技术总结
本实用新型公开了一种基于FPGA芯片的通用I/O测试装置，包括FPGA芯片、拨码开关、电平转换电路、DB15公头；所述拨码开关、电平转换电路与FPGA芯片连接，DB15公头与电平转换电路连接；拨码开关用于选择FPGA芯片I/O信号的频率和脉宽，并产生电平控制信号，电平转换电路实现电平转换，DB15公头为对外通信接口。本实用新型可适用更广泛的I/O信号测试，成本较低，可同时进行多通道的I/O测试，提高I/O测试效率。
技术研发人员：吴彬;王永超;张兴堂;夏朋浩;张吉远;孙成宽;王文俊
受保护的技术使用者：中国船舶重工集团公司第七一六研究所
技术研发日：2018.11.20
技术公布日：2019.08.13