专利名称：一种便于老化测试的有机电致发光器件的制作方法
技术领域：
一种便于老化测试的有机电致发光器件技术领域-本实用新型涉及电子显示器件的技术领域，特指一种便于老化测试的有机电 致发光器件的结构设计。
技术背景-有机电致发光显示器件(0LED)是一种低电压、低功耗、高亮度、高光效、 宽视角、全固化、全彩显、重量轻、价格低的电致发光器件。0LED已成为当今 显示器件研究的热门中的热点。()LED通常包括基片、后盖以及位于基片和后盖中间发光单元，其制作过 程是，在玻璃基片上分别镀上几层膜(正极、发光层、负极等)，然后将后盖叠 加在基片上，将作为发光单元的发光膜层封装在二者之间，形成一种三文治结构。 在制作过程中，为了节约成本、提高效率，通常是在同一面积较大的玻璃基片制 作尽可能多的发光小屏(即发光单元)，然后再根据发光小屏将玻璃切割形成一 个个小的0LED发光单体。这样，经过同一工序流程后就可以产出更多的产品。 随着生产技术的不断进歩，0LED生产线玻璃基片规格也经历了从第-一代的i00 * 100，到第二代的200*200;再到第三代的370*470，及至第四代730*920的更 新换代。不变的是，每个单独的发光单元还是要进行老化测试，将大的玻璃基片 分切成小屏来单独老化显而易见是不现实的，于是有了整个玻璃基片上全部小屏 一起老化的概念，这种是0LED业届目前风行的操作工艺。如上所述，要实现整个玻璃基片上全部小屏一起老化，必要在后盖玻璃上开出小孔，让电极通过小孔接通基片与后盖之问膜层上的正、负极才能老化。在 玻璃基片仍然是200*200的年代，其方法的确为生产提供了便利，但当玻璃基片 飞跃到370*470，甚至730*920时，备受困扰的问题来了玻璃基片尺寸越大其 上丌的孔就越多，难度就越大，成品就越低，并且成本越高。 实用新型内容针对上述问题，本实用新型所要解决的技术问题就是提供一种结构合理、可 有效降低老化成本，并容易实现量产化的便于老化测试的有机电致发光器件。为解决上述技术问题，本实用新型采用了如下的技术方案本实用新型提出 了-种新的发光器件，该发光器件包括基片、后盖以及位于基片和后盖之间的 多个发光单元，后盖相对于基片形有一个缺边或两个缺边，位于该缺边位置的基 片上对应每个发光单元形成有用于老化测试的正、负电极，每个发光单元中每个 像素点的正、负极连线分别汇集于对应的正、负电极上。所述用于老化测试的IK、负电极排布位置是正电极居中、负电极位于正电 极的左右两侧，发光单元中的iH极连线由靠近缺边一侧汇集在正电极上，发光单元中负极连线t.y其两侧引出汇集于负电极上。或者，正、负电极排布位置也可采用另外的上下排布方式两侧的负电极汇 集在一边(在器件的下缺边或上缺边)，正电极汇集在一边(在器件的上缺边或 下缺边)；发光单元中的负极连线引出延伸至下缺边(或上缺边)汇集在负电极 上，发光单元中正极连线引出延伸至上缺边(或下缺边)汇集于正电极上。本实用新型所提供的有机电致发光器件在制造时，首先把设计有上述的老化 测试屯极的-一个整块玻璃成品分切成长条状，每条长条状的器件包含的发光单元 (发光小屏)数量可以是6， 7， 8等等，具体数量可视强度而定；再将后盖中与 该器件的电极重迭的地方切掉，将引线及电极显露出来。老化时直接接通这些汇集的电极就可以接通发光单元中的每个像素点，从而实现对器件中每个发光单元 的同时老化。与现有技术相比，本实用新型存在以下创新首先，多个小屏一起老化时， 现有技术是利用打孔的方式使整个玻璃基片全部小屏一起老化，而本实用新型是 把整个玻璃基片分切成长条的单行小屏，以条为单位进行老化。其次，现有技术的电极连接方式是单独每条线的连接，而本实用新型是分 别把所有的正极集接成一个lH极、把所有的负极集接成一个负极，也可以左负极 和右负极两个负极。利用本实用新型可达到的效果有O)以更低的成本实现0LED量产化，无须受后盖的成本影响。 ②有效的改善屏上电极和电极的接触(接触面积大大提高的缘故)减少接触电阻引至老化的发光不均匀的问题。
