高频RFID标签性能检测在线测试系统的制作方法

文档序号:11322368阅读:559来源:国知局
高频RFID标签性能检测在线测试系统的制造方法与工艺

本发明涉及一种高频rfid标签性能检测在线测试系统,可在线测试包括频点、q值、uid和rssi多种性能,属于rfid标签测试设备技术领域。



背景技术:

rfid是radiofrequencyidentification的英文缩写,即射频识别,又称无线射频电子标签,是一种非接触式的自动识别技术。它通过无线电讯号识别特定的目标,并读写相关的数据,而不需要识别系统与这个目标有机械或者是光学接触。它无须人工干预,可用于各种恶劣环境,可识别高速运动的物体,可同时识别多个标签,操作快捷方便。

rfid标签一般包括超高频(uhf)rfid标签、高频(hf)rfid标签、低频(lf)rfid标签三大类,本发明属于高频(hf)rfid标签类别。

高频(hf)是指工作在13.56mhz频率下的rfid标签,此类标签通过线圈间的电感耦合进行数据通信,主要的协议包括iso14443和iso15693,iso14443俗称mifare1系列产品,识别距离近但价格低、保密性好,常作为公交卡、门禁卡来使用,iso15693的最大优点在于他的识别效率,通过较大功率的阅读器可将识别距离扩展至1.5米以上。

常规高频(hf)rfid标签在制造时,绑定生产设备仅仅对其电性进行测试,并将测试的结果(good或bad)显示在人机界面内,对bad的标签进行墨点标记。制造部门通过抽样的方式,在线外对抽样的标签进行频点、q值测量,无法保证每一片标签的性能指标。绑定生产设备无法记录每片标签的信息,对于后续对产品的追踪无法提供数据支持。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种高频rfid标签性能检测在线测试系统,解决现有高频(hf)rfid标签在制造时,绑定生产设备仅仅对其频点、q值电性进行抽样测试,从而存在无法保证每一片标签的性能指标的不足,通过本发明在绑定生产设备时实现标签的频点、q值、uid和rssi四项性能指标的在线测试,当四项指标中的任意一个不符合标签的性能要求,均会被绑定设备标记为不良,确保生产的每一片标签均符合客户的性能指标。同时,记录每一片标签的四项性能指标,为后续产品追踪实现数据支持。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的,一种高频rfid标签性能检测在线测试系统,包括与绑定设备进行通讯的计算机,与计算机进行通信的频点、q值测试设备,uid、rssi测试设备和运行于计算机的测试软件,其特征是,频点、q值测试设备、uid、rssi测试设备经同轴电缆与测试板连接,所述测试板由频点、q值测试板和uid、rssi测试板经堆叠组合构成;测试软件通过串口1与绑定设备连接,实现数据通信;测试软件通过串口2与频点、q值测试设备连接;测试软件通过串口3和uid、rssi测试设备连接,实现数据通信;串口通信通过数据帧的方式进行;测试软件可以对频点、q值、uid和rssi的门限进行设定,只有被测rfid标签的频点、q值、uid和rssi均在设定范围内,计算机才会判定其为良品,否则判定为不良品;当测试板运动到被测rfid标签下方,绑定设备发送测试命令给测试软件,测试软件接收到命令后分别发送测试命令给频点、q值测试设备和uid、rssi测试设备,频点、q值测试设备和uid、rssi测试设备测试完成后将测试结果(频点、q值、uid、rssi数值)发送给测试软件,测试软件分别对4种数据进行判定,将良品或不良品的结果返回再给绑定设备,若绑定设备接收的结果是不良品,它控制打墨点装置对该枚rfid标签进行标记,标记完会测试板移动到下一枚rfid标签继续进行测试;若绑定设备接收的结果是良品,测试板则会移动到下一枚rfid标签继续进行测试。

所述的测试板由上层包括线圈结构的频点、q值测试板和下层包括电阻电容的uid、rssi测试板构成,两层测试板通过尼龙螺丝连接固定,两者间距通过螺帽调节。

所述的同轴电缆为50欧同轴电缆,一根50欧同轴电缆的一端连接频点、q值测试设备,另一端连接到测试板上层的频点、q值测试板;另一根50欧同轴电缆一端与uid、rssi测试设备进行连接,另一端连接到测试板下层的uid、rssi测试板

所述频点、q值测试板上的线圈可以为任意形状,根据被测rfid标签的形状不同,线圈可以被设计为圆形、矩形,。

所述uid、rssi测试板上线圈为矩形线圈,矩形线圈与连接的电阻和电容组成lc振荡电路,振荡频率到达高频13.56mhz。

所述上层的频点、q值测试板长宽为256mmx170mm,下层的uid、rssi测试板长宽为64mmx54mm,目的是为了能够安装到绑定设备的测试位置。

绑定设备使用的型号是纽豹tal15k和fcm10k,频点、q值测试设备使用的型号是testram的t8200ud,uid、rssi测试设备使用的型号的是德州仪器的trf7970aevm。

