一种DIP测试多工位防呆装置的制作方法

本实用新型属于半导体测试技术领域，更具体地说，涉及一种DIP测试多工位防呆装置。

背景技术：

半导体可靠性测试是半导体制造中一道重要工序，其目的是检测制造的半导体器件电性是否合格，从而剔除掉不合格的产品。进行半导体可靠性测试时，先将待测样品(通常是经过简单封装的芯片)插到DUT(device under test，DUT)板上，再将DUT板接到测试机台上，通过测试机台的测试获得相应的测试数据，由此可见，DUT板质量的好坏直接影响到半导体可靠性测试的测试结果。

TI测试主机为VLCT，分选机为中艺重力式分选机，联机通讯为RS232模式，由于通讯模式为RS232模式，为单一一根三芯联机线(内含+24V/0V/信号)，不存在工位之间交叉接错问题发生，但多工位DUT板与测试分选机连接时存在工位相互交叉接错的可能。现有技术中通常是在不同的DUT板及对应的机台连接位置分别采用标签进行标记，从而便于维修联机识别与检查人员的日常检查，但其仍不可避免地会出现不同工位交叉接错的可能，尤其当经维修或清洗后，DUT板上的标签可能会损坏或模糊不清。

如，中国专利申请号201510246093.0公开了一种芯片测试分选方法，该申请案包括步骤，S1：提供测试仪以及多工位分选机；S2：通过电缆将测试仪与分选机的通信接口连接，将测试仪的测试端口与分选机的工位连接；S3：保留分选机的尚未通过测试的一个工位并关闭分选机的其他工位；S4：测试当前保留的工位的电缆连接关系是否正确，若连接关系正确则当前保留的工位通过测试，再次进行S3步骤，直至所有工位都通过测试；若测试出连接关系不正确则调整当前保留的工位的电缆连接关系，然后继续重复S4步骤；S5：开启分选机的所有工位，进行芯片的批量测试分选。该申请案在一定程度上能够有效地避免因多工位分选机电缆连接错误而导致的误分类问题，但其操作复杂，效率相对较低。

技术实现要素：

1.实用新型要解决的技术问题

本实用新型的目的在于克服现有技术中通常采用标签标记的方式对不同DUT板的连接工位进行识别与区别，从而导致无法避免会出不同工位交叉接错现象的不足，提供了一种DIP测试多工位防呆装置。通过使用本实用新型的DIP测试多工位防呆装置能够有效避免不同工位DUT板交叉接错现象的发生，从而保证芯片性能的正常测试。

2.技术方案

为达到上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

本实用新型的一种DIP测试多工位防呆装置，包括测试台台面，所述测试台台面上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置，该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面上的定位支架及分别与不同工位DUT板对应相连的定位板，其中，所述的定位板上均加工有定位卡槽，且不同定位板上定位卡槽的位置互不相同，所述定位支架上设有与各定位板上定位卡槽分别对应的定位销，通过定位卡槽与定位销的配合实现不同工位DUT板的接错防呆功能。

更进一步的，所述定位支架的两端通过支脚固定于测试台台面上。

更进一步的，所述的支脚为由水平安装部与竖直支撑部组成的L形结构，其中，水平安装部与测试台台面固定相连，竖直支撑部与定位支架固定相连。

更进一步的，所述L形支脚的竖直支撑部上加工有螺纹孔，定位支架的两端加工有与螺纹孔相对应的第一固定孔，通过螺纹孔及第一固定孔内的螺栓对定位支架与支脚进行固定。

更进一步的，所述的第一固定孔为腰型孔。

更进一步的，所述的定位卡槽加工为U形开槽。

更进一步的，所述的定位支架上设有定位销孔，所述的定位销固定于定位销孔内。

更进一步的，所述的DUT板通过螺钉固定于定位板的上方。

3.有益效果

采用本实用新型提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：本实用新型的一种DIP测试多工位防呆装置，其测试台台面上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置，该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面上的定位支架及分别与不同工位DUT板对应相连的定位板，通过定位支架上定位销与不同定位板上定位卡槽的配合可以有效防止不同工位DUT板线路的接错，具有良好的接错防呆功效，从而大大提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的一种DIP测试多工位防呆装置的结构示意图；

图2为本实用新型的定位板的结构示意图；

图3为本实用新型的定位支架的结构示意图；

图4为本实用新型的支脚的结构示意图；

图5为图4中支脚的俯视示意图。

示意图中的标号说明：

1、测试台台面；2、定位支架；201、第一固定孔；202、定位销孔；203、定位销；3、支脚；301、水平安装部；302、竖直支撑部；303、第二固定孔；304、螺纹孔；4、定位板；401、定位卡槽；5、DUT板。

具体实施方式

为进一步了解本实用新型的内容，现结合附图和具体实施例对本实用新型作详细描述。

实施例1

如图1所示，本实施例的一种DIP测试多工位防呆装置，包括测试台台面1，所述测试台台面1上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置，该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面1上的定位支架2及分别与不同工位DUT板5对应相连的定位板4。其中，如图1-图3所示，所述的定位板4上均加工有定位卡槽401，且不同定位板4上定位卡槽401的位置互不相同，不同DUT板5即通过螺钉固定于不同定位板4的上方。所述定位支架2上设有与各定位板4上定位卡槽401分别对应的定位销203，定位销203固定于定位支架2上的定位销孔202内，通过定位卡槽401与定位销203的配合可以有效防止不同工位DUT板5线路的接错，具有良好的接错防呆功效，从而大大提高了测试可靠性。

实施例2

如图1所示，本实施例的一种DIP测试多工位防呆装置，包括测试台台面1，所述测试台台面1上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置，该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面1上的定位支架2及分别与不同工位DUT板5对应相连的定位板4。其中，如图1-图3所示，所述的定位板4上均加工有定位卡槽401，且不同定位板4上定位卡槽401的位置互不相同，不同DUT板5即通过螺钉固定于不同定位板4的上方。所述定位支架2上设有与各定位板4上定位卡槽401分别对应的定位销203，定位销203固定于定位支架2上的定位销孔202内。本实施例中定位卡槽401加工为U形开槽。

本实施例中，定位支架2的两端通过支脚3固定于测试台台面1上，如图4、图5所示，所述的支脚3为由水平安装部301与竖直支撑部302组成的L形结构，其中，水平安装部301与测试台台面1固定相连，竖直支撑部302与定位支架2固定相连。具体的，所述水平安装部301上加工有第二固定孔303，该第二固定孔303为腰形孔结构，通过第二固定孔303内的螺栓将支脚3固定于测试台台面1上。所述L形支脚3的竖直支撑部302上加工有螺纹孔304，定位支架2的两端加工有与螺纹孔304相对应的第一固定孔201，第一固定孔201也加工为腰型孔结构，通过螺纹孔304及第一固定孔201内的螺栓对定位支架2与支脚3进行固定。

以上示意性的对本实用新型及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。所以，如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。