光电元件测试系统的制作方法

本实用新型涉及光电元件技术领域，特别涉及一种光电元件测试系统。

背景技术：

光电元件用于实现光电转换作用，在使用前需要对其进行对应的性能测试，例如暗电流、响应度等，常规的测试方法是采用测试板对单个光电元件进行测试，测试完毕后，将光电元件从插座中拔出，并换上下一个待测的光电元件，采用这种方法测试多个光电元件时需要进行多次光电元件插拔的动作，增加了测试人员的工作量，工作效率低。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的是提供一种光电元件测试系统，旨在提高光电元件的测试效率。

为实现上述目的，本实用新型提出的一种光电元件测试系统，该光电元件测试系统包括系统背板、被测件安装板及直流测试板；所述系统背板设置有第一接口及第二接口，所述被测件安装板通过所述第一接口与所述系统背板连接，所述直流测试板通过所述第二接口与所述系统背板连接，所述第一接口与所述第二接口电性连接；

所述被测件安装板上设置多个供待测光电元件插接的光电插座，多个所述光电插座分别与所述第一接口电性连接；

所述直流测试板上设置有测试电路，所述测试电路用于对多个所述光电插座上的待测光电元件上电并进行逐个测试。

优选地，所述被测件安装板上还设置有第三接口，所述光电插座通过测试线与第三接口连接，所述第三接口与所述第一接口插接安装；

所述直流测试板上还设置有第四接口，所述测试电路通过测试线与第四接口连接，所述第四接口与第二接口插接安装。

优选地，所述直流测试板根据与所述光电元件的测试功能分为光接收测试板、光发射测试板；所述直流测试板上设有多组不同测试功能的测试电路。

优选地，所述测试电路还用于在所述光电元件上电时，输出触发信号至一所述光电插座，并接收所述光电插座的反馈信号确定所述光电插座上安装有待测光电元件时，输出检测信号进行测试，当确定所述光电插座上未安装有待测光电元件时，执行检测另一光电插座的操作。

优选地，所述光电插座有多个插孔，用于将光电元件的管脚对应插入光电插座特定的插孔中；所述测试电路根据所述光电元件的管脚识别所述光电元件的类型，并根据所述光电元件的类型运行与其匹配的测试电路进行逐个测试。

优选地，所述测试电路还与上位机连接，所述测试电路在检测多个所述光电元件时将获取的各测试参数进行存储，并将所述测试参数反馈至所述上位机。

优选地，所述光电元件测试系统还包括老化测试系统，所述老化测试系统与所述系统背板的第二接口连接以对多个所述光电元件进行老化测试。

本实用新型技术方案通过将多个光电元件对应安装在被测件安装板的多个光电插座上，并通过测试线和系统背板与直流测试板连接，在直流测试板上设置测试电路，测试电路对每一光电元件依次进行性能测试直至最后一个所述光电元件，被测件安装板上可同时安装多个光电元件，测试电路可对多个光电元件进行逐一测试，从而不需要进行多次光电元件插拔的动作，并且避免了在不同的测试条件下需重复插拔光电元件造成的损坏，减少了测试人员的工作量，从而提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本实用新型光电元件测试系统一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型光电元件测试系统一实施例中的测试电路的模块示意图；

图3为本实用新型光电元件测试系统一实施例的结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。

本实用新型提出一种光电元件测试系统，旨在提高光电元件的测试效率。

如图1所示，图1为本实用新型光电元件测试系统一实施例的结构示意图，光电元件测试系统包括系统背板100、被测件安装板200及直流测试板300；所述系统背板100设置有第一接口110及第二接口120，所述被测件安装板200通过所述第一接口110与所述系统背板100连接，所述直流测试板300通过所述第二接口120与所述系统背板100连接，所述第一接口110与所述第二接口120电性连接；

