信息处理设备和方法、存储介质和物品制造方法与流程

技术特征：

1.一种信息处理设备，其特征在于，所述信息处理设备计算目标物体的位置和朝向，所述信息处理设备包括：

获取单元，被配置为获取目标物体的形状的测量数据和目标物体的形状模型；以及

计算器，被配置为基于由获取单元获取的形状模型中用于指定目标物体的朝向的特定部位的采样信息以及目标物体的形状的测量数据来计算目标物体的位置和朝向。

2.如权利要求1所述的信息处理设备，其中采样信息包括关于要采样的模型点的密度的信息，并且特定部位中的模型点的密度高于除该特定部位以外的部位中的模型点的密度。

3.如权利要求2所述的信息处理设备，其中要采样的模型点的数量等于或小于预定参考值。

4.如权利要求1所述的信息处理设备，其中采样信息根据对目标物体进行成像的成像设备的分辨率或能捕获的图像范围而改变。

5.如权利要求1所述的信息处理设备，还包括近似计算器，该近似计算器被配置为计算目标物体的近似位置和朝向，

其中采样信息针对目标物体的近似位置和朝向的每个候选而设置，以及

被配置为计算目标物体的位置和朝向的计算器还被配置为基于由近似计算器计算的目标物体的近似位置和朝向来确定要用于计算目标物体的位置和朝向的采样信息。

6.如权利要求1所述的信息处理设备，其中获取单元被配置为还获取形状与目标物体相似的相似物体的三维形状模型，

采样信息包括要用于在目标物体与相似物体之间进行区别的特定部位的采样信息，以及

被配置为计算目标物体的位置和朝向的计算器还被配置为基于目标物体的采样信息和相似物体的采样信息来确定被测量的物体是否是目标物体。

7.如权利要求1所述的信息处理设备，还包括被配置为确定采样信息的采样单元。

8.如权利要求7所述的信息处理设备，其中采样单元被配置为确定要采样的模型点的密度以用作采样信息，并且在特定部位中的确定的模型点的密度高于在除所述特定部位以外的部位中要采样的模型点的密度。

9.如权利要求8所述的信息处理设备，其中采样单元被配置为在等于或小于预定参考值的范围内确定要采样的模型点的数量以用作采样信息。

10.如权利要求7所述的信息处理设备，其中采样单元被配置为基于对目标物体进行成像的成像设备的分辨率或能捕获的图像范围来确定采样信息。

11.如权利要求7所述的信息处理设备，还包括近似计算器，该近似计算器被配置为计算目标物体的近似位置和朝向，

其中采样单元被配置为针对目标物体的近似位置和朝向的每个候选设置采样信息，以及

被配置为计算目标物体的位置和朝向的计算器还被配置为基于由近似计算器计算出的目标物体的近似位置和朝向来确定要用于计算目标物体的位置和朝向的采样信息。

12.如权利要求7所述的信息处理设备，其中获取单元被配置为还获取形状与目标物体相似的相似物体的三维形状模型，

采样单元被配置为还确定要用于在目标物体与相似物体之间进行区别的特定部位的采样信息，以及

被配置为计算目标物体的位置和朝向的计算器还被配置为基于目标物体的采样信息和相似物体的采样信息来确定被测量的物体是否是目标物体。

13.如权利要求1所述的信息处理设备，还包括输出单元，该输出单元被配置为输出由被配置为计算目标物体的位置和朝向的计算器计算出的目标物体的位置和朝向的信息。

14.如权利要求1所述的信息处理设备，其中特定部位是用于区分目标物体的相似朝向的部位。

15.一种测量目标物体的位置和朝向的测量装置，其特征在于，该测量装置包括：

测量单元，被配置为测量目标物体的形状；以及

如权利要求1至14中任一项所述的信息处理设备，

其中信息处理设备被配置为获取由测量单元测量的目标物体的形状的测量数据并且计算目标物体的位置和朝向。

16.一种系统，其特征在于，该系统包括：

如权利要求1至14中任一项所述的信息处理设备；以及

机器人，被配置为保持和移动目标物体，

其中机器人被配置为基于从信息处理设备输出的目标物体的位置和朝向来保持目标物体。

17.一种计算目标物体的位置和朝向的方法，其特征在于，该方法包括：

获取步骤，获取目标物体的形状和目标物体的形状模型的测量数据；

指明步骤，在获取步骤中获取的形状模型中，区分目标物体的相似朝向并指明用于指明朝向的特定部位；以及

计算步骤，基于在指明步骤中指明的特定部位的采样信息和目标物体的形状的测量数据，计算目标物体的位置和朝向。

18.一种存储介质，其特征在于，该存储介质存储使计算机执行如权利要求17所述的计算方法的计算机程序。

19.一种设备，包括：

一个或多个处理器；以及

存储器，存储当被执行时使所述一个或多个处理器执行如权利要求17所述的方法的步骤的指令。

20.一种包括用于执行如权利要求17所述的方法的步骤的部件的装置。

21.一种制造物品的方法，其特征在于，该方法包括：

通过使用如权利要求15所述的测量装置来测量目标物体；以及

基于测量的结果处理目标物体。