本发明属于半导体集成电路技术领域，具体涉及一种电容检测电路。
背景技术：
目前迅猛发展的电容触摸技术给人们的生活带来了很多的便利，触摸按键已经广泛应用到了台灯、电冰箱等生活的方方面面，所以通过检测电容值的大小来判断触摸与否的电容检测电路就变得越来越重要了。
传统的电容检测技术都是通过将电容置于rc振荡器中，通过检测rc振荡器频率的变化来判断电容值的变化。
这种传统的检测方法对电容的检测精度低，而且抗干扰能力弱。
技术实现要素：
为解决现有电容检测电路检测精度低、抗干扰能力弱的技术问题，本发明提供了一种检测精度高、抗干扰能力强的电容检测电路。
一种电容检测电路，包括：检测电容cx、基准电容cr、第一开关s1、第二开关s2和第三开关s3、比较器comp、振荡器osc、计数器counter以及数据处理单元dataprocessing；第一开关s1一端接输入电压vref，另一端接基准电容cr的一端和第二开关s2的一端，同时也接到比较器的正输入端；基准电容cr的另一端接地；第二开关s2的另一端接检测电容cx的一端和第三开关s3的一端；检测电容cx的另一端接地；第三开关s3的另一端也接地；比较器comp的负输入端接半输入电压1/2vref,比较器comp的输出端接计数器counter的使能端en；计数器counter的输入接振荡器osc的输出，计数器counter的输出接入数据处理模块dateprocessing进行数据处理。
本发明的电容检测电路，首先第一开关s1打开，将基准电容cr的电压充到输入电压vref，然后再将第二开关s2和第三开关s3交替打开，这样基准电容cr上的电压就会逐渐下降，当基准电容cr上的电压下降到1/2vref后，比较器comp翻转，这时候计数器计数结束。所以，计数值的大小就与检测电容cx形成一一对应的关系，计数值的变化也就体现了检测电容cx的变化，从而形成了具有较高检测精度，且具有较强的抗干扰能力的电容检测电路。
附图说明
图1是本发明第一实施方式提供的电容检测电路结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本发明进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本发明的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。
传统的电容检测技术均是通过将电容置于rc振荡器中，通过检测rc振荡器频率的变化来判断电容值的变化，从而造成对电容的检测精度低，抗干扰能力弱。
如何提高电容检测技术的检测精度及抗干扰能力，是本领域人员亟待解决的技术问题。
经过多方面研究，本发明颠覆传统的电容检测技术，提供了一种新的检测精度高、抗干扰能力强的电容检测电路，如图1所示，该电容检测电路包括：检测电容cx、基准电容cr、第一开关s1、第二开关s2和第三开关s3、比较器comp、振荡器osc、计数器counter以及数据处理单元dataprocessing；第一开关s1一端接输入电压vref，另一端接基准电容cr的一端和第二开关s2的一端，同时也接到比较器的正输入端；基准电容cr的另一端接地；第二开关s2的另一端接检测电容cx的一端和第三开关s3的一端；检测电容cx的另一端接地；第三开关s3的另一端也接地；比较器comp的负输入端接半输入电压1/2vref,比较器comp的输出端接计数器counter的使能端en；计数器counter的输入接振荡器osc的输出，计数器counter的输出接入数据处理模块dateprocessing进行数据处理。
本发明的电容检测电路，首先第一开关s1打开，将基准电容cr的电压充到输入电压vref，然后再将第二开关s2和第三开关s3交替打开，这样基准电容cr上的电压就会逐渐下降，当基准电容cr上的电压下降到1/2vref后，比较器comp翻转，这时候计数器计数结束。所以，计数值的大小就与检测电容cx形成一一对应的关系，计数值的变化也就体现了检测电容cx的变化，从而形成了具有较高检测精度，且具有较强的抗干扰能力的电容检测电路。
本发明中，半输入电压1/2vref为输入电压vref值的一半大小。
应当理解的是，本发明的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本发明的原理，而不构成对本发明的限制。因此，在不偏离本发明的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。此外，本发明所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。