所述被测件安装板200上设置多个供待测光电元件插接的光电插座D1，多个所述光电插座D1分别与所述第一接口110电性连接；

所述直流测试板上300设置有测试电路310，所述测试电路310用于对多个光电插座D1上的待测光电元件上电并进行逐个测试。

本实施例中，被测件安装板200设有多个光电插座D1，每个光电插座D1设有多个插孔，光电元件的多个管脚分别插入光电插座D1特定的插孔中。

本实施例中，光电元件为光电二极管，在另一实施例中，光电元件可焊接在小型PCB板上，并在外部设置外壳及光口以封装成光接收组件、光发射组件或者光收发一体组件，直流测试板300根据与被测光电元件的测试功能分为光接收测试板或者光发射测试板，当需要测试光电元件的光接收性能时，所述被测件安装板200通过所述第一接口110与所述系统背板100连接，所述直流测试板300是光接收测试板，通过所述第二接口120与所述系统背板100连接，所述第一接口110与所述第二接口120电性连接。同理，当需要测试待测光电元件的光发射性能时，所述直流测试板300是光发射测试板，拆下光接收测试板，将光发射测试板通过所述第二接口120与所述系统背板100连接。

光电元件插接在光电插座D1上，光电插座D1的每一插孔通过一测试线与系统背板100的第一接口110连接，直流测试板300上的测试电路310通过测试线与系统背板100的第二接口120连接，第一接口110及第二接口120可为导轨式电源端口或者其他接口，同时第一接口110及第二接口120之间可通过测试线、电路铜箔引线或者插针连接，具体可根据实际情况进行设计。

如图2所示，图2为本实用新型光电元件测试系统一实施例中的测试电路310的模块示意图，直流测试板300上设置有测试电路310，测试电路310包括控制单元311、多个测试子电路313及继电器312，控制单元311可为MCU，多个测试子电路313的信号输出端与继电器312的信号输入端连接，继电器312的信号输出端通过系统背板100与多个光电插座D1连接，继电器312的受控端、多个测试子电路313的受控端均与控制单元311的控制端连接，多个测试子电路313分别输出不同测试信号用于对光电元件进行性能测试，控制单元311输出控制信号至多个测试子电路313以对光电元件的不同性能，例如暗电流和响应度等进行逐一测试，控制单元311在检测完一个光电元件后输出控制信号至继电器312选择下一个光电元件，从而可实现多个光电元件的性能测试，减少光电元件插拔动作，提高了测试效率。

测试子电路313可根据光电元件的类型分别设置多组，每一直流测试板300上设置不同的测试电路310，或者在同一直流测试板300上同时设置多个测试子电路313以对不同类型的光电元件进行测试，从而提高测试的兼容性。

本实用新型的一实施例中，直流测试板300为光接收测试板，光电元件为光接收组件，例如雪崩光电二极管、PIN-RSSI(带镜像电流输出的光电二极管)以及PIN-VPD(普通光电二极管)等。直流测试板300同时设置用于提供PIN组件偏压的VPD电压源、用于VBR测量的高压电流源、用于提供VCC电压的VCC电压源、用于VP/VN等测试的模数转换电路、用于ICC检测的电流检测电路等，可同时实现对雪崩光电二极管、PIN-RSSI(带镜像电流输出的光电二极管)以及PIN-VPD(普通光电二极管)不同类型的光电二极管进行测试。

本实用新型技术方案通过将多个光电元件对应安装在被测件安装板200的多个光电插座D1上，并通过测试线和系统背板100与直流测试板300连接，在直流测试板300上设置测试电路310，测试电路310对每一光电元件逐一进行性能测试直至最后一个所述光电元件。被测件安装板200上可同时安装多个光电元件，从而对光电元件进行测试时不需要进行多次光电元件插拔的动作，减少了测试人员的工作量，从而提高了测试效率。

