技术特征：
技术总结
本发明公开了一种双自由落体的绝对重力测量光学系统，包括激光光源、落体机构、上真空室、下真空室和设置在上真空室和下真空室之间的干涉仪；所述落体机构包括两个完全相同、相对应的分别设置在上、下两真空室内的上落体棱镜和下落体棱镜；所述干涉仪包括第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统；所述激光光源射入干涉仪后，经过第一干涉系统、第二干涉系统和第三干涉系统后，产生三个干涉信号，用于计算绝对重力真值。本发明还提供了和该系统对应的测量方法。
技术研发人员：郭有光;洪国强;黄雯迪;薛振海;高铭泽
受保护的技术使用者：北京奥地探测仪器有限公司;地质矿产部北京地质仪器厂;郭有光
技术研发日：2017.05.19
技术公布日：2017.09.22