以下结合附图对本实用新型作进一歩的说明 图1是用于制造本实用新型的整个玻璃片的结构示意图； 图2是本实用新型包含6个发光单元的实施例的结构示意图； 图3是本实用新型单个发光单元电极引线连接的结构示意图。 具体实施例见图l，在制作本实用新型时，首先在一个整块玻璃基片6分切成若干的长 条状。每条长条状的器件7包含的发光单元3 (发光小屏)数量可以是6、 7、 8 等等，本实施例采用了 6个发光单元3。在每个长条状的器件7的下方设置电极， 该电极与发光单元3中的对应电极引线连接。然后将后盖中与该器件7的电极重 叠的地方切掉，将电极显露出来。见图2，本实用新型为长条状的发光器件7，其包括基片1、后盖2以及 位于基片1和后盖2之间的多个发光单元3，后盖2相对于基片1形有一个缺边 21 (即前面所说后盖2中与该器件7的电极重叠所切掉的地方)，位于该缺边21 位置的基片1上对应每个发光单元3形成有用于老化测试的正、负电极4、 5， 每个发光单元3中每个像素点的正、负极连线分别汇集于该该对应的正、负电 极4、 5上。老化时直接接通这些汇集的正、负电极4、 5就可以接通发光单元3中的每 个像素点，从而实现对器件中每个发光单元3的同时老化。待老化及其它测试完 成后，再将缺边21切割掉，并且将每个发光单元3分割出来，形成一个个的0LED 发光单体。见图3，所述用于老化测试的正、负电极4、 5排布位置是正电极5居中、 负电极4位于正电极5的左右两侧，发光单元3中的正极连线由靠近缺边21 侧汇集在正电极5上，发光单元3中负极连线由其两侧引出汇集于负电极4上。当然，也可以采用另外的上下排布方式，即用于老化测试的正、负电极在器 件相对的两边，两负电极4汇成一个电极在同一侧(上边或下边)、正电极5位 于器件另一侧的下边或上边。综上所述，采用本实用新型后，老化时直接接通汇集的TF.、负电极4、 5就 可以接通发光单元3中的每个像素点，从而实现对器件7中每个发光单元3的同 时老化。本实用新型可以以更低的成本实现OLED量产化，无须受后盖的成本影 响。同时，本实用新型可以有效的改善屏上电极和电极的接触(接触面积大大提 高的缘故)减少接触电阻引至老化的发光不均匀的问题。当然，以上所述仅仅为本实用新型的实例而已，并非来限制本实用新型的实 施范围，故，凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均应包括于本实用新型申请专利范围内。
权利要求1、一种便于老化测试的有机电致发光器件，包括基片(1)、后盖(2)以及位于基片(1)和后盖(2)之间的多个发光单元(3)，其特征在于后盖(2)相对于基片(1)形成有一个缺边(21)，位于该缺边(21)位置的基片(1)上对应每个发光单元(3)形成有用于老化测试的正、负电极(4、5)，每个发光单元(3)中每个像素点的正、负极连线分别汇集于对应的正、负电极(4、5)上。
2、 根据权利要求1所述的一种便于老化测试的有机电致发光器件，其 特征在于所述用于老化测试的正、负电极(4、 5)排布位置是正电极(5) 居中、负电极(4)位于正电极(5)的左右两侧，发光单元(3)中的正极连线 由靠近缺边(21) —側汇集在正电极(5)上，发光单元(3)中负极连线由其两 側引出汇集于负电极(4)上。
3、 根据权利要求1所述的一种便于老化測试的有机电致发光器件，其 特征在于所述用于老化测试的正、负电极(4、 5)排布位置是正电极(5) 与负电极(4)位于器件相对的两边，器件的正极引线器件的下边或上边引出汇 集在正电极(5)上，器件的负极引线由其两侧引出在与正电极(5)相对的上边 或下边汇集在负电极(4上)。
专利摘要本实用新型涉及电子显示器件的技术领域，特指一种便于老化测试的有机电致发光器件的结构设计。本实用新型器件包括基片、后盖以及位于基片和后盖之间的多个发光单元；后盖相对于基片形成一个或两个缺边(上方或下方)，该缺边位置的基片上是用于老化测试的正、负电极，每个发光单元中每个像素点的正、负电极引线分别汇集于该对应的正、负电极上。本实用新型在制造时，首先把设计有上述的老化测试电极的一个整块玻璃成品分切成长条状，再将后盖中与该器件的电极重迭的地方切掉，将引线及电极显露出来。老化时直接接通这些汇集的电极就可以接通发光单元中的每个像素点，从而实现对器件中每个发光单元的同时老化。
文档编号H05B33/26GK201119046SQ20072005881
公开日2008年9月17日 申请日期2007年10月29日 优先权日2007年10月29日
发明者刘惠森, 向桂华, 杨明生, 谭国良, 赵伟明 申请人:东莞彩显有机发光科技有限公司;东莞宏威数码机械有限公司