半导体装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及生成与对触摸面板的检测面的触摸的有无对应的检测数据的触摸面板控制器，例如涉及在具备触摸面板控制器、显示驱动器和处理器的单芯片的控制器IC中适用且有效的技术。
【背景技术】
[0002]在互电容方式的触摸检测中，将交叉配置的X电极和Y电极的一方作为驱动电极，将另一方作为检测电极，一边对驱动电极依次进行选择驱动，一边按照该被选择驱动的驱动电极与检测电极的每个交点位置取得检测数据。在自电容方式的触摸检测中，以交叉配置的X电极和Y电极的每一个的电极为单位进行电荷移动并以该电极为单位取得与触摸的有无对应的检测数据。在无论哪种检测方式中都需要导入出现于每个检测电极的信号来检测的触摸检测用的检测电路。每一个的检测电路使用积分电路或开关电容电路等来进行开关电容工作，由此，取得与触摸的有无对应的信号电荷。
[0003]关于减少由那样的触摸检测工作造成的功耗的技术，在专利文献I中有记载。据此，只要对出现于确定的检测电极的接收电平进行监视，就能够判定触摸输入，在对输入操作进行待机的待机时间中，采用以一定周期仅对出现于确定的检测电极的接收电平进行检测的间歇检测模式。由此，在检测到触摸输入的情况下，通过转变为使全部电路工作来检测输入操作位置的检测模式，从而能够削减待机时间中的功耗。
[0004]现有技术文献专利文献
专利文献1:日本特开2013 - 206296号公报。
【发明内容】
[0005]发明要解决的课题
虽然如果如在专利文献I中记载的那样采用以一定周期进行触摸检测的间歇模式，则能够在间歇工作的休止期间中削减功耗，但是，本发明人讨论了在触摸面板的触摸输入等待状态下的触摸检测工作的进一步低功耗化。据此，对在触摸输入的等待状态下仅在触摸检测面的中央部那样的一部分的区域中判别触摸输入的方法进行了讨论，但是显然的是，关于就仅通过使检测区域变小，越小则检测精度越低，而没有实效。
[0006]本发明的目的在于提供一种能够在不设置特别的追加电路的情况下在触摸输入的等待状态下不使检测精度劣化而削减功耗来进行触摸有无的判别的半导体装置。
[0007]上述及其它的课题和新的特征根据本说明书的记述及附图而变得明显。
[0008]用于解决课题的方案简单地说明在本申请中公开的实施方式中的代表的实施方式的概要的话，如下述那样。
[0009]S卩，在触摸面板控制器中采用进行针对触摸面板的触摸检测面将全部检测点作为检测对象的普通扫描的第一模式和进行针对触摸面板的触摸检测面将以检测点的行为单位每隔I行间隔剔除多行的量后的剩余的行作为检测对象的低功率扫描的第二模式。
[0010]发明效果
简单地说明通过在本申请中公开的实施方式中的代表的实施方式得到的效果的话，如下述那样。
[0011]S卩，由于在低功率扫描中针对触摸检测面将每隔I行间隔剔除多行的量后的剩余的行作为检测对象，所以能够在不设置特别的追加电路的情况下在触摸输入的等待状态下不使检测精度劣化而削减功耗来进行触摸有无的判别。
【附图说明】
[0012]图1是例示了每隔I行间隔剔除Y电极的驱动对象并交替地调换间隔剔除行的低功率扫描方式的说明图。
[0013]图2是例示了将每隔I行间隔剔除Y电极的驱动对象并交替地调换间隔剔除行的低功率扫描限定于触摸检测面的中央部的扫描方式的说明图。
[0014]图3是例示了每隔I行间隔剔除X电极的检测对象并交替地调换间隔剔除行的低功率扫描方式的说明图。
[0015]图4是例示了将每隔I行间隔剔除X电极的检测对象并交替地调换间隔剔除行的低功率扫描限定于触摸检测面的中央部的扫描方式的说明图。
[0016]图5是例示了具备液晶显示和触摸检测用的面板模块的便携式信息终端的概略的框图。
[0017]图6是例示了触摸面板和触摸面板控制器中的检测部的细节的电路图。
[0018]图7是示出触摸面板控制器的具体例子的框图。
[0019]图8是概略地例示了半导体装置的工作模式的转变的状态转变图。
[0020]图9是概略地例示了普通模式和低功率模式下的触摸扫描的工作定时的时间图。
【具体实施方式】
[0021]1.实施方式的概要
首先，针对在本申请中公开的实施方式，说明概要。在针对实施方式的概要说明中标注括号来参照的附图中的附图标记只不过是例示被包括在标注了其的结构要素的概念中的结构要素。
[0022]〔 I〕〈普通扫描和低功率扫描>
