一种熔体中成分纯度分析装置的制作方法

本实用新型涉及成分分析，尤其是涉及一种熔体中成分纯度分析装置。

背景技术：

成分检测是金属冶炼中的重要环节，现有的实时在线的成分检测装置，多采用金属成分分析仪是采用XRF（荧光光谱分析）原理，对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短，因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时，由于电离或激发使原子处于激发状态，原子回到基态过程中，由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线，这就是荧光。X射线使物质发生荧光的作用叫荧光作用，荧光强弱与X射线量成正比。美国伊诺斯（INNOV-X）公司利用X射线荧光光谱分析仪原理推出世界第一台应用于金属材料检查的手持式金属成分分析仪Alpha-2000，该仪器能够快速分析金属材料成分及含量。在进行成分分析时需要取少量原料，由于熔体温度较高，取料较为麻烦。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种熔体中成分纯度分析装置，以解决现有技术中熔体直纺存在的上述问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种熔体中成分纯度分析装置，其包括架体，其中，所述架体底部设有金属成分分析仪，所述架体的上端设有槽道，所述槽道内设有支撑杆，所述支撑杆的两端设有轮毂电机，所述支撑杆的中间设有连接杆，所述连接杆与支撑杆转动连接，所述连接杆的下端设有取样装置，所述取样装置包括第一伸缩杆，所述第一伸缩杆的下端设有N型架，所述N型架的上端内壁安装有第二伸缩杆，所述N型架的下端固定在取样活塞，所述第二伸缩杆的下端固定有活塞环所述取样活塞的下端设有锥形储料箱。

特别地，所述架体的内部设有置物板，所述置物板的上端面设有吹气保护装置。

特别地，所述槽道的内壁设有防滑层。

特别地，所述锥形储料箱的下端设有进料口，所述锥形储料箱下端的进料口设有耐高温涂层。

本实用新型的有益效果为，与现有技术相比所述熔体中成分纯度分析装置，金属成分分析仪的设置，用于对熔体成分的分析和测定，第一伸缩杆的设置，方便将N型架升高或者降低，方便取料，第二伸缩杆的设置，用于推拉活塞环，实现取料和放料，非常实用和方便。

附图说明

图1是本实用新型具体实施方式1提供的熔体中成分纯度分析装置的结构示意图。

图2是本实用新型具体实施方式1提供的槽道的结构示意图。

图3是本实用新型具体实施方式1提供的取样装置的结构示意图。

图中：

1、架体；2、金属成分分析仪；3、槽道；4、连接杆；5、取样装置；51、第一伸缩杆；52、N型架；53、取样活塞；54、第二伸缩杆；55、活塞环；56、锥形储料箱；7、轮毂电机；8、置物板；9、吹气保护装置。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

请参阅图1-3所示，图1-3是本实用新型的结构示意图。

本实施例中，一种熔体中成分纯度分析装置，其包括架体1，其中，所述架体1底部设有金属成分分析仪2，所述架体1的上端设有槽道3，所述槽道3内设有支撑杆6，所述支撑杆6的两端设有轮毂电机7，所述支撑杆6的中间设有连接杆4，所述连接杆4与支撑杆6转动连接，所述连接杆4的下端设有取样装置5，所述取样装置5包括第一伸缩杆51，所述第一伸缩杆51的下端设有N型架52，所述N型架52的上端内壁安装有第二伸缩杆54，所述N型架52的下端固定在取样活塞53，所述第二伸缩杆54的下端固定有活塞环55所述取样活塞53的下端设有锥形储料箱56，所述架体1的内部设有置物板8，所述置物板8的上端面设有吹气保护装置9，所述槽道3的内壁设有防滑层，所述锥形储料箱56的下端设有进料口，所述锥形储料箱56下端的进料口设有耐高温涂层。

取料时通过轮毂电机7带动连接杆4在槽道3上运动，使取样装置5运动，当取样装置5运动到熔体上方，第一伸缩杆51伸出，N型架52向下运动，当锥形储料箱56的下端接触熔体时，第二伸缩杆54收缩，吸取部分熔体，轮毂电机7带动取样装置5运动到金属成分分析仪2的进料口上方，第二伸缩杆54伸出，放下熔体，金属成分分析仪2便可进行分析。

以上实施例只是阐述了本实用新型的基本原理和特性，本实用新型不受上述事例限制，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还有各种变化和改变，这些变化和改变都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。