一种改良的COC老化测试设备的制作方法

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体为一种改良的COC老化测试设备。

背景技术：

老化试验主要是指针对橡胶、塑料产品、电子芯片及其他材料进行的热氧老化试验，或者针对电子零配件、塑化产品的换气老化试验，其中COC芯片的高低温老化测试，能测试出它处在高低温环境中的工作性能，让厂家根据其测试结果来调试改进芯片，使其成熟稳定，然而在进行高低温测试结束时，需等待一段时间，让设备内部温度趋于正常时，才进行拿取，这样浪费了等待时间，影响后续芯片的测试工作，严重影响了工作效率，鉴于此，我们提出一种改良的COC老化测试设备。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种改良的COC老化测试设备，以解决上述背景技术中提出的在老化测试设备测试完，需等待才取拿芯片，严重影响后续芯片测试工作问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种改良的COC老化测试设备，包括箱体，所述箱体的上方设有功能区，所述功能区的一侧设有测试区，所述测试区的下方设有备用区，所述备用区内部的上方设有隔板，所述隔板的一侧设有拉门，所述拉门一侧的两端连接有翻转箱，所述翻转箱之间设置有方盒；所述隔板的中心处开设有方孔，所述方孔的内部卡接有平台，所述隔板的前端嵌设有若干磁铁，所述隔板的底面开设有方槽，所述方槽的一侧且位于所述方孔的内侧开设有转孔，所述翻转箱的顶端开设有齿轮腔，所述齿轮腔的内部设置有齿轮，所述翻转箱的一侧且靠近底端处开设有齿条口，所述齿条口的一侧设置有齿条，所述齿条的一端焊接有连接头。

优选的，所述隔板焊接于所述测试区与所述备用区之间，所述翻转箱通过螺钉固定于所述备用区的两侧，所述方盒位于所述平台的正下方。

优选的，所述平台的两侧中心处焊接有卡柱，所述卡柱的外端设有齿槽，所述转孔与所述方槽和所述方孔均相连通，所述卡柱与所述转孔插接配合，所述齿槽与所述齿轮啮合。

优选的，所述拉门与所述隔板通过磁铁磁性连接，所述拉门的一侧且靠近底端处焊接有连接块，所述连接块与所述连接头铰接。

优选的，所述齿轮通过轴与所述齿轮腔连接，所述齿轮腔与所述齿条口相连通，所述齿轮与所述齿条啮合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该改良的COC老化测试设备，拉动拉门带动齿条移动，使齿轮向后转动，从而带动与之啮合的平台向下翻转，置于其上的芯片便滑入方盒中，此方式操作简单便捷，维持了测试区内的温度，节省了用电成本，且工作的连续性极好，从而大大的提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型中的A放大结构示意图；

图3为本实用新型中的隔板结构示意图；

图4为本实用新型中的平台结构示意图；

图5为本实用新型中的拉门结构示意图；

图6为本实用新型中的翻转箱结构示意图。

图中：1、箱体；2、功能区；3、测试区；4、备用区；5、隔板；50、方孔；51、平台；510、卡柱；511、齿槽；52、磁铁；53、方槽；530、转孔；6、拉门；60、连接块；7、翻转箱；70、齿轮腔；71、齿轮；72、齿条口；73、齿条；730、连接头；8、方盒。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：

一种改良的COC老化测试设备，如图1、图2和图5所示，包括箱体1，箱体1的上方设有功能区2，功能区2的一侧设有测试区3，测试区3的下方设有备用区4，备用区4内部的上方设有隔板5，隔板5的一侧设有拉门6，拉门6一侧的两端连接有翻转箱7，翻转箱7之间设置有方盒8。

具体的，隔板5焊接于测试区3与备用区4之间，翻转箱7通过螺钉固定于备用区4的两侧，方盒8位于平台51的正下方。

进一步的，拉门6与隔板5通过磁铁52磁性连接，便于拉门6的开和关，拉门6的一侧且靠近底端处焊接有连接块60，连接块60与连接头730铰接，实现拉门6的转动和拉门6带动齿条73运动。

在具体实施中，由于COC芯片使用性能要求高，所以需对其进行老化测试，及时掌握其性能优劣，为了在高低温老化测试中，既维持设备内部温度，又不影响及时取物，本发明人对隔板5和翻转箱7作出改进，作为一种优选实施例，如图3、图4和图6所示，隔板5的中心处开设有方孔50，方孔50的内部卡接有平台51，隔板5的前端嵌设有若干磁铁52，隔板5的底面开设有方槽53，方槽53的一侧且位于方孔50的内侧开设有转孔530，翻转箱7的顶端开设有齿轮腔70，齿轮腔70的内部设置有齿轮71，翻转箱7的一侧且靠近底端处开设有齿条口72，齿条口72的一侧设置有齿条73，齿条73的一端焊接有连接头730。

具体的，平台51的两侧中心处焊接有卡柱510，卡柱510的外端设有齿槽511，转孔530与方槽53和方孔50均相连通，卡柱510与转孔530插接配合，齿槽511与齿轮71啮合，当齿轮71转动时便通过与齿槽511啮合而带动卡柱510，即带动平台51转动。

进一步的，齿轮71通过轴与齿轮腔70连接，使齿轮71得以悬空转动，齿轮腔70与齿条口72相连通，齿轮71与齿条73啮合，通过移动齿条73而拉动齿轮71转动。

本实施例的改良的COC老化测试设备在取芯片时，拉开拉门6并向自己的方向拉动，使其拉动齿条73顺着齿条口72运动，从而带动与之啮合的齿轮71向里转动，同时带动与之啮合的齿槽511转动，即使平台51的前端向下转动，平台51上的芯片便慢慢滑入方盒8中，便可取出，当向前推动拉门6时，齿条73便顺着齿条口72进入齿轮腔70中，同时带动齿轮71和齿槽511转动，进而使平台复位，当齿条73全身进入齿轮腔70内时，向上翻转拉门6，使之与磁铁52吸合关闭；本实用新型在拿取COC芯片时，无需等待设备内部温度降低，即可取出，加快了后续测试工作的进行，大大提高了工作效率。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。