1.一种基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述声波探测器包括：衬底和多个折射部，多个所述折射部周期设置在所述衬底的一侧；
每个所述折射部均分别包括：第一金属层、半导体层和第二金属层，所述第一金属层靠近所述衬底设置，所述半导体层设置在所述第一金属层远离所述衬底的一侧，所述第二金属层设置在所述半导体层远离所述第一金属层的一侧，所述半导体层的材料为声光材料。
2.根据权利要求1所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述第一金属层、所述半导体层和所述第二金属层的形状均为圆盘形。
3.根据权利要求2所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述第一金属层、所述半导体层和所述第二金属层的圆心处于同一条直线。
4.根据权利要求2所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述半导体层的直径不小于所述第一金属层和所述第二金属层的直径。
5.根据权利要求1所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述半导体层的材料为二氧化碲。
6.根据权利要求1所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述第一金属层和所述第二金属层的材料均为贵金属。
7.根据权利要求1所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述第一金属层和所述第二金属层的材料为：银、金、钌、铑、钯、锇、铱和铂中任意一种或多种。
8.根据权利要求1所述的基于声光效应的声波探测器，其特征在于，所述衬底的材料为二氧化硅。
9.一种基于声光效应的声波探测系统，其特征在于，所述声波探测系统包括：波长检测装置和权利要求1-8任意一项所述的基于声光效应的声波探测器，所述波长检测装置用于检测所述波长检测装置的共振波长。