技术总结
本实用新型公开了一种DIP测试多工位防呆装置，属于半导体测试技术领域。本实用新型的一种DIP测试多工位防呆装置，包括测试台台面，所述测试台台面上DUT板连接工位的前端设有定位防呆限位装置，该定位防呆限位装置包括固定于测试台台面上的定位支架及分别与不同工位DUT板对应相连的定位板，其中，所述的定位板上均加工有定位卡槽，且不同定位板上定位卡槽的位置互不相同，所述定位支架上设有与各定位板上定位卡槽分别对应的定位销能。通过使用本实用新型的DIP测试多工位防呆装置能够有效避免不同工位DUT板交叉接错现象的发生，从而保证芯片性能的正常测试。
技术研发人员：杨裕明;承龙;邱冬冬
受保护的技术使用者：长电科技（滁州）有限公司
文档号码：201621231278
技术研发日：2016.11.15
技术公布日：2017.05.10