Oled器件的老化补偿系统及其老化补偿方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及平板显示技术领域，特别涉及一种OLED器件的老化补偿系统及其老化补偿方法。
【背景技术】
[0002]有机发光显示器利用有机发光二极管(英文全称Organic Lighting EmittingD1de,简称OLED)显示图像，是一种主动发光的显示器，其显示方式与传统的薄膜晶体管液晶显不器(英文全称 Thin Film Transistor liquid crystal display，简称 TFT-LCD)显示方式不同，无需背光灯，而且，具有对比度高、响应速度快、轻薄等诸多优点。因此，有机发光显示器被誉为可以取代薄膜晶体管液晶显示器的新一代的显示器。
[0003]通常的，有机发光显示器的每个像素均包括一 OLED器件和用于驱动所述OLED器件发光的像素驱动电路。OLED器件发生老化后即使流过相同大小的电流，OLED器件的发光亮度与新像素相比也会有所下降，老化后的OLED器件对应于像素驱动电路的响应曲线发生了改变。随着使用时间的延长，OLED器件的材料特性逐渐变差，导致像素的亮度不断衰减。而且，由于每个像素的多个子像素所用的OLED材料是不同的，因此亮度的衰减速度也会不一致，从而导致有机发光显示器的白平衡出现漂移。
[0004]为此，现有的有机发光显示器在出厂前通常会进行老化处理，即通过一定时间的点亮使得OLED材料进入较为稳定的状态。经过老化之后，有机发光显示器的亮度和色度变化趋于稳定，从而满足出货需求。
[0005]然而，老化处理会降低OLED器件的寿命。而且，由于老化处理的时间比较长，会增加生产时间，影响产线的生产效率。
[0006]基此，如何解决现有的有机发光显示器因OLED器件老化而导致的亮度衰减以及色偏问题已经成为本领域技术人员亟待解决的一个技术问题。
【发明内容】
[0007]本发明的目的在于提供一种OLED器件的老化补偿系统及其老化补偿方法，以解决现有的有机发光显示器因OLED器件老化而导致亮度衰减以及色偏问题。
[0008]为解决上述问题，本发明提供一种OLED器件的老化补偿系统，包括:像素电路、第一电源、第二电源、老化检测电路和驱动芯片；所述像素电路包括一 OLED器件，所述OLED器件连接在所述第一电源和第二电源之间；所述驱动芯片通过一数据线与所述像素电路连接，所述驱动芯片用于驱动所述OLED器件发光；所述老化检测电路连接在所述OLED器件的阳极与所述驱动芯片之间，所述驱动芯片通过所述老化检测电路测量所述OLED器件的阳极电压，所述驱动芯片具有一数据电压查找表，所述驱动芯片将阳极电压和数据电压查找表进行对比并对阳极电压进行老化补偿。
[0009]优选的，所述老化检测电路包括:晶体管、老化测量线和老化测量控制线，所述晶体管的源极与所述OLED器件的阳极连接，所述晶体管的漏极通过老化测量线与所述驱动芯片连接，所述晶体管的栅极通过老化测量控制线与所述驱动芯片连接。
[0010]优选的，所述晶体管为薄膜晶体管。
[0011]优选的，所述驱动芯片包括:低通滤波器、数模转换器、逻辑判断单元、电压调节器和伽马产生单元；所述低通滤波器的输出端连接所述数模转换器的输入端，所述数模转换器的输出端连接所述逻辑判断单元的输入端，所述逻辑判断单元的输出端连接所述电压调节器的输入端，所述电压调节器的输出端连接所述伽马产生单元的输入端。
[0012]相应的，本发明还提供了一种OLED器件的老化补偿方法，所述OLED器件的老化补偿方法包括:
[0013]通过实验测量获得OLED器件的老化数据，并根据所述老化数据制作数据电压查找表;
[0014]将所述数据电压查找表存入驱动芯片中；
[0015]提供一有机发光显示器，所述有机发光显示器的显示区域划分为若干个显示单元，每个显示单元中均设置有至少一个老化测试点，所述老化测试点包括像素电路和老化检测电路，所述像素电路包括一 OLED器件，所述老化检测电路连接在所述OLED器件的阳极与所述驱动芯片之间；
[0016]利用所述驱动芯片测量各个老化测试点的OLED器件的阳极电压；
[0017]根据所述阳极电压和数据电压查找表对所述有机发光显示器的各个显示单元进行老化补偿。
[0018]优选的，根据所述阳极电压向和数据电压查找表对各个显示单元进行老化补偿的过程包括:
[0019]通过低通滤波器对所述阳极电压进行信号过滤；
[0020]通过数模转换器对所述阳极电压进行数模转换；
[0021]通过逻辑判断单元将所述阳极电压与所述数据电压查找表进行对比，并计算每个显示单元的老化补偿后的数据电压值；
[0022]通过电压调节器将老化补偿后的数据电压值反馈到伽马产生单元；
