用于电子装置的平整度检测治具的制作方法

本实用新型涉及电子装置的检测技术领域，尤其是涉及一种用于电子装置的平整度检测治具。

背景技术：

电子装置例如手机常常因为手机上盖变形导致屏内团类不良，因此需要检测上盖的平整度。相关技术中，主要是通过操作人员目视检测上盖的平整度，由于操作人员在检测时，没有参照物，只能靠感觉判断平整度是否有问题，很容易漏检。

技术实现要素：

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种用于电子装置的平整度检测治具，所述平整度检测治具结构简单且便于检测上盖的平整度。

根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具，所述电子装置包括上盖和显示屏，所述上盖上具有与显示屏连接的连接平面，所述平整度检测治具用于检测所述连接平面的平整度，所述平整度检测治具包括：测量部，所述测量部具有相邻的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面具有相交直线M，在所述相交直线M至所述第一表面或所述第二表面的远离所述相交直线M的一端的方向上，所述第一表面和所述第二表面之间的距离逐渐增大，当测量所述连接平面的平整度时，所述相交直线M与所述连接平面接触；及握持部，所述握持部连接在所述测量部远离所述相交直线M的一端。

根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具，测量部上具有相邻的第一表面和第二表面，第一表面和第二表面具有相交直线M，在相交直线M至第一表面或第二表面远离相交直线M的一端的方向上，使第一表面和第二表面之间的距离逐渐增大。在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面接触，可以通过观察相交直线M与连接平面之间的缝隙判定连接平面的平整度。另外，握持部连接在测量部远离相交直线M的一端，便于操作人员操作。此外，上述平整度检测治具结构简单，检测结果准确性高。

根据本实用新型的一些实施例，所述测量部形成为长条形，所述第一表面和所述第二表面均沿所述测量部的长度方向延伸。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一表面和所述第二表面中的至少一个为平面或曲面。

根据本实用新型的一些实施例，所述测量部的横截面大体形成为三角形，所述第一表面和所述第二表面之间具有第三表面，所述握持部与所述第三表面连接。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部沿所述测量部的长度方向延伸。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部长度方向的两端分别与所述测量部长度方向的两端平齐。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部宽度方向的两侧中的至少一侧设有凹槽，所述凹槽的底壁与侧壁为均为曲面，且所述凹槽的底壁与所述凹槽的侧壁圆滑过渡。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部的长度方向的两端中的至少一端的远离所述测量部的一端具有缺口。

在本实用新型的一些实施例中，所述握持部形成为长方体状。

根据本实用新型的一些实施例，所述握持部与所述测量部为一体成型件。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具的主视图；

图2是根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具的侧视图；

图3是根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具的仰视图。

附图标记：

平整度检测治具100，

测量部1，第一表面11，第二表面12，第三表面13，

握持部2，缺口21。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

下面参考图1-图3描述根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具100。其中，电子装置包括上盖和显示屏，上盖上具有用于连接显示屏的连接平面，平整度检测治具100用于检测连接平面的平整度以防止显示屏发生鼓包等现象，从而避免显示屏上出现白团等。

如图1-图3所示，根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具100，包括测量部1和握持部2。

具体而言，如图1-图3所示，测量部1具有相邻的第一表面11和第二表面12，第一表面11和第二表面12具有相交直线M，即第一表面11和第二表面12之间形成的棱线。在相交直线M至第一表面11或第二表面12的远离相交直线M的一端的方向上，第一表面11和第二表面12之间的距离逐渐增大。由此可以使得相交直线M凸出于第一表面11和第二表面12组成的表面上。当测量连接平面的平整度时，相交直线M与连接平面接触。

具体的，在测量连接平面的平整度时，可以使相交直线M与连接平面接触，并且移动测量部1以使相交直线M与连接平面的不同位置接触，观察相交直线M与连接平面之间是否有缝隙，从而判定连接平面是否平整，且判定结果准确性高。

如图1和图2所示，握持部2连接在测量部1远离相交直线M的一端。由此操作人员在测量连接平面的平整度时，可以握持在握持部2上，便于操作人员操作。另外，握持部2连接在测量部1的远离相交直线M的一端，可以避免握持部2影响操作人员观察相交直线M与连接平面之间的是否有缝隙，便于操作人员使用。

根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度测量治具，测量部1上具有相邻的第一表面11和第二表面12，第一表面11和第二表面12具有相交直线M，在相交直线M至第一表面11或第二表面12远离相交直线M的一端的方向上，使第一表面11和第二表面12之间的距离逐渐增大。在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面接触，可以通过观察相交直线M与连接平面之间的缝隙判定连接平面的平整度，提高了检出率，降低不良品漏检的风险。另外，握持部2连接在测量部1远离相交直线M的一端，便于操作人员操作。此外，上述平整度检测治具100结构简单，检测结果准确性高。

在本实用新型的一些实施例中，如图1和图3所示，测量部1形成为长条形，第一表面11和第二表面12均沿测量部1的长度方向延伸。由此可以使得第一表面11和第二表面12的相交直线M沿测量部1的长度方向延伸，增加平整度检测治具100一次测量的测量长度，提高平整度检测治具100的测量效率，并且可以提高平整度检测治具100的测量结果的准确性。

其中，测量部1的长度可以根据电子装置的连接平面的长度和宽度进行相应的设置。例如，当测量连接平面在宽度方向上是否平整时，可以使测量部1的长度与连接平面的宽度大体相同，在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面的宽度方向平行，并沿着连接平面的长度方向移动平整度检测治具100以在长度方向的不同位置测量宽度方向的平整度。

