技术总结
本实用新型公开了一种银行安全芯片自动化测试系统，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。
技术研发人员：禹乾勋;赵勇
受保护的技术使用者：深圳市华宇半导体有限公司
文档号码：201720273894
技术研发日：2017.03.21
技术公布日：2017.12.26