1.一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，包括FPGA芯片、拨码开关、电平转换电路和DB15公头；
所述拨码开关、电平转换电路与FPGA芯片连接，DB15公头与电平转换电路连接；拨码开关用于选择FPGA芯片I/O信号的频率和脉宽，并产生电平控制信号，电平转换电路实现电平转换，DB15公头为对外通信接口。
2.根据权利要求1所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，电平转换电路实现3.3V、5V、12V和24V电平选择。
3.根据权利要求2所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，电平转换电路包括光耦、次级电路和继电器，I/O信号通过光耦传输至次级电路，电平控制信号通过继电器选择3.3V、5V、12V或24V接入次级电路的集电极端。
4.根据权利要求1、2或3所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，所述FPGA芯片为EP2C35F672I8。
5.根据权利要求1、2或3所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，外部33MHz的频率在FPGA内分成500Hz、1KHz、2KHz、4KHz、8KHz、1MHz，占空比30％、50％和70％可选，通过拨码开关控制频率的占空比、频率值的输出。
6.根据权利要求1所述的基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，其特征在于，DB15公头与待测试设备I/O调试线缆DB15母头遵循相同的信号定义。