一种温度控制器检验系统的制作方法

本实用新型属于电力产品测试领域，尤其是涉及一种温度控制器检验系统。

背景技术：

温度控制器主要由感温元件双金属片组成，在普通的检验测试方法中，存在无法准确检验温度控制器性能且易损坏器件的风险。普通的检验测试方法有几点不足：

1、易损坏器件，降低其控制精度

手动调节测试易使内部双金属片发生形变，改变其精确度，影响温度控制器动作性能。

2、测试数据准确度不高

实际应用中温度控制器的通断状态是根据温度变化而变化。而旋转表盘，使用万用表检测其接通/断开状态，仅能粗略测出其动作值，测试数据准确度较低。

3、检验测试效率较低

普通的方法每次仅能对一个温度控制器进行检验测试，测试效率较低。

4、不便于观察与记录

普通方法需手动检测与记录实验数据，不便于数据的统计与分析。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明旨在提出一种温度控制器检验方法，以提供一种能够准确检测温度控制器性能、检测效率高、方便观察和记录，并能避免温度控制器元器件损坏的温度控制器检验方法。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种温度控制器检验方法，包括恒温恒湿箱、温度控制器、继电器、数据处理器、PC机和温度传感器，所述温度控制器与所述继电器串联组成温度测试电路，所述继电器和所述温度传感器信号连接至所述数据处理器，所述数据处理器信号连接至所述PC机，其具体步骤如下：

步骤一：将所述温度控制器和所述温度传感器均安装在所述恒温恒湿箱内，并改变所述恒温恒湿箱内的温度来模拟现场温度变化；

步骤二：所述数据处理器采集所述温度传感器的数据，同时根据所述继电器反馈点的动作状态判断所述温度控制器的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机显示；

步骤三：所述数据处理器可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。

相对于现有技术，本发明所述的温度控制器检验方法具有以下优势：

(1)本发明所述的温度控制器检验方法，能够同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率。

(2)本发明所述的温度控制器检验方法，将温度控制器放在恒温恒湿箱内，能够有效避免在检验测试过程中对产品造成损坏。

(3)本发明所述的温度控制器检验方法，数据处理器将数据处理后通过PC机显示，PC机可直接对实验数据进行记录与分析，工作人员可直观查看工作状态与数据，目视化强，智能化程度高，更加人性化。

(4)本发明所述的温度控制器检验方法，数据处理器根据继电器反馈点的动作状态判断温度控制器的动作情况，能够准确检测温度控制器的动作情况，提高测试数据的准确度。

本实用新型的另一目的在于提出一种温度控制器检验系统，以一种能够有准确检测温度控制器性能、检测效率高、方便观察和记录，并能避免温度控制器元器件损坏的温度控制器检验系统。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种温度控制器检验系统，包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路，温度控制器S1的一端连接至端子排X1，另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2，温度控制器S2与继电器K2的线圈串联后组成第二温度测试电路，所述第二温度测试电路与所述第一温度测试电路并联，所述端子排X2、所述端子排X1分别经断路器Q1连接至电源的L极、N极，所述继电器K1的常开触点、所述继电器K2的常开触点分别连接至所述数据处理器U1的引脚1、引脚2、引脚3和引脚4，温度传感器B1、温度传感器B2分别连接至所述数据处理器U1的引脚A、引脚B、引脚C和引脚D，所述数据处理器U1将采集到的数据处理后通过所述PC机显示，所述温度控制器S1、所述温度控制器S2、所述温度传感器B1和所述温度传感器B2均安装在所述恒温恒湿箱内。

进一步的，所述温度控制器S1包括热电偶和双金属片，所述热电偶安装在所述双金属片附近。

进一步的，所述数据处理器U1的CPU型号为XS128系列。

进一步的，所述温度测试电路至少为2组。

进一步的，所述PC机为电脑。

进一步的，所述温度传感器S1为非接触式温度传感器。

所述温度控制器检验方法与上述温度控制器检验系统相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的温度控制器检验方法的原理框图；

图2为本实用新型实施例所述的温度控制器检验数据；

图3为本实用新型实施例所述的温度控制器检验系统的电路图一；

图4为本实用新型实施例所述的温度控制器检验系统的电路图二。

附图标记说明：

1-恒温恒湿箱；2-温度控制器；3-继电器；4-数据处理器；5-PC机；6-温度传感器。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

