一种用于老化筛选试验设备的校准装置的制作方法

本发明涉及实验设备，具体涉及一种用于电子元件老化筛选试验的设备。

背景技术：

电子元器件是电子设备的基础。由于电子设备具有通电时间长，使用范围宽，使用环境差异较大的特点，因此系统的可靠性很大程度上取决于元器件的可靠性,所以使用前对电子元器件的检验和老化筛选显得尤为重要。老化筛选的原理及作用，是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部效应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，筛选剔除那些失效或参数变化了的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。元器件老化筛选试验台是一种重要的元器件老化试验设备，它通过高温环境和电气性能两方面对电子元器件（包括大功率三极管、MOS管、晶闸管、电容器件、半导体）进行苛刻的试验使故障尽早出现。现研建了一种老化筛选试验设备的校准装置。主要针对老化筛选试验设备的老化电压和老化电流进行校准。现有的校准方法，认为从老化电源采集出的电压和电流就是元器件管脚间的电压电流值。实际上，由于老化筛选试验设备内部的线路损耗、筛选的元器件众多导致分压分流线路过多等问题，电源端测出的电压电流值并不是施加在元器件管脚间的电压、电流值。所以该发明提出了一种转接板，用于老化电压与老化电流信号的引出。

目前现有的校准装置只能工作在常温下，不能满足老化筛选试验（-55℃～80℃）温度的校准需求。传统校准方式是在常温下采集并手动记录信号。

技术实现要素：

本发明提供一种用于老化筛选试验设备的校准装置，本发明解决了现有的校准装置只能工作在常温下，不能满足老化筛选试验（-55℃～80℃）温度；以及传统校准方式是在常温下采集并手动记录信号的问题。

为解决上述问题，本发明采用如下技术方案：一种用于老化筛选试验设备的校准装置，包括保温实验箱、电源、转接板、控制器、计算机、温度传感器和老化实验电路板；保温实验箱外面有保温层，电源安装于保温实验箱外表面；保温实验箱内设置有老化实验电路板、转接板和温度传感器；转接板上有接线插头，接线插头连接老化实验电路板上的电子元件，转接板还连接电源，温度传感器连接转接板；设置于保温实验箱外面的控制器连接电源、温度传感器和计算机。

本发明的优点有：可在（-55℃～80℃）的条件下对老化实验数据进行自动采集，把最终结果在计算机上显示。传统的校准方式是从老化电源的输出端采集信号，而本校准装置发明了转接板，用于老化筛选时，从元器件管脚间引出老化电压与老化电流信号。

附图说明

图1是本发明实施例一结构示意图；

图2是本发明实施例二结构示意图。

图中符号说明：保温实验箱1，电源2，转接板3，控制器4，计算机5，存储设备接口6，红外线接收器7，温度传感器8，老化实验电路板9，红外线发射器10。

具体实施方式

下面用最佳的实施例对本发明做详细的说明。

实施例一

如图1所示，一种用于老化筛选试验设备的校准装置，包括保温实验箱1、电源2、转接板3、控制器4、计算机5、温度传感器8和老化实验电路板9；保温实验箱1外面有保温层，电源2安装于保温实验箱1外表面；保温实验箱1内设置有老化实验电路板9、转接板3和温度传感器8；转接板3上有接线插头，接线插头连接老化实验电路板9上的电子元件，转接板3还连接电源2，温度传感器8连接转接板3；设置于保温实验箱1外面的控制器4连接电源2、温度传感器8和计算机5。老化试验一般在（-55℃～80℃）的温度下进行，筛选过程中保温实验箱体是封闭的。

实施例二

本实施例与实施例一不同之处在于：保温实验箱的箱门具有透视玻璃窗，温度传感器8与红外线接收器7不连接，温度传感器8上安装有红外线发射器10，计算机5连接红外线接收器7。可以采用“红外”这种数据传输模式。由红外发送温度传感器的数据，通过遥控设备，由红外接受设备接收据，最终在计算机上显示。

最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。