技术总结
本发明公开了电气测试装置领域的一种能够测试并实时反馈的IC电气特性测试装置。所述测试装置包括MCU控制器，第一低压差线性稳压器模块(LDO1)、第二低压差线性稳压器模块(LDO2)、输入保护电路、LCD显示模块、按键模块、电源档位电路模块、电源干扰电路模块、过流保护电路模块、待测IC模块；测试方法，包括对过流监控设置电流门限值，电流超过电流门限值切断供电；对输入保护电路设置电压门限值，输入电压超过电压门限值，切断电源。主要解决现有技术中存在的不能连续测试，不能实时反馈的问题。
技术研发人员：不公告发明人
受保护的技术使用者：张家港市欧微自动化研发有限公司
文档号码：201611234013
技术研发日：2016.12.28
技术公布日：2017.06.13