计算机断层摄影X‑射线显微镜系统中谱表征的方法和系统与流程

技术特征：

技术总结
一种用于断层重建、束硬化校正、双能量CT和系统诊断等等的谱测量和估计方法，包括确定源加速电压、预滤器和/或检测器的组合的谱，并且在测量多个预滤器的透射值以后计算所述源加速电压、预滤器和/或检测器组合的校正谱。

技术研发人员：黄志峰;托马斯·A·凯斯;洛伦斯·B·斯蒂格
受保护的技术使用者：卡尔蔡司X射线显微镜公司
技术研发日：2017.03.23
技术公布日：2017.10.03