[0023]通过所述伽马产生单元向所述有机发光显示器的各个显示单元输送老化补偿后的数据电压值。
[0024]优选的，所述老化检测电路包括晶体管、老化测量线和老化测量控制线，所述晶体管的源极与所述OLED器件的阳极连接，所述晶体管的漏极通过老化测量线与所述驱动芯片连接，所述晶体管的栅极通过老化测量控制线与所述驱动芯片连接。
[0025]优选的，所述有机发光显示器的显示区域设置有九个老化测试点，所述九个老化测试点均匀排布于显示区域中。
[0026]优选的，所述九个老化测试点共用同一条老化测量控制线。
[0027]优选的，所述每个老化测试点均包括至少三个连有老化测试线的子像素。
[0028]在本发明提供的OLED器件的老化补偿系统及其老化补偿方法中，通过设置老化测试电路，使得驱动芯片通过所述老化测试点能够实时监控OLED器件的老化状况，并根据老化状况的不同进行分区补偿，从而避免出现因OLED器件老化而导致亮度衰减以及色偏冋题。
【附图说明】
[0029]图1是本发明OLED器件的老化补偿系统的结构示意图；
[0030]图2是本发明驱动芯片的结构示意图；
[0031]图3是本发明OLED器件的老化补偿方法的流程图；
[0032]图4是本发明有机发光显示器的部分结构示意图。
【具体实施方式】
[0033]以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种OLED器件的老化补偿系统及其老化补偿方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
[0034]请参考图1，其为本发明实施例的OLED器件的老化补偿系统的结构示意图。如图1所示，所述OLED器件的老化补偿系统100包括:像素电路10、第一电源VDD、第二电源VSS、老化检测电路20和驱动芯片30 ;所述像素电路10包括OLED器件，所述OLED器件连接在所述第一电源VDD和第二电源VSS之间，所述驱动芯片30通过数据线DATA与所述像素电路10连接，用于驱动所述OLED器件发光；所述老化检测电路20连接在所述OLED器件的阳极与所述驱动芯片30之间，所述驱动芯片30通过老化检测电路20测量所述OLED器件的阳极电压，所述驱动芯片30具有一数据电压查找表，所述驱动芯片30将阳极电压和数据电压查找表进行对比并对阳极电压进行老化补偿。
[0035]其中，所述老化检测电路20包括:晶体管Tl、老化测量线LI和老化测量控制线L2，所述晶体管Tl的源极与所述OLED器件的阳极连接，所述晶体管Tl的漏极通过老化测量线LI与所述驱动芯片30连接，所述晶体管Tl的栅极通过老化测量控制线L2与所述驱动芯片30连接。优选的，所述晶体管Tl为薄膜晶体管。
[0036]需要说明的是，所述像素电路10的电路结构在此不做限制，可以采用任何现有的电路结构，包括2T1C、6T1C、6T2C等电路结构，只要所述像素电路10能够输出驱动电流驱动所述OLED器件发光即可。本实施例中，所述像素电路10以2T1C型电路为例。
[0037]请参考图3，其为本发明实施例的驱动芯片的结构示意图。如图3所示，所述驱动芯片30包括:低通滤波器31、数模转换器32、逻辑判断单元33、电压调节器34和伽马产生单元35 ;所述低通滤波器31的输出端连接所述数模转换器32的输入端，所述数模转换器32的输出端连接所述逻辑判断单元33的输入端，所述逻辑判断单元33的输出端连接所述电压调节器34的输入端，所述电压调节器34的输出端连接所述伽马产生单元35的输入端。
[0038]所述驱动芯片30通过老化检测电路20测得OLED器件的阳极电压，经过驱动芯片30内部的低通滤波器31和数模转换器32的处理，再反馈给逻辑判断单元33，由逻辑判断单元33根据OLED器件的阳极电压值判断OLED器件的老化状况，所述逻辑判断单元33将OLED器件的阳极电压值与驱动芯片30内储存的数据电压查找表进行对比，并计算出补偿后的数据电压值，补偿后的数据电压值经过所述电压调节器34反馈到伽马产生单元35，由所述伽马产生单元35将补偿后的数据电压值输送到显示区域。
[0039]由此可见，所述驱动芯片不但能够定时检测所述老化测试点中OLED器件的阳极电压，而且能够根据所述OLED器件的阳极电压进行老化补偿。
[0040]相应的，本发明实施例还提供了一种OLED器件的老化补偿方法。请参考图3，其为本发明实施例的OLED器件的老化补偿方法的流程图。如图3所示，所述OLED器件的老化补偿方法包括:
[0041]步骤一:通过实验测量获得OLED器件的老化数据，并根据所述老化数据制作数据电压查找表；
[0042]步骤二:将数据电压查找表存入驱动芯片中；
[0043]步骤三: