一种电源器件表面老化检测工艺的制作方法

文档序号:14118550阅读:118来源:国知局

本发明涉及电子行业,具体涉及一种电源器件表面老化检测工艺。



背景技术:

随着科技发展,电子产业突飞猛进,各种集成、控制电路需求急剧增长,对芯片封装的需求也增长迅猛。电源是将其它形式的能转换成电能的装置。电源自“磁生电”原理,由水力、风力、海潮、水坝水压差、太阳能等可再生能源,及烧煤炭、油渣等产生电力来源。发电机能把机械能转换成电能,干电池能把化学能转换成电能。发电机、电池本身并不带电,它的两极分别有正负电荷,由正负电荷产生电压(电流是电荷在电压的作用下定向移动而形成的),电荷导体里本来就有,要产生电流只需要加上电压即可,当电池两极接上导体时为了产生电流而把正负电荷释放出去,当电荷散尽时,也就荷尽流(压)消了。干电池等叫做电源。通过变压器和整流器,把交流电变成直流电的装置叫做整流电源。能提供信号的电子设备叫做信号源。晶体三极管能把前面送来的信号加以放大,又把放大了的信号传送到后面的电路中去。晶体三极管对后面的电路来说,也可以看做是信号源。整流电源、信号源有时也叫做电源。

现有笔记本用电源需要在其表面包覆一层塑料外壳,塑料外壳需要对其进行老化试验,用以验证其是否符合产品要求,现有技术中的老化实验步骤繁琐,一般人员很难操作。

现需要一种电源器件表面老化检测工艺,以期可以解决上述技术问题。



技术实现要素:

本发明的目的是提供一种电源器件表面老化检测工艺,以弥补现有检测过程中的不足。

为了达到上述目的,本发明提供了一种电源器件表面老化检测工艺,步骤如下:

步骤1、从输送带取上站完成品,检查无外观不良后放到老化房老化治具上;

步骤2、固定好单体的ac输入端和dc输出端;

步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插;

步骤4、;打开电脑主机,选择机种相应的老化程式开始烧机;

步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报,灯闪或灯不亮为不良;

步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表;

步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂;

步骤8、将老化ok的产品确认合格后放在输送带下层。

优选地,在上述步骤4中,老化检测设备的输出电压为5v。

优选地,所述老化实验的实验环境要求为,温度:15~50℃,相对湿度:45%~75%大气压力:86~106kpa,在密闭空间(盒子)中进行,通过密闭保温。

优选地,所述老化时间为72h。

本发明的一种电源器件表面老化检测工艺,操作过程简单,可操作性强,检测效果良好,检测时的定位准确,检测的排查率高。

具体实施方式

实施例1

本发明主要针对芯片封装过程中的装片工序,提供了一种电源器件表面老化检测工艺,包括如下步骤:

为了达到上述目的,本发明提供了一种电源器件表面老化检测工艺,步骤如下:

步骤1、从输送带取上站完成品,检查无外观不良后放到老化房老化治具上;

步骤2、固定好单体的ac输入端和dc输出端;

步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插;

步骤4、;打开电脑主机,选择机种相应的老化程式开始烧机;

步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报,灯闪或灯不亮为不良;

步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表;

步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂;

步骤8、将老化ok的产品确认合格后放在输送带下层。

其中,在上述步骤4中,老化检测设备的输出电压为5v。

其中,所述老化实验的实验环境要求为,温度:15℃,相对湿度:45%,大气压力:86kpa,在密闭空间(盒子)中进行,通过密闭保温。

其中,所述老化时间为72h。

实施例2

本发明提供了一种电源器件表面老化检测工艺,步骤如下:

步骤1、从输送带取上站完成品,检查无外观不良后放到老化房老化治具上;

步骤2、固定好单体的ac输入端和dc输出端;

步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插;

步骤4、;打开电脑主机,选择机种相应的老化程式开始烧机;

步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报,灯闪或灯不亮为不良;

步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表;

步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂;

步骤8、将老化ok的产品确认合格后放在输送带下层。

其中,在上述步骤4中,老化检测设备的输出电压为5v。

其中,所述老化实验的实验环境要求为,温度:30℃,相对湿度:50%,大气压力:95kpa,在密闭空间(盒子)中进行,通过密闭保温。

其中,所述老化时间为72h。

实施例3

本发明提供了一种电源器件表面老化检测工艺,步骤如下:

步骤1、从输送带取上站完成品,检查无外观不良后放到老化房老化治具上;

步骤2、固定好单体的ac输入端和dc输出端;

步骤3、重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插;

步骤4、;打开电脑主机,选择机种相应的老化程式开始烧机;

步骤5、点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报,灯闪或灯不亮为不良;

步骤6、不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表;

步骤7、当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂;

步骤8、将老化ok的产品确认合格后放在输送带下层。

其中,在上述步骤4中,老化检测设备的输出电压为5v。

其中,所述老化实验的实验环境要求为,温度:50℃,相对湿度:75%,大气压力:106kpa,在密闭空间(盒子)中进行,通过密闭保温。

其中,所述老化时间为72h。

以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征及优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。



技术特征:

技术总结
本发明涉及一种电源器件表面老化检测工艺,包括如下步骤:从输送带取上站完成品,检查无外观不良后放到老化房老化治具上;固定好单体的AC输入端和DC输出端;重复以上动作、将烧机架装满、插上所有排插;打开电脑主机,选择机种相应的老化程式开始烧机;点检者每30分钟对指示灯状态点检并记录于点检日报,灯闪或灯不亮为不良;不良品贴上不良标签放不良胶框内待修.并记录于日报表;当老化完成后,取下单体并检查所有电解电容防爆口是否有凸起破裂;将老化OK的产品确认合格后放在输送带下层。本发明的一种电源器件表面老化检测工艺,操作过程简单,可操作性强,检测效果良好,检测时的定位准确,检测的排查率高。

技术研发人员:朱明敏;李涛;朱华星
受保护的技术使用者:江苏凯源电子科技股份有限公司
技术研发日:2017.11.24
技术公布日:2018.04.06
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