技术特征：
技术总结
本发明公开了一种特种光纤端面几何参数测试系统及方法，包括位移平台、光纤夹具、显微系统、摄像头、工控机、注入光源。用所述光纤夹具固定待测光纤一端，通过位移平台将待测光纤端面移入显微系统的视场内，通过所述显微系统观测待测光纤端面图像。注入光源连接待测光纤另一端，以使所述摄像头观测到稳定且点亮的光纤纤芯，所述摄像头与工控机连接，用于将待测光纤端面的图像发送到工控机进行处理以计算出待测光纤几何参数。本发明不仅可以测得圆形/椭圆形包层光纤的几何参数，还可以测得多边形包层光纤的几何参数。本发明可以测试有源光纤以及相似结构的特种光纤端面的几何参数，将通信光纤端面几何参数测试系统的测试范围扩展到特种光纤领域。
技术研发人员：李丁珂;杨笛;陶金金;方勇;童维军;刘彤庆;杨晨
受保护的技术使用者：长飞光纤光缆股份有限公司
技术研发日：2017.11.16
技术公布日：2018.04.20