技术特征：
技术总结
本发明公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法，该方法包括：(1)提供钛白粉标准样品；(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。
技术研发人员：龙翔;刘建良;李金苑;江书安;蒋永金;王若泽;崔庆雄;李明;陈艳琼;丁锐;潘梅;李进莲
受保护的技术使用者：云南冶金新立钛业有限公司
技术研发日：2017.03.01
技术公布日：2017.07.04