芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器与流程

技术总结
本发明一个或多个实施例公开了一种芯片测试方法、装置、处理器芯片及服务器。其中，芯片测试方法，包括：获取自动测试设备ATE向量的源文件，其中，所述源文件包括以预设编译语言创建的文本文件；根据所述源文件生成目标芯片的ATE向量；根据所述ATE向量对所述目标芯片进行ATE上机测试。该方法可缩短芯片测试周期。该方法可缩短芯片测试周期。该方法可缩短芯片测试周期。


技术研发人员：林耀坤
受保护的技术使用者：海光信息技术股份有限公司
技术研发日：2020.10.30
技术公布日：2021/3/5