所述第二输送件包括第二安装架、第二传送带以及第二传送驱动件；所述第一安装架和所述第二安装架均设置于所述机架上，且沿所述上料机构向所述下料机构的方向依次设置于同一直线上；所述第一传送带绕设于所述第一安装架相对的两端，并可在所述第一传送驱动件的驱动下相对所述第一安装架可循环地转动；所述第二传送带绕设于所述第二安装架相对的两端，并可在所述第二传送驱动件的驱动下相对所述第二安装架可循环地转动。

在其中一个实施例中，所述机架设置有外弧面磨歪检测工位、两个1/2外弧面缺陷检测工位、内弧面磨歪检测工位、内弧面缺陷检测工位、边面检测工位以及端面检测工位，所述检测机构包括第一检测组件、第二检测组件以及控制器，所述第一检测组件一一对应地设置于所述外弧面磨歪检测工位、两个所述1/2外弧面缺陷检测工位、所述内弧面磨歪检测工位、所述内弧面缺陷检测工位以及所述边面检测工位，所述第二检测组件设置于所述端面检测工位，所述控制器用于对所述第一检测组件和所述第二检测组件的检测结果对当前所述磁瓦进行缺陷分析。

在其中一个实施例中，所述第一检测组件包括第一检测支架、第一检测相机、第一检测光源以及第一感应开关，所述第一检测支架支撑于所述机架上，且横跨于所述传输组件的上方；所述第一检测相机活动设置于所述第一检测支架上，所述第一检测光源活动设置于所述第一检测支架上并与所述第一检测相机配合，所述第一感应开关用于当感应所述磁瓦进入对应工位的所述传输组件时触发对应工位的所述第一检测相机进行拍照取像。

在其中一个实施例中，所述第二检测组件包括第二检测支架、两个第二检测相机、两个第二检测光源、第二感应开关以及转向组件，所述第二检测支架支撑于所述机架上，且横跨于所述传输组件的上方；两个所述第二检测相机活动设置于所述第二检测支架位于所述传输组件相对的两侧，两个所述第二检测光源活动设置于所述第二检测支架上，并分别与两个所述第二检测相机配合；所述第二感应开关用于当感应所述磁瓦进入对应工位的所述传输组件时触发对应工位的所述第二检测相机进行拍照取像；所述转向组件设置于所述第二检测支架上，用于抓取所述传输组件上待检测的所述磁瓦并进行转向操作。

在其中一个实施例中，所述下料机构包括下料驱动件、良品滑道和不良品滑道，所述良品滑道与所述传输组件连通，并位于同一条传输路径上，所述不良品通道连通于所述传输组件的一侧，所述下料驱动件设置所述传输组件与所述不良品通道相对的另一侧。

本发明中磁瓦在线检测装置通过整个检测过程中，磁瓦在线检测装置可完成磁瓦的自动上料、缺陷检测、分析以及分类输出，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

附图说明

图1为本发明一较佳实施方式中磁瓦在线检测装置的结构示意图；

图2为图1所示磁瓦在线检测装置的部分结构示意图；

图3为图2所示磁瓦在线检测装置中上料机构的结构示意图；

图4为本发明一较佳实施方式中磁瓦的结构示意图；

图5为图2所示磁瓦在线检测装置中传输组件的结构示意图；

图6为图2所示磁瓦在线检测装置中第一检测组件的结构示意图；

图7为图2所示磁瓦在线检测装置中第二检测组件的结构示意图；

图8为图2所示磁瓦在线检测装置中下料机构的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参看图1，本发明一较佳实施例中磁瓦在线检测装置100，用于与磁瓦生产设备的滑道200对接，以对从滑道200输出的磁瓦300(如图3所示)进行缺陷检测，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

请参看图2，磁瓦在线检测装置100包括机架10、上料机构20、传输组件30、检测机构40以及下料机构50。其中，传输组件30设置于机架10上。上料机构20、检测机构40以及下料机构50沿传输组件30的传输方向依次设置于机架10上。上料机构20用于将磁瓦300顺次输入传输组件30上，检测机构40用于对放置于传输组件30上的磁瓦300进行取像并处理处理，下料机构50用于对分析完成的磁瓦300的良品和不良品进行分类输出。整个检测过程中，磁瓦在线检测装置100可完成磁瓦300的自动上料、缺陷检测、分析以及分类输出，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

请参看图3，上料机构20包括支撑架21及设置于支撑架21上的分离组件23。支撑架21设置于机架10上且包括支撑台面210。支撑台面210与传输组件30的一侧对接，并与传输组件30的传输面位于同一平面。滑道200输出磁瓦300的一端支撑于支撑台面210上，磁瓦300挨个紧密排列在滑道200中并顺次输出至支撑台面210上。分离组件23用于将磁瓦300以一定的速度一个一个由支撑台面210分别推入传输组件30。