半导体装置(12)包括触摸面板控制器(3)，所述触摸面板控制器(3)导入分别在X方向和Y方向上延伸并以规定的间隔配置的具有多个检测点的触摸面板(I)的所述检测点所连接的电极(Y1~YM、X1-XN)处出现的信号，生成与对所述触摸面板的检测面的触摸的有无对应的检测数据。所述触摸面板控制器在第一模式下进行针对所述触摸面板的触摸检测面将全部检测点作为检测对象的普通扫描，在第二模式下进行针对所述触摸面板的触摸检测面将以检测点的行为单位每隔I行间隔剔除多行的量后的剩余的行作为检测对象的低功率扫描。再有，在将X电极和Y电极形成在不同的层的2层触摸面板的情况下，检测点为电极Y1~YM、Xl-XN的交点位置。在将X电极和Y电极形成在同一层的I层触摸面板的情况下，用于形成检测点的电极不限于在2层的情况下的X电极与Y电极的关系。
[0023]据此，在低功率扫描中，针对触摸检测面，将每隔I行间隔剔除多行的量后的剩余的行作为检测对象。触摸检测面中的行的中心间距离大致为5_左右，如果是这样，则能够使间隔剔除后的行间按其前后的行容易地成为检测对象。因此，认为即使将每隔I行间隔剔除多行的量后的剩余的行作为检测对象，也几乎没有漏取。由此，能够在不实质降低检测精度的情况下针对触摸面板的全部检测面使检测行减半，能够在触摸输入的等待状态下不使检测精度劣化而削减功耗来进行触摸有无的判别。进而也不需要设置特别的追加电路。
[0024]〔2〕<间隔剔除检测行的交替调换>
在项I中，所述触摸面板控制器以触摸检测面的触摸检测帧为单位交替地调换所述每隔I行的间隔剔除对象的行(参照图1至图4)。
[0025]据此，即使在使间隔剔除后的行间按其前后的行漏取的情况下，进而，即使在触摸检测面中的行的中心间距离超过5_左右而变大这样的情况下，也能够通过以触摸检测面的触摸检测帧为单位交替地调换所述每隔I行的间隔剔除对象的检测行，从而抑制在触摸输入的等待状态下检测精度实质性地降低。
[0026]〔3〕〈在触摸检测面的中央部低功率扫描>
在项2中，使间隔剔除所述多行的量来作为所述低功率扫描的检测对象的检测行为所述触摸面板的触摸检测面的中央部(参照图2和图4)。
[0027]据此，由于经验上在触摸检测面的中央部进行触摸面板的操作的情况为大部分，所以，通过限定于中央部来进行低功率扫描，从而能够在不招致检测精度的降低的情况下有助于进一步的低功耗。
[0028]〔4〕<利用隔着休止时间的间歇工作的低功率扫描>
在项2中，所述触摸面板控制器在所述第二模式下隔着休止时间而间歇地进行所述低功率扫描(参照图9)。
[0029]据此，当设想通常以60Hz进行帧显示并在其空隙时间进行利用检测扫描的触摸检测的情况时，即使低功率扫描以比其长的间隔进行扫描，也没有障碍。这是因为，只要对触摸的有无进行检测即可，而不需要确定触摸坐标。在第二模式下，即使不经常连续地重复低功率扫描，也没有实际损害。因此，通过在所述第二模式下隔着休止时间而间歇地进行所述低功率扫描，从而能够有助于进一步的低功耗。
[0030]〔5〕〈具备显示驱动器的半导体装置>
在项I中，还具备显示驱动器(4)，所述显示驱动器进行被配置在所述触摸面板之下的液晶面板的显示控制。
[0031]据此，显示驱动器的显示控制和触摸面板的触摸控制的同步的控制变得容易。
[0032]〔6〕〈第一模式(普通模式)、第二模式(低功率模式)、第三模式(休眠模式)>
在项5中，所述第一模式为使由所述显示驱动器进行的显示面板的显示为启用的工作模式。所述第二模式为使由所述显示驱动器进行的显示面板的显示为禁用的工作模式。还具有第三模式，使由所述触摸面板控制器进行的对触摸面板的触摸检测为禁用并且使由所述显示驱动器进行的显示面板的显示为禁用。
[0033]据此，能够通过普通模式那样的第一模式、低功率模式那样的第二模式、以及休眠模式那样的第三模式来控制半导体装置的低功耗。
[0034]〔 7〕〈对工作模式进行控制的处理器>
在项6中，具有处理器(5)，所述处理器对工作模式的转变进行控制。所述处理器在所述第二模式下基于在所述低功率扫描中检测到的检测数据来判别触摸的有无，在由此判别了有触摸时使得从所述第二模式向所述第一模式转变，基于在所述触摸检测扫描中检测到的检测数据来判别触摸的有无。
[0035]由此，能够通过处理器的控制在没有浪费的情况下进行从第二模式向第一模式的转变。
[0036]〔8〕<互电容方式中的普通扫描和低功率扫描>
半导体装置包括触摸面板控制器(3)，所述触摸面板控制器具有在X方向上延伸并在Y方向上以规定间隔排列的多个X电极(X1~XN)、以及在Y方向上延伸并在X方向上以规定间隔排列的多个Y电极(Y1~YM)，驱动将所述X电极与所述Y电极的交点位置作为检测点的触摸面板的所述Y电极并导入出现于X电极的信号，生成与对所述触摸面板的检测面的触摸的有无对应的检测数据。所述触摸面板控制器在