本发明能够对标签的四项重要性能指标进行测试,以确保生产的每一片标签都符合客户需求,极大提高公司的产品核心竞争力,为企业带来强大的经济效益。

附图说明

图1为本发明结构示意图;

图2为本发明中测试板的立体结构示意图;

图3是图2的主视结构示意图;

图4为图2的俯视结构示意图;

图5为图2中uid、rssi测试板的结构示意图;

图6为测试软件与绑定设备连接示意图。

图7为测试软件与频点、q值测试设备(t8200ud)和uid、rssi测试设备(trf7970aevm)连接示意图。

图8为本发明循环测试框图。

图中,1频点、q值测试设备,2uid、rssi测试设备,3同轴电缆,4测试板,5频点、q值测试板,6uid、rssi测试板,7尼龙螺丝,8尼龙螺帽,9圆形线圈,10矩形线圈,11电阻,12电容。

具体实施方式

结合附图和实施例进一步说明本发明,本发明包括测试模块、测试板的硬件部分和测试软件部分构成。如图1所示,硬件部分中的频点、q值测试设备1和uid、rssi测试设备2经同轴电缆3连接测试板4,硬件部分中的频点、q值测试设备1和uid、rssi测试设备2与与计算机进行通信,计算机与绑定设备进行通讯,因绑定设备tal15k是双道测试,即每次可以同时测试两枚rfid标签,故此处是两套测试系统。绑定设备使用的型号是纽豹tal15k和fcm10k,频点、q值测试设备使用的型号是testram的t8200ud,uid、rssi测试设备使用的型号的是德州仪器的trf7970aevm。

如图2、3、4、5所示,测试板4由频点、q值测试板5和uid、rssi测试板6经堆叠组合构成。测试板4堆叠组合由上层包括线圈的频点、q值测试板5和下层包括电阻电容的uid、rssi测试板6构成,两层测试板经尼龙螺丝7连接,两者间距通过螺帽8调节。同轴电缆3为50欧同轴电缆,50欧同轴电缆3的一端分别连接频点、q值测试设备1和uid、rssi测试设备2的信号输入端,50欧同轴电缆3的另一端分别连接堆叠组合测试板4中频点、q值测试板5、uid、rssi测试板6上线圈的接线端。频点、q值测试板5上的线圈为圆形线圈9,圆形线圈9数量不少于两个。uid、rssi测试板6上线圈为矩形线圈10,矩形线圈10的一端连接电阻11和电容12,矩形线圈与电阻电容形成lc振荡,振荡频率为13.56mhz。上层的频点、q值测试板5长宽为256mmx170mm,下层的uid、rssi测试板6长宽为64mmx54mm。

测试软件部分中的软件运行于计算机上,主机通过串口与绑定设备进行通讯,通过usb口与频点测试设备和uid、rssi测试设备进行通讯,实现数据通讯。测试软件可对频点、q值、uid及rssi的上下限进行设置。

本发明中的测试板4固定在相关设备上,当测试板4运动到标签下方,绑定设备发送测试命令给测试系统,测试系统接收到命令后开始测试,并将测试结果返回给设备。

如图6所示,测试软件通过串口1与绑定设备连接,实现数据通信。串口通信通过数据帧的方式进行,也就是数据的编码方式,包含:帧头+数据长度+数据+帧尾。

如图7所示,测试软件通过串口2和串口3分别与频点、q值测试设备和uid、rssi测试设备连接,实现数据通信。串口通信通过数据帧的方式进行,也就是数据的编码方式,包含:帧头+命令位+数据长度+数据+帧尾。

测试软件界面会有相应结果的判定设置,只有频点、q值、uid和rssi在我们设定范围内,计算机才会判定为良品,否则判定为不良品,测试软件会记录每一枚标签的频点、q值、uid和rssi的数据。

绑定设备接收到计算机的数据结果只有良品和不良品。

如图8所示,1个循环测试过程:绑定设备将测试命令编码,通过串口1发送到计算机;计算机将测试命令解码,并重新编码,通过串口2和串口3发送给频点、q值测试设备和uid、rssi测试设备;频点、q值测试设备和uid、rssi测试设备解码获得测试命令,执行测试动作,测试完成后将测试结果数据重新编码通过串口2和串口3发送计算机,计算机将获得的数据解码,并进行判定,将判定结果重新编码通过串口1发送给绑定设备(发送给绑定设备的只有良品和不良品两种结果),绑定设备解码获得数据,若结果数据显示是良品,增加良品数字;若结果数据显示为不良品,则增加不良品数字,并在对应标签上打印不良墨点。

绑定设备到计算机的数据编码方式,与计算机到两台测试设备的数据编码方式不一致,故需要计算机作为中间媒介对数据进行解码和重新编码。

绑定设备在生产过程中,不停地执行上述循环,才能实现对每一枚标签的测试。

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