一种适用于烟尘低浓度测试的空白试验方法与流程

文档序号:12548618阅读:854来源:国知局

本发明涉及一种适用于烟尘低浓度测试的空白试验方法。



背景技术:

随着我国国民经济的快速发展,大气环境污染问题日益严峻,大中城市中的雾霾、酸雨等灾害性天气频发,严重影响了人们的身心健康和正常生活,燃煤电厂作为大气污染物排放的重要污染源之一,现有通过过滤装置收集到的粉尘进行称重,从而换算得到烟气中烟尘浓度值,并不能满足现在低烟尘排放浓度的测试要求,存在测试数据不准确的问题。



技术实现要素:

本发明要解决的技术问题就是提供一种适用于烟尘低浓度测试的空白试验方法,解决现有测试数据不准确的问题。

为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:一种适用于烟尘低浓度测试的空白试验方法,依次包括以下步骤:

步骤一:空白试样制备:首先选用与正常测试试验用同一材质、同一批次的滤膜,且与采样用滤膜一起烘干称重,再次将合格的滤膜编号后放入105~110℃的恒温下,烘干2h,然后放入滤筒称量瓶中,并置于干燥器内冷却至室温,冷却后的滤膜在感量0.01mg的天平上称出质量,并作好记录,最后在恒温恒湿条件下重复上述操作,同一滤膜两次称量偏差为-0.1~0.1mg;

步骤二:空白试验样品获取:将步骤一制备后的滤膜对同轴线上的各测点以相同的时间进行等速采样,现场获取空白试验样品,采样时的烟尘采样泵为不抽气状态,采样嘴背对烟气来流方向,且采样枪加热至155~165℃;

步骤三:试验样品处理:将步骤二获取的空白试验样品与采样用滤膜一起烘干称重,将滤膜放入烘箱,在105~110℃恒温下,烘干2h,烘干结束后将滤膜放入专用的称量瓶中,置于干燥器内冷却至室温,再在感量0.01mg天平上称出滤膜的质量,并作好记录,在恒温恒湿条件下,重复上述操作,同一滤膜两次称量相差不超过0.1mg;

步骤四:空白试验结果评价:将步骤三处理后的合格试验样品进行空白试验值检测,且空白试验值不超过测试期间颗粒物浓度限值的10%,且试验期间滤膜收集的颗粒物增重超过空白样品质量偏差正值的5倍。

优选的,步骤一中的空白试样通过滤筒代替,且同一滤筒两次称量偏差为-0.3~0.3mg,能适应不同的试验环境和试验条件,实用性能好,能提高数据的准确性。

综上所述,本发明的优点:1.通过空白试样制备、空白试验样品获取、试验样品处理、空白试验结果评的试验步骤对空白试样进行试验,且整个试验步骤操作简单,操作人员容易掌握,且评价指标明确,能适用于烟尘低浓度测试中对测试结果进行修正,提高了测量数据的准确性;

2.步骤一中通过对合格的滤膜编号后放入105~110℃恒温下,烘干2h,放入专用的滤筒称量瓶中,置于干燥器内冷却至室温,能消除高温采样时滤膜失重的影响;

3.步骤一中的滤膜质量通过感量0.01mg的天平称出,质量读取方便,能且减少称量的误差;

4.步骤二中试验的方法设置成对滤膜同轴线上的各测点以相同的时间进行等速采样,能保证采样时按网格布点移动,提高采样的准确度,采样效率高;

5.采样时的采样嘴设置成背对烟气来流方向,采样枪加热至155~165℃,能提高采样的质量,能适应不同环境下的烟气,实用性能好,保证采样枪采集的安全性。

具体实施方式

一种适用于烟尘低浓度测试的空白试验方法,依次包括以下步骤:

步骤一:空白试样制备:首先选用与正常测试试验用同一材质、同一批次的滤膜,且与采样用滤膜一起烘干称重,再次将合格的滤膜编号后放入105~110℃的恒温下,烘干2h,然后放入滤筒称量瓶中,并置于干燥器内冷却至室温,冷却后的滤膜在感量0.01mg的天平上称出质量,并作好记录,最后在恒温恒湿条件下重复上述操作,同一滤膜两次称量偏差为-0.1~0.1mg;

步骤二:空白试验样品获取:将步骤一制备后的滤膜对同轴线上的各测点以相同的时间进行等速采样,现场获取空白试验样品,采样时的烟尘采样泵为不抽气状态,采样嘴背对烟气来流方向,且采样枪加热至155~165℃;

步骤三:试验样品处理:将步骤二获取的空白试验样品与采样用滤膜一起烘干称重,将滤膜放入烘箱,在105~110℃恒温下,烘干2h,烘干结束后将滤膜放入专用的称量瓶中,置于干燥器内冷却至室温,再在感量0.01mg天平上称出滤膜的质量,并作好记录,在恒温恒湿条件下,重复上述操作,同一滤膜两次称量相差不超过0.1mg;

步骤四:空白试验结果评价:将步骤三处理后的合格试验样品进行空白试验值检测,且空白试验值不超过测试期间颗粒物浓度限值的10%,且试验期间滤膜收集的颗粒物增重超过空白样品质量偏差正值的5倍。

步骤一中的空白试样通过滤筒代替,且同一滤筒两次称量偏差为-0.3~0.3mg,能适应不同的试验环境和试验条件,实用性能好,能提高数据的准确性。

除上述优选实施例外,本发明还有其他的实施方式,本领域技术人员可以根据本发明作出各种改变和变形,只要不脱离本发明的精神,均应属于本发明所附权利要求所定义的范围。

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