片式元器件老化装置的制作方法

文档序号:6833672阅读:259来源:国知局
专利名称:片式元器件老化装置的制作方法
技术领域
本发明涉及电子元器件制造领域,是一种片式元器件制造过程中老化工艺所使用的相关装置,特别是一种片式元器件老化装置。
背景技术
片式元器件在生产过程中都要进行对元器件进行自愈修复和不良品筛选的重要老化过程,特别是电容器的生产,通过老化提高产品性能的稳定性和对不良品进行剔除,如果该工序达不到预期效果,将严重影响产品的性能。目前美国、日本和国内厂家生产的老化装置,由于本身设计缺陷,都存在接触不良、易损坏等现状,造成产品虚老化率高和老化装置故障率高的现象,他们之中最好的美国装置,其虚老化率也在15%,致使电容器生产的成品率和产品电性能都受到严重影响。现有的老化装置都包括一个老化箱和数个老化板,老化箱内有数层老化架,老化架后部有两个电极插口,该插口与电源正负极相连,老化板上部按正负极放置待老化器件,在老化板的尾端引出两根电极,在进行老化时,将老化板放入老化架的同时,要将老化板的两根电极插进老化架后部的电极插口。
上述现有技术的结构在重复使用过程中经常发生接触不良和装置损坏的情况,造成产品虚老化率高和老化装置故障率高的现象。

发明内容
本发明的目的是在原系统电源控制等装置完全不变的情况下提供一种可确保老化的质量、大幅度降低故障率,能够长期有效、可靠的运行的片式元器件老化装置。
本发明的目的按下述方案实现一种片式元器件老化装置,包括老化箱和老化板,老化箱内有多层可放置老化板的老化架,老化架上接有供电装置,老化板与老化架之间是通过相互接触的轨道平面进行导电的;上述老化板与老化架之间的接触材料是铜质、不修钢材质铍铜导电极板。
上述老化架的基坐是一边固定在老化箱内壁的角钢,角钢的另一边上固定分布有等高的绝缘层,绝缘层上固定铍铜导电板,铍铜导电板的后端接有电极;上述老化板的底面固定有两条与老化架铍铜导电极板位置对应的铍铜导电板。
本发明彻底解决了原有各种老化装置由于接触不良造成的虚老化以及电源插接件极易损坏而造成的故障率高、维修成本高,致使生产不能正常运行的弊端,确保了老化质量,为提高产品的可靠性和不良品的剔除起到了保证作用,自投入试用一年以来,从未发生过虚老化现象,也从未进行过维修。


图1是本发明老化箱正面结构示意图;图2是本发明老化箱俯视结构示意图;图3是图2的A-A向视图;图4是图2的B-B向视5是本发明老化板底部结构示意图;图6是图5的俯视图。
具体实施例方式
以下结合附图对本发明的结构进行更详细的描述如图1至图6所示,本发明主要包括两部分老化箱(1)和老化板(3),老化箱是一个金属方柜,其内从上至下分布有多层老化架(2),老化架基坐是一边固定在金属方柜内侧的角钢(2-2),角钢的另一边上通过埋头螺钉(2-6)固定有绝缘层(2-3),在本例中,绝缘层是胶木板,沿角钢分段布置,胶木板之上可以再加一层电木板(2-4),再上面通过埋头螺钉(2-5)固定有铍铜导电板(2-1),需注意的是将两种螺钉的位置错开,铍铜导电板的尾端略微伸出,引出电极;老化板的结构如图5、图6所示,老化板(3)正面为产品装载面,反面为电极引入面,正面根据产品尺寸用不锈钢板材折压成型,正负极相间的均匀固定,所有正极在老化板端部进行连接成一体,负极在另一端连接,老化板背面为电极引入,与老化架轨道接触两侧安装铍铜导电板(3-1),背面铍铜导电板电长度均为板长的1/2-1/3,保证老化板插拔及正常老化过程中与轨道完全接触,不变形、不悬空。老化板背面电极长度缩短是为了在老化过程中抽出1/2或1/3即可剔除不良品。
权利要求
1.一种片式元器件老化装置,包括老化箱(1)和老化板(3),老化箱内有多层可放置老化板的老化架(2),老化架上接有供电装置,其特征在于老化板(3)与老化架(2)之间是通过相互接触的轨道平面进行导电的。
2.如权利要求1所述的片式元器件老化装置,其特征在于上述老化板与老化架之间的接触材料是铍铜导电板。
3.如权利要求1所述的片式元器件老化装置,其特征在于上述老化架的基坐是一边固定在老化箱内壁的角钢(2-2),角钢的另一边上固定分布有等高的绝缘层(2-3),绝缘层上固定铍铜导电板(2-1),铍铜导电板的后端接有电极。
4.如权利要求1所述的片式元器件老化装置,其特征在于上述老化板(3)的底面固定有两条与老化架铍铜导电板位置对应的铍铜导电板(3-1)。
全文摘要
本发明是一种片式元器件老化装置,包括老化箱(1)和老化板(3),老化箱内有多层可放置老化板的老化架(2),老化架上接有供电装置,其特征在于老化板(3)与老化架(2)之间是通过相互接触的轨道平面进行导电的。本发明彻底解决了原有各种老化装置由于接触不良造成的虚老化以及电源插接件极易损坏而造成的故障率高、维修成本高,致使生产不能正常运行的弊端,确保了老化质量,为提高产品的可靠性和不良品的剔除起到了保证作用,自投入试用一年以来,从未发生过虚老化现象,也从未进行过维修。
文档编号H01L21/66GK1614727SQ20041007929
公开日2005年5月11日 申请日期2004年9月28日 优先权日2004年9月28日
发明者仇新杰, 贾廷庆, 张建成 申请人:宁夏星日电子股份有限公司
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