具体地，分离组件23包括分离驱动件230和与分离驱动件230连接的分离推块232。其中，分离推块232位于分离驱动件230和传输组件30之间，使得分离推块232可在分离驱动件230的驱动下向靠近传输组件30的方向移动，实现将由滑道200输出至支撑台面210上的磁瓦300以一定的速度一个一个推至传输组件30上。更具体地，分离推块232面向滑道200的一端形成有与磁瓦300的形状相匹配的容置缺口2321。磁瓦300由滑道200输出至支撑台面210后直接收容并限位于容置缺口2321内。此时，限位于容置缺口2321内的磁瓦300可随分离推块232共同在分离驱动件230的驱动下由支撑台面210移动至传输组件30上，实现磁瓦300由滑道200向传输组件30的过渡。

在本具体实施例中，分离驱动件230为驱动分离推块232推动气缸。可以理解地，在其它一些实施例中，分离驱动件230可为其它驱动分离推块232的动力源，在此不作限定。另外，在其它一些实施例中，支撑架21也可直接为机架10的一部分，对应地，支撑台面210为机架10与传输组件30共面的表面即可，在此不作限定。

由于磁瓦300在进入检测机构40之前要进行清洗，使得磁瓦300表面可能有水珠或者水蒸气，从而将会影响检测结果。因此，上料机构20包括设置于分离组件23和检测机构40之间的吹干组件25。其中，吹干组件25包括加热件250及风扇252。

加热件250和风扇252均设置于传输组件30的上方，且加热件250用于为磁瓦300提供热气流，以对磁瓦300上的水分进行加热；风扇252则用于提供强烈风速，以加快水分蒸发或者将水分直接吹离磁瓦300，达到磁瓦300表面无水分的效果。

进一步地，为了加强吹干组件25的吹干效果，吹干组件25还包括固定罩254，固定罩254设置于机架10上且罩设于传输组件30的上方，以形成半封闭的加热空间。加热件250和风扇252均固定于固定罩254上。在本具体实施例中，加热件250为可提供热气流的热风枪，风扇252为强力风扇。可以理解地，在其它一些实施例中，加热件250亦可为其它用于加热的加热元件，例如加热灯等，在此不作限定。

请参看图2、图4和图5，传输组件30连接于上料机构20和下料机构50之间，用于传送待检测及检测完成的磁瓦300。其中，由于磁瓦300包括外弧面301、与外弧面301相对的内弧面302、别连接于外弧面301和内弧面302弧长方向的两侧的两个边面303以及连接于两个边面303之间的两个端面304，使得在对磁瓦300进行全面检测的同时需要对磁瓦300进行翻转，因此在本具体实施例中，传输组件30包括第一输送件31及第二输送件33。第一输送件31与第二输送件33沿磁瓦300的移动方向依次设置并对接形成有高度差。

具体地，第一输送件31相对机架10的高度高于第二输送件33相对机架10的高度，使得当磁瓦300由第一输送件31传输至第二输送件33上时，磁瓦300沿着第一输送件31移动至尽头，磁瓦300前端落下，第一输送件31会给磁瓦300后端一个推力，促使磁瓦300完成翻转并落到第二输送件33上。

更具体地，第一输送件31包括第一安装架310、第一传送带312以及第一传送驱动件314，第二输送件33包括第二安装架330、第二传送带332以及第二传送驱动件334。其中，第一安装架310和第二安装架330均设置于机架10上，且沿上料机构20向下料机构50的方向依次设置于同一直线上。第一传送带312绕设于第一安装架310相对的两端，并可在第一传送驱动件314的驱动下相对第一安装架310可循环地转动。同样地，第二传送带332绕设于第二安装架330相对的两端，并可在第二传送驱动件334的驱动下相对第二安装架330可循环地转动。

进一步地，为了防止磁瓦300在翻转过程中由第二传送带332掉落，第二安装架330靠近第一安装架310一端的两侧凸出形成有挡板3301，挡板3301的高度高于磁瓦300放置于第二传送带332上的高度，以有效防止磁瓦300翻转时落到第二传送带332外。

由于磁瓦300的缺陷类型包括磨歪、崩脚、边裂等十几种缺陷，且每个面和每种缺陷需要的相机光源均有所不同，因此根据对磁瓦300的不同部位及每个部位的不同缺陷类型，机架10上设置有外弧面磨歪检测工位、两个1/2外弧面缺陷检测工位、内弧面磨歪检测工位、内弧面缺陷检测工位、边面检测工位以及端面检测工位共7个检测工位。

检测机构40设置于机架的上述7个检测工位上，用于分别磁瓦300不同部位及不同缺陷进行缺陷检测。下面将针对设置于上述7个检测工位上的检测机构40进行详细说明。在本具体实施例中，外弧面磨歪缺陷检测工位(以下简称第一检测工位)、两个1/2外弧面缺陷检测工位(以下简称第二、三检测工位)、内弧面磨歪缺陷检测工位(以下简称第四检测工位)、内弧面缺陷检测工位(以下简称第五检测工位)、边面检测工位(以下简称第六检测工位)以及端面检测工位(以下简称第七检测工位)沿传输组件30的传输方向依次设置。其中，第一输送件31与第二输送件33用于翻转的对接位置设置于第三检测工位和第四检测工位之间。

可以理解地，在其它一些实施例中，7个检测工位的位置及排列顺序可以根据需要而定，对应的第一传送带312与第二传送带332的对接位置亦可作匹配性调整，在此均不作限定。

检测机构40包括第一检测组件41、第二检测组件43以及控制器(图未示)。其中，第一检测组件41为依次设置于第一检测工位至第六检测工位的六个，第二检测组件43设置于第七检测工位，控制器用于对第一检测组件41和第二检测组件43的检测结果对当前磁瓦300进行缺陷分析。

请参看图6，具体地，每个第一检测组件41包括第一检测支架410、第一检测相机412、第一检测光源(图未示)以及第一感应开关416。第一检测支架410支撑于机架10上，且横跨于传输组件30的上方。第一检测相机412活动设置于第一检测支架410上，用于根据不同检测工位的不同检测部位进行对应调节。第一检测光源活动设置于第一检测支架410上，与第一检测相机412配合。第一感应开关416用于当感应磁瓦300进入对应工位传输组件30时触发对应工位的第一检测相机412进行拍照取像。

在本具体实施例中，第一检测支架410包括第一横梁4101、第二横梁4102、两根第一立梁4103、第一相机支架4104以及第一光源支架4105。两根第一立梁4103垂直支撑固定于机架10上，第一横梁4101和第二横梁4102向靠近机架10的方向间隔连接于两根立梁4102之间，且横跨于传输组件30上方。第一相机支架4104活动设置于第一横梁4101上，且包括第一架板4114、第二架板4124以及相机固定板4134。第一架板4114沿垂直机架10的方向连接于第一横梁4101，并可在外力作用下沿第一横梁4101的延长方向横向移动。第二架板4124连接于第一架板4114远离第一横梁4101的一端，并向靠近机架10的方向延伸。第二架板4124的延长方向设置有相机滑槽4143，第一检测相机412通过相机固定板4134沿相机滑槽4143向靠近或远离传输组件30的方向可滑动地连接于第二架板4124上，并还可通过第一架板4114横向可滑动地连接于第一横梁4101上。如此，使得每个工位上第一检测相机412可对应实现对磁瓦300的外弧面301、内弧面302以及边面303进行拍照取像。

第一光源支架4105活动设置于第二横梁4102上，且包括光源固定板4115及间隔设置于光源固定板4115上的两根支杆4125。光源固定板4115连接于第二横梁4102，并可在外力作用下沿第二横梁4102的延长方向横向移动。光源固定板4115沿平行第二横梁4102方向设置有光源滑槽4135，两根支杆4125垂直连接于光源固定板4115的相同一侧，且横向可滑动地连接于光源滑槽4135内。同时，两根支杆4125的延长方向均开设长孔4145，以安装不同工位不同规格的光源，例如，条形光、环形光、同轴光以及碗状光源。此外，两根支杆4125之间的距离可根据不同工位不同规格光源沿光源滑槽4135进行匹配性调节。

第一检测光源设置于两根支杆4125上，且位于第一检测相机412的下方。第一感应开关416设置于两根支杆4125之间，用于感应磁瓦300到位后，触发第一检测相机412。控制器根据第一检测相机412获取的图像进行判断当前磁瓦300存在缺陷时，记录当前磁瓦300的编码，以便于下料机构50在磁瓦300输出时进行良品与不良品的分类。

请参看图7，第二检测组件43包括第二检测支架430、两个第二检测相机432、两个第二检测光源434、第二感应开关436以及转向组件438。第二检测支架430支撑于机架10上，且横跨于传输组件30的上方。两个第二检测相机432活动设置于第二检测支架430位于传输组件30相对的两侧，用于根据不同检测工位的不同检测部位进行对应调节。两个第二检测光源434活动设置于第二检测支架430上，并分别与两个第二检测相机432配合。第二感应开关436用于当感应磁瓦300进入对应工位传输组件30时触发对应工位的第二检测相机432进行拍照取像。转向组件438设置于第二检测支架430上，用于抓取传输组件30上待检测磁瓦300并进行转向操作。

