技术总结
本实用新型涉及一种用于芯片的测试插座，包括芯片测试基座，芯片测试基座的中心处开设有一凹槽，凹槽的中心处开设有一通孔，通孔内设置有接地铜块，围绕接地铜块的四周并在凹槽内开设有若干个信号探针孔，信号传输探针的一端插接在所述信号探针孔上，接地铜块上开设有若干个接地探针孔，接地测试探针的一端插接在所述接地探针孔上，信号传输探针的另一端的高度与接地测试探针的另一端的高度相持平布置。本实用新型通过在芯片测试基座上增加一接地铜块，并在接地铜块上安装有若干个接地测试探针，通过在芯片测试基座的中心增加接地测试探针，来减小回路的电压，提高测试的准确性。
技术研发人员：施元军;刘凯
受保护的技术使用者：苏州韬盛电子科技有限公司
文档号码：201620763713
技术研发日：2016.07.20
技术公布日：2017.05.10