再如，当测量连接平面在长度方向上是否平整时，可以使测量部1的长度与连接平面的长度大体相同，在测量连接平面的平整度时，使相交直线M与连接平面的长度方向平行，并沿着连接平面的宽度方向移动平整度检测治具100以在宽度方向的不同位置测量长度方向的平整度。

当然，本实用新型不限于此，相交直线M还可以分别与连接平面的长度方向和宽度方向成一定角度移动。

在本实用新型的一些实施例中，第一表面11和第二表面12中的至少一个为平面或曲面。也就是说，第一表面11和第二表面12中的一个可以为平面，另一个为曲面，或者第一表面11和第二表面12均为平面，或者第一表面11和第二表面12均为曲面。由此可以增加测量部1的结构的多样性。例如在图2所示的示例中，第一表面11和第二表面12均为平面。

在本实用新型的一些实施例中，如图2所示，测量部1的横截面大体形成为三角形，第一表面11和第二表面12之间具有第三表面13，握持部2与第三表面13连接。由此，不但可以简化测量部1的结构及加工工艺，提高生产效率，而且还便于操作人员观察相交直线M与连接平面之间的缝隙，从而便于操作人员判定连接平面的平整度。

在本实用新型的一些实施例中，如图1所示，握持部2沿测量部1的长度方向延伸。一方面，握持部2可以增强测量部1的结构强度，另一方面，握持部2加长，便于操作人员握持，从而便于操作人员测量连接平面的平整度。

进一步地，如图1所示，握持部2长度方向的两端分别与测量部1长度方向的两端平齐。由此可以最大限度的增强测量部1的结构强度，并且还可以增强平整度检测治具100的外观效果。另外，握持部2长度方向的两端分别与测量部1长度方向的两端平齐，还可以避免握持部2过短而不便于操作人员握持，握持部2过长可能会导致测量过程中握持部2与电子装置上的其他部件发生干涉。

可选地，握持部2宽度方向的两侧中的至少一侧设有凹槽。由此操作人员在握持握持部2时，可以将手指放入凹槽内，避免手与握持部2之间发生打滑的现象，便于操作人员操作，提高操作人员的测量效率。另外，凹槽的底壁与侧壁为均为曲面，且凹槽的底壁与凹槽的侧壁圆滑过渡，可以避免操作人员在测量过程中手部受伤。

当然，本实用新型不限于此，握持部2宽度方向的两侧中的至少一侧可以设有多个间隔开的凸起以增加操作人员的手与握持部2之间的摩擦力。

在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的一些实施例中，如图1所示，握持部2的长度方向的两端中的至少一端的远离测量部1的一端具有缺口21。由此操作人员在握持握持部2时，可以避免握持部2干涉操作人员操作，便于操作人员测量连接平面的平整度。例如，在图1所示的示例中，握持部2的长度方向的两端中的一端的远离测量部1的一端具有缺口21。当操作人员握持握持部2时，缺口21可以位于操作人员的掌心位置。

可选地，握持部2形成为长方体状。由此可以简化握持部2的结构及加工工艺，提高生产效率。当然，本实用新型不限于此，握持部2还可以形成为圆柱状。

在本实用新型的一些实施例中，握持部2与测量部1为一体成型件。由此可以省略握持部2和测量部1之间的装配工序，提高生产效率。可选地，平整度检测治具100可以为钢件。

下面参考图1-图3描述根据本实用新型一个具体实施例的用于电子装置的平整度检测治具100，值得理解的是，下述描述只是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

电子装置包括上盖和显示屏，上盖上具有与显示屏连接的连接平面，平整度检测治具100用于检测连接平面的平整度。

如图1-图3所示，根据本实用新型实施例的用于电子装置的平整度检测治具100，包括测量部1和握持部2。

具体的，测量部1的横截面大体形成为三角形，测量部1形成为长条形，测量部1具有相邻的第一表面11和第二表面12，第一表面11和第二表面12均沿测量部1的长度方向延伸，第一表面11和第二表面12具有相交直线M，即第一表面11和第二表面12之间形成的棱线。在相交直线M至第一表面11或第二表面12的远离相交直线M的一端的方向上，第一表面11和第二表面12之间的距离逐渐增大。当测量连接平面的平整度时，相交直线M与连接平面接触，观察相交直线M与连接平面之间是否有缝隙，从而判定连接平面是否平整，且判定结果准确性高。其中，第一表面11和第二表面12均为平面。

如图1和图2所示，第一表面11和第二表面12之间具有第三表面13，握持部2与第三表面13连接。由此操作人员在测量连接平面的平整度时，可以握持在握持部2上，便于操作人员操作。进一步地，握持部2形成为长方体状，握持部2沿测量部1的长度方向延伸，且握持部2长度方向的两端分别与测量部1长度方向的两端平齐。握持部2的长度方向的两端中的一端的远离测量部1的一端具有缺口21。当操作人员握持握持部2时，缺口21可以位于操作人员的掌心位置。

进一步地，握持部2与测量部1为一体成型件。可选地，平整度检测治具100可以为钢件。

在检测电子装置的上盖的连接平面的平整度时，用一只手将上盖拿起将连接显示屏的方向朝向正面，将相交直线M从上盖上方一直滑向下方，然后从左方滑向右方，眼睛跟随平整度检测治具100滑动观察是否有明显缝隙，可以将不良品拦截出来，提高了检出率，降低不良品漏检的风险。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。