本实施例中，被测件安装板200设有64个光电插座D1，每个光电插座D1设有3个插孔，光电元件的2个或3个管脚分别插入光电插座D1特定的3个插孔中，每个插孔均通过测试线和系统背板100与直流测试板300连接。进一步地，被测件安装板200上还可安装第三接口(图未示出)，光电插座D1通过测试线与第三接口连接，第三接口与第一接口110插接安装，对应地，直流测试板300上可安装第四接口(图未示出)，测试电路310通过测试线与第四接口连接，第四接口与第二接口120插接安装，从而避免测试线过多造成线路复杂以及安装不便的问题，方便被测件安装板200、系统背板100及直流测试板300的连接，以提高测试效率。

进一步地，所述测试电路310还用于在所述光电元件上电时，识别所述光电元件的类型并对应输出匹配的测试信号。

本实施例中，测试电路310通过继电器312选择待测的光电元件并开始工作时，控制单元311还输出检测信号至对应的光电元件，根据光电元件反馈信号确定所述光电元件的类型，并运行与该类型光电元件匹配的测试子电路313。例如，被测安装板200预设有光电元件管脚定义，根据管脚的类型识别所述光电元件为雪崩二极管时，因雪崩二极管是一个光接收组件，直流测试板300运行与雪崩二极管接收性能测试匹配的测试子电路313。具体地，控制单元311控制测试子电路313中的高压电流源输出60V电压至雪崩二极管的VAPD管脚进行VBR电压测试，并将测得的VBR电压值存储在控制单元311中，在测试完VBR电压后再进行暗电流测试以及响应度测试等，在测试完当前光电元件后对下一个光电元件同样进行类型的确认，从而可实现在一块被测件安装板200上对不同类型的光电元件进行测试，提高了光电元件测试系统的兼容性。

进一步地，所述测试电路310还用于在接收到测试指令时，输出触发信号至一所述光电插座D1，并接收所述光电插座D1的反馈信号确定所述光电插座D1上安装有待测光电元件时，输出检测信号进行测试，当确定所述光电插座D1上未安装有待测光电元件时，执行检测另一光电插座D1的操作。

可以理解的是，在进行光电元件测试时，存在被测件安装板200的光电插座D1上未安装光电元件的可能，因此，为了减少光电元件测试工作量，在测试电路310开始对光电元件进行性能测试之前还输出触发信号至对应的光电元件，以判断光电插座D1上是否插接有光电元件，当接收到反馈信号时确定光电插座D1上安装有光电元件时输出测试信号进行性能检测，当未接收到反馈信号时判断该光电插座D1上无光电元件，此时控制单元311可控制继电器312选择下一个光电元件进行性能测试，从而减少测试工作量，提高测试效率。

进一步地，所述测试电路310还与上位机(图未示出)连接，所述测试电路310在检测多个所述光电元件时将各测试参数进行存储，并在多个所述光电元件测试完毕后将各测试参数反馈至所述上位机。

需要说明的是，测试电路310在对每一光电元件测试后均将对应的测试参数存储在控制单元311中，控制单元311可通过485总线与上位机连接，控制单元311将各光电元件的测试参数分组处理后输出至上位机，从而可在上位机中进行测试参数的显示查看，从而可实现对光电元件的筛选。

进一步地，如图3所示，图3为本实用新型光电元件测试系统一实施例的结构示意图，所述光电元件测试系统还包括老化测试系统400，所述老化测试系统400与所述系统背板100的第二接口120连接，被测件安装板200与所述系统背板100的第一接口110连接，以对多个所述光电元件进行老化测试，此时对光电元件进行性能测试后，无需将光电元件从被测件安装板200拔出，即可进行老化测试。同理，本实用新型光电元件测试系统对光电元件进行老化测试后，无需将光电元件从被测件安装板200拔出，即可进行性能测试，不仅避免了重复插拔光电元件造成的损坏，也省去了重复插拔光电元件的时间，提高了测试效率。

本实施例中，在光电元件安装在被测件安装板200上后，在进行性能测试前后均可与老化测试系统400连接，老化测试系统400包括老化负载，例如电阻，从而实现光电元件的老化测试，从而提高系统背板100的兼容性。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。