本实用新型涉及四方针连接元器件缺针检测设备的结构改进技术，尤其是四方针电子元器件产品缺pin检测装置。
背景技术：
四方针是一种应用广泛的电子插针，现有的四方针一般为纯铜结构，在中部位置设置一个卡点。这种结构的四方针，虽然质量重，生产和运输成本高，成本高但仍然应用广泛，只是在使用的时候，常会出现松动的情况，以致影响四方针和接线端子的连接稳定，降低产品寿命，而且，类似的缺陷还包括端头形状不规则等缺针导致使用时影响生产效率，增加了企业的成本。
目前四方针电子元器件产品通用光纤检测，缺针不能百分之百的检测出来，检测效果不理想，使用光纤数PIN时常会漏检使缺针次品流入下一个工站，导致产品品质极不稳定。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供四方针电子元器件产品缺pin检测装置，代替单纯光纤检测机构，能准确测出缺针，提升生产效率及稳定品质。
本实用新型的目的将通过以下技术措施来实现：包括测试台、滑块、顶针、测试块和光纤对照装置；测试台顶面前部安装滑块，在滑块中部上侧安装顶针，在滑块前部上侧安装测试块，顶针前端连接测试块，测试块上开有校准槽孔，在该校准槽孔下方安装光纤对照装置。
尤其是，测试台顶面后部安装气缸，气缸前部伸缩杆连接滑块后部。
尤其是，在测试台前侧有机台，机台上安装有流道，待测的PIN针安装在流道上，测试块前端朝向并接近待测的PIN针。
尤其是，测试块前端连接镶件。
尤其是，顶针和测试块分别通过各自的固定座安装在滑块上。
尤其是，滑块底面安装滑动导轨。
本实用新型的优点和效果：采用弹性检测零件敏感准确接触到产品端子的单个pin脚，并同时配合利用光纤对照装置控制光纤的导通与短路，精确检测出端子品质，检测效率高，结构简单，易于使用，成本低，工作稳定，减少人工和劳动强度，同时，由于测试块和镶件在测试同时推顶作用，使PIN针与料带的连接更加紧密、牢固，延长连接器的使用寿命，降低连接器的报废率。
附图说明
图1为本实用新型实施例1主视结构示意图。
图2为本实用新型实施例1俯视结构示意图。
附图标记包括：
测试台1、气缸2、滑块3、顶针4、测试块5、光纤对照装置6、镶件7、PIN针8、机台9、流道10。
具体实施方式
本实用新型原理在于，采用弹性检测零件敏感准确接触到产品的端子，并同时配合利用光纤对照装置6特殊机构控制光纤的导通与短路，达到精确检测产品端子数量以及长度的目的，解决常规光纤检测的漏检以及误判误报的问题。
本实用新型包括：测试台1、滑块3、顶针4、测试块5和光纤对照装置6。
为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
实施例1：如附图1和2所示，测试台1顶面前部安装滑块3，在滑块3中部上侧安装顶针4，在滑块3前部上侧安装测试块5，顶针4前端连接测试块5，测试块5上开有校准槽孔，在该校准槽孔下方安装光纤对照装置6。
前述中，测试台1顶面后部安装气缸2，气缸2前部伸缩杆连接滑块3后部。
前述中，在测试台1前侧有机台9，机台9上安装有流道10，待测的PIN针8安装在流道10上，测试块5前端朝向并接近待测的PIN针8。
前述中，测试块5前端连接镶件7。
前述中，顶针4和测试块5分别通过各自的固定座安装在滑块3上。
前述中，滑块3底面安装滑动导轨。
本实用新型实施例中，镶件7本体及端头结构根据不同料带以及PIN针脚产品规格设计。PIN针8、机台9流道10
本实用新型实施例在工作时，当要测试产品时，由气缸2推动滑块3进行测试，气缸2把滑块3推到底时，小的镶件7后侧的测试块5上的校准槽孔会在一条直线上，通过光纤对照装置6采用光纤对照检查是否获得该结果，如果产品缺针小镶件就会档住光纤的对照功能，继而会触发PLC发出指令，判定是缺针产品。
本实用新型采用小的镶件7一对一的测试每一个PIN针8。适用于四方针电子元器件产品单排针的检测。
上述实施例仅为说明本实用新型技术方案，便于依照说明书的内容予以实施，既不是最佳实施方式，也不用于限制本专利申请的权利要求。
对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型启发下，遵循本实用新型精神和原则所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。