在本具体实施例中，第二检测支架430包括第三横梁4301、两根第二立梁4302以及两个相机光源固定板4303。两根第二立梁4302垂直支撑固定于机架10上，第三横梁4301连接于两根第二立梁4302之间，且横跨于传输组件30上方。两个相机光源固定板4303分别活动设置于两根第二立梁4302上，并可在外力作用下沿两根第二立梁4302的延长方向纵向移动。两个第二检测相机432和两个第二检测光源434成对配合的设置于两个相机光源固定板4303上，并可在外力作用下随对应的相机光源固定板4303沿第二立梁4302上下移动。

转向组件438包括吸附件4381、升降驱动件4383以及旋转驱动件4385。旋转驱动件4385安装于第三横梁4301上，升降驱动件4383与旋转驱动件4385连接，吸附件4381设置于升降驱动件4383上，并可在升降驱动件4383的驱动下向靠近或远离传输组件30的方向移动以吸附传输组件30上的磁瓦300，吸附有磁瓦300的吸附件4381还可在旋转驱动件4385的驱动下相对第三横梁4301旋转，以完成所吸附磁瓦300的转向。在本具体实施例中，磁瓦300进入传输组件30并经过上料机构20及第一检测工位至第六检测工位时，均为沿延长方向放置于传输组件30上；而传输至第七检测工位(即端面检测工位)时，需将磁瓦300旋转90度，使得两个端面304分别朝向两侧的两个第二检测相机432，以完成拍照取像。另外，转向组件438还在两个第二检测相机432拍照取像完成后，将当前磁瓦300转回至初始状态，并放回于传输组件30上进行输出。

第二感应开关436设置于第二安装架330上，用于当感应磁瓦300进入对应工位传输组件30时触发转向组件438进行转向并触发两侧的两个第二检测相机432进行拍照取像。控制器根据第二检测相机432获取的图像进行判断当前磁瓦300存在缺陷时，记录当前磁瓦300的编码，以便于下料机构50在磁瓦300输出时进行良品与不良品的分类。

在本具体实施例中，第一感应开关416和第二感应开关436均为红外感应装置，吸附件4381为真空吸头。可以理解地，在其它一些实施例中，第一感应开关416和第二感应开关436可为其它感应器，且吸附件4381为其它抓取部件，在此不作限定。另外，由于磁瓦300外弧面301的弧度较大，第一检测相机412无法清晰拍到整个外弧面301的缺陷，因此将外弧面301分为两部分进行拍照，即设置两个1/2外弧面缺陷检测工位。可以理解地，在其它一些实施例中，亦可仅设置一个外弧面缺陷检测工位进行外弧面301的拍照取像，在此不作限定。

请参看图8，下料机构50包括下料驱动件51、良品滑道53以及不良品滑道55。良品滑道53和不良品滑道55相互错开并均与传输组件30连通，下料驱动件51用于带动磁瓦300的良品和/或不良品由对应的良品滑道53和/或不良品滑道55输出。在本具体实施例中，良品滑道53与传输组件30连通，并位于同一条传输路径上，即良品滑道53对接于传输组件30中第二传送带332远离第一传送带312的末端。不良品滑道55连通于传输组件30中第二传送带332的一侧，下料驱动件51设置传输组件30中第二传送带332与不良品滑道55相对的另一侧，用于当不良品磁瓦传输至其与不良品滑道55之间时，将不良品磁瓦由第二传送带332推至不良品滑道55滑出，以与良品磁瓦分离，并自动分类。

请重新参看图1，磁瓦在线检测装置100还包括主控制箱(图未示)、及与主控制箱连接的触摸显示屏60和报警装置70。其中，在本具体实施例中，控制器设置于主控箱内，触摸显示屏60与主控制箱连接，用于显示磁瓦在线检测装置100的相关信号及参数，并还可供用户进行控制操作。报警装置70用于当磁瓦在线检测装置100出现故障时，在主控制箱的控制下发出警示信息，以提醒操作人员。可以理解地，在其它一些实施例中，检测机构40中控制器亦可单独设置于主控箱外，在此不作限定。

本发明中磁瓦在线检测装置100通过整个检测过程中，磁瓦在线检测装置100可完成磁瓦300的自动上料、缺陷检测、分析以及分类输出，替代人工检测，以提高磁瓦检测准确率和检测效率，并同时提高自动化程度以利于生产效率的提高。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。