一种温度控制器检验方法，如图1所示，包括恒温恒湿箱1、温度控制器2、继电器3、数据处理器4、PC机5和温度传感器6，所述温度控制器2与所述继电器3串联组成温度测试电路，所述继电器3和所述温度传感器6信号连接至所述数据处理器4，所述数据处理器4信号连接至所述PC机5，

其具体步骤如下：

步骤一：将所述温度控制器2和所述温度传感器6均安装在所述恒温恒湿箱1内，并改变所述恒温恒湿箱2内的温度来模拟现场温度变化；

步骤二：所述数据处理器4采集所述温度传感器6的数据，同时根据所述继电器3反馈点的动作状态判断所述温度控制器2的动作情况，并将数据处理后通过所述PC机5显示；

步骤三：所述数据处理器4可对多组并联的所述温度测试电路进行采集。

一种温度控制器检验系统，如图2至图4所示，包括恒温恒湿箱、断路器、数据处理器、温度传感器、PC机和多组并联的温度测试电路，同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率，温度控制器S1的一端连接至端子排X1，另一端与继电器K1的线圈串联组成第一温度测试电路后连接至端子排X2，温度控制器S2与继电器K2的线圈串联后组成第二温度测试电路，温度控制器S3与继电器K3的线圈串联后组成第三温度测试电路，温度控制器S4与继电器K4的线圈串联后组成第四温度测试电路，所述第二温度测试电路、所述第三温度测试电路、所述第四温度测试电路与所述第一温度测试电路并联，所述端子排X2、所述端子排X1分别经断路器Q1连接至电源的L极、N极，所述继电器K1的常开触点连接至所述数据处理器U1的引脚1和引脚2,所述继电器K2的常开触点连接至所述数据处理器U1的引脚3和引脚4，所述继电器K3的常开触点连接至所述数据处理器U1的引脚5和引脚6，所述继电器K4的常开触点连接至所述数据处理器U1的引脚7和引脚8，温度传感器B1连接至所述数据处理器U1的引脚A和引脚B，温度传感器B2连接至所述数据处理器U1的引脚C和引脚D，温度传感器B3连接至所述数据处理器U1的引脚E和引脚F，温度传感器B4连接至所述数据处理器U1的引脚G和引脚H，所述数据处理器U1将采集到的数据处理后通过所述PC机显示，通过数据处理系统，可直接对实验数据进行记录与分析(实验数据如图2所示)；

所述温度控制器S1、所述温度控制器S2、所述温度控制器S3、所述温度控制器S4、所述温度传感器B1、所述温度传感器B2、所述温度传感器B3和所述温度传感器B4均安装在所述恒温恒湿箱内，通过改变恒温恒湿箱内温度模拟现场温度变化，能够有效避免在检验测试过程中对产品造成损坏，同时能够准确检测温度控制器的动作情况，提高测试数据的准确度。

所述温度控制器S1包括热电偶和双金属片，所述热电偶安装在所述双金属片附近，能够准确检测温度控制器S1的动作情况，提高测试数据的准确度。

所述数据处理器U1的CPU型号为XS128系列。

所述温度测试电路至少为2组，同时对多组产品进行测试，提高检验测试效率。

所述PC机为电脑，处理后的数据以图表方式在PC端显示，可直接观察工作状态，目视化强。

所述温度传感器S1为非接触式温度传感器，测量上限不受感温元件耐温程度的限制，因而对最高可测温度原则上没有限制，分辨率很高。

一种温度控制器检验系统的工作原理为：

在第一温度测试电路中温度控制器S1与继电器K1的线圈串联，当外部温度变化达到温度控制器S1动作值时，第一温度测试电路由断路变成通路(触点101和触点102闭合)，继电器K1的线圈得电后，其辅助触点动作(K1:13、K1:14闭合)，数据处理器U1检测到温度测试电路的信号，同时将采集到的温度传感器的信号进行处理，然后通过通讯在PC机上显示。第二温度测试电路、第三温度测试电路、第四温度测试电路与第一温度测试电路的工作原理相同，在此不再赘述。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。