技术特征：
技术总结
基于BDJ的可数字化波长检测集成电路，由光电流提取电路一、光电流提取电路二、电流支路选择电路、电流输出放大电路、电流电压转换电路、电压比较电路一、电压比较电路二、SR锁存器；掩埋CMOS双PN结光电二极管包含2个不同深度位置的PN结，且两PN结共用一个N结，即由浅PN结二极管D1和深PN结二极管D2组成，D1与D2共阴极连接；其中，深PN结D2阳极接地，输出光电流I2，浅PN结D1阳极输出光电流I1，D1与D2阴极输出两个PN结的光电流之和I1+I2；光电流提取电路一的输入端1a与浅PN结D1阳极相连，输出端与电流支路选择电路的第一输入端相连。
技术研发人员：吴柯柯;施朝霞
受保护的技术使用者：浙江工业大学
技术研发日：2017.04.10
技术公布日：2017.09.12