本实用新型涉及一种测试仪器，特别是一种监测电子产品寿命的测试仪器。
背景技术：
现有技术中的寿命测试仪只有一路输出，一次只能测试一个产品的寿命，企业不得不采购多台寿命测试仪才能满足测试需要，导致企业的采购成本增加。
另外，目前的寿命测试仪记录的数据只储存在本机中，由于测试的参数如温度、电压、电流、时间等项目较多，需要人工将这些参数输入到对应的电脑软件中，人工输入参数的过程中难免会出现差错，可靠性不高。
技术实现要素：
为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种能同时监测多个产品的寿命，可靠性高的多路寿命测试仪。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种多路寿命测试仪，包括微处理器、切换开关模块和光电隔离模块；所述微处理器的输入端连接有按键模块和信号采集模块，输出端连接有断电存储模块、显示模块、通讯模块和驱动输出模块；所述驱动输出模块设置有至少两条输出回路，所述切换开关模块的输入端与所述输出回路电连接，切换开关模块的输出端与所述信号采集模块电连接，所述光电隔离模块的输入端接所述微处理器的输出端，所述光电隔离模块的输出端接所述切换开关模块的控制端，所述信号采集模块与所述微处理器之间连接有信号放大模块。
本实用新型的有益效果是：本实用新型包括切换开关模块，驱动输出模块设置有多条输出回路，微处理器通过光电隔离模块发信号给切换开关模块，切换开关模块切换监测的输出回路，分时循环采集各输出回路的电信号，实现同时监测多个产品的寿命，由于循环周期极短，不会影响数据的准确性，检测数据通过通讯模块发送到电脑等，也避免了人工输入带来的差错。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的电路原理方框图。
具体实施方式
参照图1，一种多路寿命测试仪，包括微处理器、切换开关模块和光电隔离模块；所述微处理器的输入端连接有按键模块和信号采集模块，输出端连接有断电存储模块、显示模块、通讯模块和驱动输出模块；所述驱动输出模块设置有至少两条输出回路，所述切换开关模块的输入端与所述输出回路电连接，切换开关模块的输出端与所述信号采集模块电连接，所述光电隔离模块的输入端接所述微处理器的输出端，所述光电隔离模块的输出端接所述切换开关模块的控制端，所述信号采集模块与所述微处理器之间连接有信号放大模块。
微处理器为STM8F103单片机，切换开关模块为具有多路输入和多路输出的半导体开关模组，光电隔离模块为光电耦合器，按键模块为设定按钮，信号采集模块为电压互感器、电流互感器等，断电存储模块为NT5CB26M8FN-D1储存芯片，显示模块为显示驱动电路和显示屏，通讯模块为RS232通讯接口，驱动输出模块为电源模块，给待测试的产品提供工作电源，信号放大模块将信号采集模块输入的模拟量整形、放大后送入微处理器中。
微处理器通过光电隔离模块发信号给切换开关模块，切换开关模块切换监测的输出回路，分时循环采集各输出回路的电信号，实现同时监测多个产品的寿命，由于循环周期极短，不会影响数据的准确性，检测数据通过通讯模块发送到电脑等，也避免了人工输入带来的差错。